基于條紋投影和條紋反射的手機(jī)殼內(nèi)外表面質(zhì)量檢測方法.pdf

1、隨著移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的到來，手機(jī)市場迅速擴(kuò)張，手機(jī)殼加工過程中的質(zhì)量控制也備受關(guān)注。在此基礎(chǔ)上，本論文進(jìn)行了基于條紋投影和條紋反射技術(shù)的手機(jī)殼內(nèi)外表面質(zhì)量檢測方法研究。為實(shí)現(xiàn)對不同種類手機(jī)殼的高精度、快速檢測，文中首先重點(diǎn)研究了不同類型手機(jī)殼的檢測策略，并通過提出條紋投影和條紋反射復(fù)合迭代算法，解決了低反射率手機(jī)殼難以實(shí)現(xiàn)高精度檢測的問題，最后，對不同手機(jī)殼進(jìn)行了表面質(zhì)量檢測實(shí)驗(yàn)。
　　本研究為了設(shè)計(jì)不同類手機(jī)殼的測量方案，采用Na

2、yar光照模型對手機(jī)殼表面反射情況進(jìn)行研究，并在此基礎(chǔ)上分析手機(jī)殼表面反射特性對于條紋投影和條紋反射各自測量精度的影響。通過結(jié)合Taylor高階積分算法和迭代補(bǔ)償積分算法，提出Taylor高階迭代法積分算法。由于該算法采用高階Taylor多項(xiàng)式來構(gòu)建積分方程，因此積分高度具有更小的積分誤差，在實(shí)現(xiàn)相同測量精度的情況下，迭代次數(shù)縮減為原來的一半，大大節(jié)約了重建時(shí)間。在對手機(jī)殼面進(jìn)行測量時(shí)，為了解決條紋投影技術(shù)和條紋反射技術(shù)對于低反射率手機(jī)

3、殼測量精度不高的問題，文中提出一種復(fù)合迭代算法，算法能夠?qū)l紋投影的高度測量優(yōu)勢與條紋反射的梯度敏感性進(jìn)行良好結(jié)合。復(fù)合迭代算法能夠?qū)l紋投影技術(shù)和條紋反射技術(shù)進(jìn)行結(jié)合，該算法的優(yōu)越性在仿真和實(shí)驗(yàn)中得到了證實(shí)。最后，利用條紋投影和條紋反射復(fù)合系統(tǒng)分別對手機(jī)殼內(nèi)外表面進(jìn)行了面形重建和缺陷檢測，并根據(jù)缺陷類型的采用不同的檢測方法。通過實(shí)驗(yàn)檢測得出復(fù)合系統(tǒng)對于手機(jī)殼外表面的測量精度為0.14μm；對手機(jī)殼內(nèi)表面的測量精度為33μm，滿足工業(yè)檢