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1、光刻技術(shù)是人類迄今所能達(dá)到的精度最高的的加工技術(shù),常規(guī)的光學(xué)光刻技術(shù)對(duì)微電子工業(yè)的迅速發(fā)展起了巨大的推動(dòng)作用,但是由于光的衍射效應(yīng),常規(guī)光學(xué)光刻技術(shù)受到瑞利公式的限制受到嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。電子束曝光是最近三十年發(fā)展起來的一種分辨率極高的微細(xì)加工技術(shù),目前電子束曝光主要用于集成電路領(lǐng)域,集中在掩模板制造、直接曝光基片和研制納米量級(jí)的量子效應(yīng)及其它物理現(xiàn)象。
與常規(guī)的光學(xué)光刻技術(shù)相比,電子束曝光由于波長(zhǎng)很短,只有nm量級(jí),因此不受衍
2、射效應(yīng)的限制,可以達(dá)到很高的的分辨率,甚至達(dá)到原子量級(jí)。另外電子束曝光是無掩模直寫型的,因此具有一定的靈活性,可以直接制作各種圖形。相對(duì)于較高能量的電子束,低能電子束有它自己的特點(diǎn)。在低能情況下,入射電子能量越低,鄰近效應(yīng)越小,曝光效率越高,對(duì)襯底的損傷也越小。目前,低能電子束曝光的實(shí)驗(yàn)研究正日益受到人們的重視。
通過大量重復(fù)性實(shí)驗(yàn)尋求器件或結(jié)構(gòu)的最佳工藝參數(shù)代價(jià)昂貴、周期長(zhǎng)、不確定因素多,而且難以對(duì)光刻過程的機(jī)理準(zhǔn)確理解
3、。工藝模擬則很好地彌補(bǔ)了實(shí)驗(yàn)的不足,同時(shí)也方便設(shè)計(jì)者對(duì)設(shè)計(jì)的審查與改進(jìn),工藝模擬軟件成為制造者與設(shè)計(jì)者之間的橋梁。
本文所進(jìn)行的電子束曝光模擬,選取了傳統(tǒng)的Monte Carlo方法并建立了電子散射模型以及沉積能量分布模型。在建模過程中,選用PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯)光刻膠,Si、Au等為襯底,對(duì)于彈性散射采用更為準(zhǔn)確的Mort散射截面描述,為了節(jié)省計(jì)算時(shí)間,采用Browning擬合公式計(jì)算;對(duì)于非彈性散射,采用Joy修
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