研磨基礎(chǔ)知識(shí)訓(xùn)練

1、研磨基礎(chǔ)技術(shù)研磨片簡(jiǎn)介廠商美國(guó)3M項(xiàng)次規(guī)格顏色表面涂層作用130um綠色氧化鋁去膠215um灰色碳化硅去膠39um藍(lán)色鉆石粉粗磨46um棕色鉆石粉粗磨53um粉紅色鉆石粉中磨61um紫色鉆石粉細(xì)磨70.5um灰白色鉆石粉精磨8絨布藍(lán)色絨毛清潔廠商日本MIPOX130um綠色碳化硅去膠29um藍(lán)色鉆石粉粗磨31um紫色鉆石粉細(xì)磨40.03um淡綠色二氧化硅拋光5絨布棕色絨毛清潔廠商北京國(guó)瑞升130um灰色碳化硅去膠230um淡綠色鉆石粉粗

2、磨39um藍(lán)色鉆石粉粗磨41um乳白色鉆石粉細(xì)磨5絨布藍(lán)色絨毛清潔研磨研磨光纖連接器研磨原理：光纖連接器研磨原理：利用表面涂有不同大小顆粒的鉆石粉或其它材質(zhì)的研磨顆粒，加上研磨液，放于高速運(yùn)轉(zhuǎn)的研磨機(jī)器上進(jìn)行研磨，以得到我們所需要的端面、3D和電氣特性。研磨一般程序如下：研磨一般程序如下：1、去膠：去膠：用30um、15um、9um或水砂紙加研磨墊或玻璃墊，將Ferrule端面的353ND膠去完，以利下一工序的作業(yè)。注意事項(xiàng)：a、去膠時(shí)

3、不能用力過(guò)大，以免折斷端面的光纖絲導(dǎo)致光纖絲斷裂在Ferrule內(nèi)，研磨后產(chǎn)生端面破洞或裂傷。b、去膠時(shí)需去干凈，以避免因端面有膠殘留，影響鎖盤(pán)的定位高度，研磨后會(huì)導(dǎo)致曲率半徑大小不一致。c、去膠時(shí)間不能過(guò)長(zhǎng)，若過(guò)長(zhǎng)會(huì)有雙圈產(chǎn)生，影響下一道工序的研磨。2、成形角度成形角度(若為若為PCPC不需此工序不需此工序)角度成形：通常用表面涂有鉆石顆粒的鉆石盤(pán)配合一定的時(shí)間、壓力和研磨液來(lái)成形，使需要成形的Ferrule成形出我們需要的角度，我們

4、公司常見(jiàn)的角度有6度和8度。注意事項(xiàng)：a、研磨時(shí)間不能過(guò)長(zhǎng)，以避免Ferrule被磨短，時(shí)間也不能太短，太短會(huì)增加下一道的研磨時(shí)間，成形角度需過(guò)端面的23。b、研磨壓力不能過(guò)大，以避免Ferrule被磨短和研磨后端面產(chǎn)生大破洞，也不能太小，太小會(huì)增加下一道的研磨時(shí)間。3、45um45um或30um30um粗磨粗磨(若為若為PCPC不需此工序不需此工序)此道工序的研磨為消除鉆石盤(pán)研磨后所產(chǎn)生的大破洞，研磨時(shí)間根據(jù)研磨后端面的結(jié)果來(lái)決定研磨

5、時(shí)間和壓力。注意事項(xiàng)：a、此道工序的研磨時(shí)間不能過(guò)長(zhǎng)或過(guò)短，時(shí)間過(guò)長(zhǎng)會(huì)把Ferrule磨的過(guò)短，時(shí)間過(guò)短會(huì)產(chǎn)生破洞。b、壓力不能過(guò)大或過(guò)小，過(guò)大會(huì)把Ferrule磨的過(guò)短過(guò)小會(huì)產(chǎn)生破洞。4、9um9um粗磨粗磨此工序的研磨是為了消除去膠后和45um或30um粗磨后的粗的劃痕和破洞，此工序的研磨時(shí)間和壓力對(duì)端面和3D影響很大。注意事項(xiàng)：d、對(duì)0.03um進(jìn)料時(shí)，針對(duì)每一個(gè)生產(chǎn)批次，需抽出幾張做研磨試驗(yàn)，若沒(méi)有問(wèn)題才可以發(fā)于產(chǎn)線使用，若試用

