多光譜TDICCD測試電路設(shè)計與實(shí)現(xiàn).pdf

1、全面評價多光譜TDICCD（Multi-Spectral Time Delay Integration Charge Coupled Device,簡稱為多光譜TDICCD）器件光電性能必須需要多光譜TDICCD測試電路。測試電路的性能，尤其是噪聲水平，會影響CCD器件的參數(shù)指標(biāo)測試結(jié)果，因此需要進(jìn)行測試電路的研制。
　　本論文針對滿足多光譜TDICCD全參數(shù)測試問題，以低噪聲水平測試電路為主要的研究重點(diǎn)，對系統(tǒng)結(jié)構(gòu)方案、電路硬件

2、及軟件設(shè)計、參數(shù)測試方法進(jìn)行了詳盡的討論和研究。主要內(nèi)容為：
　　1．系統(tǒng)結(jié)構(gòu)方案設(shè)計。根據(jù)多光譜TDICCD參數(shù)測試的指標(biāo)要求，從降低功耗、減少電磁干擾，降低噪聲、優(yōu)化系統(tǒng)體積等方面出發(fā)，從硬件及軟件考慮了其參數(shù)、結(jié)構(gòu)、可靠性及適用性，確定了測試電路的結(jié)構(gòu)及實(shí)現(xiàn)方案。
　　2．電路硬件設(shè)計。對測試電路進(jìn)行了硬件需求的分解，將其劃分為CCD芯片、時序邏輯電路、驅(qū)動電路、電平調(diào)節(jié)電路、信號處理電路、數(shù)據(jù)傳輸及采集電路，并分別進(jìn)