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文檔簡介
1、光學(xué)測量技術(shù)的發(fā)展給精密測試領(lǐng)域注入了新的活力,它將光學(xué)技術(shù)與現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合,具有非接觸、測量精度高、信息容量大且效率高的特點(diǎn),并且已近廣泛應(yīng)用到人們工作生活的方方面面。
本論文主要研究了光學(xué)測量中的數(shù)字散斑照相術(shù)的基本理論、工作原理、測量方法以及技術(shù)特點(diǎn)等。研究采用目前國內(nèi)外的先進(jìn)記錄介質(zhì)CCD(Charge-coupledDevice)和用于讀寫的光電器件電尋址液晶(Electrically Addressed
2、Liquid CrystalDisplay),實(shí)現(xiàn)了散斑照相技術(shù)的數(shù)字化。分別設(shè)計(jì)了主觀散斑和客觀散斑兩種散斑記錄光路采集被測物體位移前后的散斑圖,并用全場分析和逐點(diǎn)分析兩種散斑圖分析方法處理所拍攝散斑圖獲得了高對比度的散斑干涉條紋圖。
另外,由于實(shí)驗(yàn)所記錄的干涉圖噪聲大、灰度值不均勻等特點(diǎn),本文進(jìn)行了條紋圖中噪聲處理的算法研究,本論文針對這些特點(diǎn)做了圖像處理。利用形態(tài)學(xué)運(yùn)算以及圖像增強(qiáng)等降低噪聲,使散斑圖實(shí)現(xiàn)高信噪比。<
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