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文檔簡介
1、隨著微光像增強技術和微光成像器件的發(fā)展,光子計數(shù)成像技術近年來發(fā)展迅速并日趨成熟。光子計數(shù)技術在理論上可以對單個光子進行有效探測,因此能夠探測到極微弱光下的光子圖像。光子計數(shù)在天文觀測、生物探測、通信、粒子物理學等領域具有廣泛的應用前景。
本文對常用的單光子探測器件進行了比較和分析,最終選擇工作在蓋革模式下的雪崩光電二極管(APD)作為核心探測器件。在深入了解APD的單光子探測機理和蓋革模式下性能參數(shù)的基礎上,采用對圖像進
2、行二維掃描且單元探測器接收的方式構建光子計數(shù)成像系統(tǒng)。
搭建了以Si-APD單光子探測器為核心的像掃實驗平臺,實現(xiàn)了單元掃描方式的APD光子計數(shù)成像。通過光子一照度標定實驗、量子效率驗證、光源均勻性測試暗計數(shù)測量等多個實驗測試,驗證了實驗平臺的可行性。對黑白條紋、鑒別力板、lena灰度圖像在不同照度和取不同像素點的情況下掃描成像,對圖像效果進行分析和比較,給出了APD單光子計數(shù)成像技術能夠達到照度下限。
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