四象限紅外探測(cè)器入檢測(cè)試系統(tǒng).pdf

1、紅外探測(cè)器是紅外制導(dǎo)、紅外跟蹤系統(tǒng)中的核心部件，其性能指標(biāo)直接關(guān)系到系統(tǒng)的工作特性。因此對(duì)探測(cè)器的參數(shù)測(cè)試極為重要。 本文以象限式紅外探測(cè)器參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)為研究對(duì)象，系統(tǒng)地研究了象限式紅外探測(cè)器主要參數(shù)的測(cè)量原理和方法。根據(jù)高自動(dòng)化、高綜合化、適用于生產(chǎn)線的要求，完成了參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的研制。 本系統(tǒng)能夠完成脈沖響應(yīng)靈敏度、噪聲等效功率、暗電流、結(jié)電容、響應(yīng)均勻性、串?dāng)_等參數(shù)的測(cè)試。系統(tǒng)主要由光源、光學(xué)系統(tǒng)、各測(cè)試單元和工控機(jī)

2、組成。由工控機(jī)控制各測(cè)試單元完成測(cè)試，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。 首先介紹了各主要參數(shù)的測(cè)量原理，確定各參數(shù)的測(cè)試方法。提出了系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)。根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求，著重就激光光源設(shè)計(jì)與調(diào)試、基于雙光路的光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)做了詳細(xì)介紹，同時(shí)，針對(duì)溫度對(duì)于暗電流這一參數(shù)的影響作了研究，并設(shè)計(jì)和制作了以半導(dǎo)體制冷片為核心、熱敏電阻為溫度傳感器件的溫控系統(tǒng)，還設(shè)計(jì)了配有溫控和散熱系統(tǒng)的探測(cè)器插座。 在系統(tǒng)軟硬件設(shè)計(jì)研制中，考慮了各環(huán)節(jié)的誤差