新生兒低血糖腦損傷的磁共振表現(xiàn)及其波譜研究.pdf

1、新生兒低血糖是新生兒期較為常見(jiàn)的代謝改變，嚴(yán)重且持續(xù)的低血糖狀態(tài)所可引起中樞神經(jīng)系統(tǒng)損功能紊亂及損傷。以往研究表明，在嚴(yán)重低血糖腦損傷中，頂枕葉受累最為常見(jiàn)，急性期表現(xiàn)為皮層及皮層下水腫，慢性期相應(yīng)部位萎縮及腦室擴(kuò)張等。近年研究表明，低血糖腦病的損傷方式更具多樣性，而對(duì)于低血糖腦病的損傷方式至今仍沒(méi)有得到充分的認(rèn)識(shí)，磁共振波譜利用化學(xué)位移作用原理，能無(wú)創(chuàng)的提供活體狀態(tài)下各代謝化合物信息，研究腦內(nèi)組織代謝及生理生化改變，為進(jìn)一步明確新生兒

2、低血糖腦病的發(fā)病機(jī)制和早期準(zhǔn)確地評(píng)估預(yù)后提供了一種手段和方法。
　　 目的：
　　 探討新生兒低血糖腦損傷的MR特征及其發(fā)病機(jī)制的同時(shí)探討新生兒低血糖患者中1H-MRS表現(xiàn)及其臨床應(yīng)用價(jià)值。
　　 材料與方法：
　　 收集分析34例臨床確診的新生兒低血糖患兒的臨床及MR資料，并對(duì)其中12例患者及10例正常新生兒行磁共振波譜檢查，將兩組間各代謝物相對(duì)濃度進(jìn)行比較，所采用的低血糖診斷標(biāo)準(zhǔn)為血糖值＜2.6 mm

3、ol/L。
　　 結(jié)果：
　　 低血糖腦損傷的主要受累部位為頂枕部，占94.12％(32/34)，其中雙側(cè)頂枕葉61.76％(21/34)。胼胝體壓部損傷亦較為常見(jiàn)，占64.71％(22/34);額葉損傷占32.35％(11/34)，其中有54.54％(6/11)為彌漫性腦損傷累及額葉。腦損傷主要表現(xiàn)為皮髓質(zhì)交界不清，呈稍低T1稍高T2信號(hào)，DWI上病變均呈明顯高信號(hào)。低血糖腦損傷患兒磁共振波譜Lac/Cr, Lip/C