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文檔簡介
1、隨著CMOS集成電路加工工藝和設(shè)計水平的日益提高，CMOS集成電路被越來越多的應(yīng)用于航天領(lǐng)域。但隨之而來的問題是CMOS集成電路的物理特性決定其容易受到空間輻照環(huán)境的影響。因此對CMOS集成電路抗輻照的研究一直是一個熱點(diǎn)，其中一個研究方向就是集成電路在輻照條件下的驗(yàn)證和測試技術(shù)。
本文基于虛擬儀器技術(shù)研制了一套低成本遠(yuǎn)程CMOS集成電路輻射效應(yīng)在線動態(tài)測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)的搭建結(jié)合了目前國內(nèi)在線測試以及離線測試的優(yōu)點(diǎn)，對本文選取的
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