驗(yàn)證平臺(tái)的可重用性研究.pdf_第1頁(yè)
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1、隨著集成電路制造技術(shù)的快速發(fā)展,系統(tǒng)芯片逐漸成為現(xiàn)實(shí).但系統(tǒng)芯片的發(fā)展遇到了一系列挑戰(zhàn),系統(tǒng)芯片的驗(yàn)證問(wèn)題就是其中之一.驗(yàn)證已成為芯片設(shè)計(jì)的瓶頸,其大約占整個(gè)芯片設(shè)計(jì)的70％,而且隨著集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模和復(fù)雜度的不斷提升,其所占比例還將呈現(xiàn)上升趨勢(shì).因此僅僅降低設(shè)計(jì)費(fèi)用是不夠的,還需要盡可能降低驗(yàn)證費(fèi)用.在今天系統(tǒng)芯片中,片上重用的IP模塊數(shù)越來(lái)越多.如何快速的驗(yàn)證這些IP模塊和整個(gè)系統(tǒng)已成為系統(tǒng)芯片驗(yàn)證的難點(diǎn)和熱點(diǎn).該文重點(diǎn)圍繞可重用性

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