用光譜方法對(duì)復(fù)合灰體目標(biāo)多個(gè)溫度的同時(shí)測(cè)量研究.pdf

1、山東大學(xué)碩士學(xué)位論文用光譜方法對(duì)復(fù)合灰體目標(biāo)多個(gè)溫度的同時(shí)測(cè)量研究姓名：臧永剛申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：光學(xué)工程指導(dǎo)教師：吳繼友2000.4.1第一章引 言測(cè)溫是許多生產(chǎn)過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，測(cè)溫的手段可以分為接觸式測(cè)溫、非接觸式測(cè)溫兩種?。接觸式測(cè)溫的生產(chǎn)工藝比較成熟，性能也較穩(wěn)定，但由于與被測(cè)目標(biāo)直接接觸而容易損壞，頻繁地更換不僅影響生產(chǎn)，而且費(fèi)用昂貴【2 I 。另外，在一些惡劣的環(huán)境和熱平衡條件不易滿足的生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，接觸式測(cè)溫根本無法

2、使用。為了較精確的測(cè)得某些環(huán)境下的目標(biāo)溫度，就必須利用非接觸式測(cè)溫。輻射測(cè)溫是非接觸式測(cè)溫的主要方式，根據(jù)測(cè)溫采用波段的多少它又可分為單色測(cè)溫、比色測(cè)溫、光譜測(cè)溫等。單色測(cè)溫由于需要矯正比輻射率才能求得接近目標(biāo)真溫的溫度，現(xiàn)在出現(xiàn)了一種利用輔助光源( 如激光) 的發(fā)射率來測(cè)定比輻射率的方法，但由于物體粗糙度所引起的漫反射而影響了應(yīng)用1 3 ] 14 ] 。比色測(cè)溫由于測(cè)溫波段少，一旦大氣吸收在采用波段不平衡。測(cè)溫精度將受很大的影響?。光

3、譜測(cè)溫利用的光譜信息多，測(cè)溫精度相對(duì)較高l ”。但制造工藝要求較高，生產(chǎn)成本也較大。隨計(jì)算機(jī)技術(shù)和多元陣列光輻射探測(cè)器的發(fā)展，光譜測(cè)溫逐漸將成為精確測(cè)量灰體真溫的研究方向之一I7 】f 8 】19 1 ，它通常采用的是線性和非線性來擬合出溫度和發(fā)射率，這兩種方法均能產(chǎn)生較高的測(cè)溫精度。但光譜測(cè)溫大多數(shù)是針對(duì)單目標(biāo)模型測(cè)溫，如果環(huán)境物體輻射量較小，或者能通過限制視場(chǎng)降低雜散光的影響，單目標(biāo)測(cè)溫方法能較精確地測(cè)得目標(biāo)溫度I ”?“。但如果環(huán)