標準模型下雙光子碰撞產(chǎn)生電子對的一圈弱電輻射修正.pdf

1、由于輕子對的產(chǎn)生截面可以達到非常高的精度,而且光子對撞機可以作為正負電子對撞機的一個補充,γγ→e<'+>e<'->過程被建議使用.γγ→e<'+>e<'->過程也是一個可能用于對撞機亮度監(jiān)測的反應(yīng)道.它可以對對撞機的亮度進行高精度測量.在高能量對撞過程中其弱電單圈輻射修正的貢獻可能應(yīng)當考慮.本文的工作就是計算了γγ→e<'+>e<'->過程在樹圖及其一圈弱電輻射修正后的反應(yīng)截面.通過正規(guī)化和重整化以及軟光子軔致輻射處理,我們發(fā)現(xiàn)紫外發(fā)

2、散和紅外發(fā)散已經(jīng)被消除了.在最后的結(jié)果中,我們給出了它們的數(shù)值結(jié)果.我們在GLC亮度監(jiān)測范圍內(nèi)計算了樹圖的總截面,以及標準模型下一圈弱電輻射修正后的總截面,其中包括虛修正和軟光子輻射修正.我們還討論了在GLC的亮度監(jiān)測范圍內(nèi)樹圖及一圈修正后的總截面隨質(zhì)心能量的變化關(guān)系.我們還獲得了微分截面與出射電子角度θ的關(guān)系曲線.最后,我們得到了每秒鐘亮度探測器接收的事例數(shù)隨對撞能量的變化圖以及與出射角度的變化關(guān)系圖.GLC的亮度監(jiān)測范圍是50mra