版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、1022187棋里大學(xué)碩士學(xué)位論文(專業(yè)學(xué)位)18微米超淺結(jié)構(gòu)造工藝研究院系:信息科學(xué)與工程學(xué)院專業(yè):姓名:指導(dǎo)教師:完成日期:電子與通信工程施鍇周嘉副教授2006年10月20日學(xué)校代碼學(xué)號10246033021102摘要對于O18唧及O18岬以下的器件而言最大的挑戰(zhàn)之一就是如何減少短溝道效應(yīng),解決這一挑戰(zhàn)的方法是使用超淺結(jié)工藝。本論文研究利用現(xiàn)有O25岬工藝流程和現(xiàn)有設(shè)備實現(xiàn)018岬超淺結(jié)的工藝方案。使用美國斯坦福大學(xué)的工藝模擬軟件S
2、upreⅢ4模擬工藝條件,根據(jù)模擬結(jié)果對離子注入的能量和劑量,快速熱退火的溫度和時間,注入和退火前硅片表面條件作研究。通過對工藝條件對結(jié)深和方塊電阻影響的研究,得到了可行的工藝方案,即低注入能量(5kev),高注入劑量(350E15atoms/cm2)的離子注入條件;退火前350A魄氧化層,高溫度(1050℃)短時間(10S)的快速熱退火條件。關(guān)鍵詞:超淺結(jié),離子注入,快速熱退火,結(jié)深,方塊電阻AbstractUl仃ashallowju
3、nctiontechn0109yist11es01塒ontoreduceshortchaIlnele彘ct(SCE),wllichisoneof恤ebiggestchallenges婦’subO18岬de、,icesTllisp印ers協(xié)diesmeprocessrecipeforul缸shall娟,junctionofO18阻deVices,realizedbypresentprocessequipmentsbasedon025岬pr
4、ocessnowAftersimlllationbycommercialsofhareSupnne4,processpar鋤eters,suchas,ioniIIlplant抽gene瑪yanddosage,tempera嘶強d血einrapidme吼alprocess(RTP)趾dwa衙surfaceconditionbeforeimpl姐tationarcstIldied111ee位ctsofmoseprocessconditiQn
5、sonjunctiond印mandwafersheetresistance盯edemons廿atedandanalyzed111eavailableprocesscondidonsforu1艦shallowjunctionofO,18mdevicesareobtainedasconclusions:10wimplaIltenergy(5kev),hi曲implantingdosage(35E15atoms/冊2),350Amick0xi
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 0.18微米高壓工藝影響襯底缺陷現(xiàn)象的研究
- dsticmp工藝在0.18微米邏輯芯片的應(yīng)用
- 0.18微米高壓器件生產(chǎn)周期改善與工藝優(yōu)化研究
- 0.18微米存儲器光刻工藝參數(shù)的優(yōu)化研究
- 0.18微米邏輯生產(chǎn)流程與工藝控制監(jiān)控
- 0.18微米側(cè)壁(spacer)干法刻蝕工藝的開發(fā)與優(yōu)化
- 0.18微米cmos工藝的射頻功率預(yù)測可擴展的大信號模型【外文翻譯】
- 超深亞微米工藝下互連線串?dāng)_及其影響研究.pdf
- 構(gòu)造煤的微觀和超微觀結(jié)構(gòu)特征研究.pdf
- 冷軋退火工藝制備納米-微米級超細晶粒低碳鋼研究.pdf
- 亞微米金屬超結(jié)構(gòu)的微細加工制備與應(yīng)用.pdf
- 超深亞微米PMOSFET器件NBTI研究.pdf
- 超深亞微米PMOSFET的NBTI效應(yīng)研究.pdf
- 超深亞微米工藝下基于UPF的低功耗設(shè)計方法.pdf
- 超深亞微米MOS器件RTS噪聲研究.pdf
- 晶邊硅剝落致0.18微米系統(tǒng)級芯片低良率的研究
- 復(fù)雜結(jié)構(gòu)拉丁超立方體設(shè)計的構(gòu)造.pdf
- 超深亞微米PMOSFET中的NBTI研究.pdf
- 藏式民居結(jié)構(gòu)構(gòu)造及施工工藝研究.pdf
- 基于超深亞微米工藝的衛(wèi)星導(dǎo)航基帶SoC電路設(shè)計.pdf
評論
0/150
提交評論