基于IDDT的CMOS數(shù)字電路故障診斷技術(shù)研究.pdf

1、傳統(tǒng)的基于電壓測試的測試方法已得到了廣泛的應(yīng)用,但這種方法仍然無法有效地檢測某些故障。作為電壓測試方法的補(bǔ)充,電流測試方法能夠提高故障覆蓋率和產(chǎn)品的可靠性。瞬態(tài)電流提供了一個(gè)觀測電路內(nèi)部開關(guān)性能的新窗口,瞬態(tài)電流測試方法為進(jìn)一步提高故障覆蓋率提供了可能。
　　本文分析CMOS電路主要電流組成成份的物理意義和瞬態(tài)電流(IDDT)的特性,從瞬態(tài)電流(IDDT)中可以提取比靜態(tài)電流(IDDQ)具有更豐富的故障信息。探討了小波變換和神經(jīng)網(wǎng)

2、絡(luò)的理論及應(yīng)用于數(shù)字電路故障診斷的優(yōu)勢。針對數(shù)字電路中的橋接故障、電阻性開路故障,研究了瞬態(tài)電流(IDDT)測試與小波-神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)相結(jié)合的數(shù)字電路故障診斷技術(shù)。利用小波變換技術(shù)對瞬態(tài)電源電流進(jìn)行故障特征提取,BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)用來進(jìn)行故障類型的識別。為了降低故障樣本的維數(shù),采用主成分分析和歸一化數(shù)據(jù)預(yù)處理,提高了神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練效率。該方法克服了傳統(tǒng)故障字典方法的局限性,實(shí)現(xiàn)了數(shù)字電路快速和準(zhǔn)確的故障定位。
　　通過對數(shù)字電路的仿真結(jié)果和數(shù)