6、結(jié)果不行，則將結(jié)果反饋給采購(gòu)，由采購(gòu)反饋給供貨商。e、蒸餾水進(jìn)料時(shí)，對(duì)每一桶取一部分試驗(yàn)，沒(méi)有問(wèn)題才可以在產(chǎn)線使用。2、破洞破洞是將研磨好的Ferrule用200倍或400倍顯微鏡放大后通過(guò)顯示器顯示出的端面及陶瓷部分無(wú)法擦拭的白色亮點(diǎn)或黑點(diǎn)。產(chǎn)生原因：a、去膠時(shí)用力過(guò)大，折傷光纖絲，易產(chǎn)生破洞。b、鉆石盤(pán)壓力過(guò)大，易產(chǎn)生破洞。c、45um、30um研磨時(shí)間不夠，易產(chǎn)生破洞。d、9um、1um研磨時(shí)間不夠，壓力過(guò)小，易產(chǎn)生破洞。e、0.

7、03um不良，易產(chǎn)生破洞。f、研磨機(jī)力臂不平整。改善方法：a、去膠時(shí)注意用畫(huà)8字的方法去膠，且去膠不能用力過(guò)大。b、根據(jù)45um或30um研磨后端面的結(jié)果來(lái)決定鉆石盤(pán)的研磨壓力及45um或30um研磨時(shí)間。c、根據(jù)9um、1um研磨后端面的結(jié)果來(lái)決定9um、1um的研磨時(shí)間及壓力。d、若1um研磨后端面的結(jié)果無(wú)破洞，則可能是0.03um所產(chǎn)生的不良，則需對(duì)0.03um做分析改善。e、需定時(shí)對(duì)研磨機(jī)力臂進(jìn)行修整。3、裂傷裂傷是用200倍或

8、400倍顯微鏡檢驗(yàn)端面，調(diào)節(jié)顯微鏡的焦距時(shí)端面出現(xiàn)裂紋，此裂紋調(diào)節(jié)顯微鏡的焦距到最清晰時(shí)裂紋最小，或慢慢調(diào)節(jié)顯微鏡的焦距由清晰至不清晰時(shí)裂紋會(huì)變大。產(chǎn)生原因：a、切光纖絲時(shí)因切割刀不鋒利壓斷光纖絲，而不是切斷光纖絲，導(dǎo)致光纖絲斷裂在Ferrule內(nèi)。b、去膠時(shí)用力過(guò)大，折傷光纖絲，導(dǎo)致光纖絲斷裂在Ferrule內(nèi)。c、鎖盤(pán)時(shí)鎖的過(guò)緊，擠裂光纖絲。改善方法：a、光纖切割刀應(yīng)經(jīng)常確認(rèn)其是否鋒利，若不鋒利時(shí)應(yīng)及時(shí)磨利。檢驗(yàn)切割刀方法用切割刀輕

9、劃白紙，看否可以劃破白紙，若可以劃破說(shuō)明可以使用，否則需將切割刀磨利。b、去膠時(shí)注意用畫(huà)8字的方法去膠，且去膠不能用過(guò)大；若為PC鎖好盤(pán)后先用手動(dòng)方式將端面的光纖絲磨平。C、鎖盤(pán)時(shí)不能鎖的太緊，以避免鎖的力過(guò)大而擠裂光纖絲，特別注意的是塑料Ferrule。4、臟污臟污是在200倍或400倍顯微鏡檢驗(yàn)下陶瓷部分和光纖絲部分有塊狀或點(diǎn)狀污漬，多為研磨液殘留。產(chǎn)生原因：a、絨布研磨時(shí)間不夠。b、絨布研磨液施加的不正確。c、絨布不良。改善方法：