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文檔簡介
1、本文以場致發(fā)射特性測試技術(shù)為背景,經(jīng)典控制理論中的按偏差調(diào)節(jié)的閉環(huán)控制系統(tǒng)為理論指導(dǎo),開展場致電子發(fā)射特性測試的自動化技術(shù)的研究。自動測量主要包括場致發(fā)射的I-V特性曲線、F-N曲線、穩(wěn)定性測量合發(fā)射像處理。論文內(nèi)容由系統(tǒng)硬件電路實現(xiàn)和軟件實現(xiàn)兩部分構(gòu)成。基于自動控制的經(jīng)典控制理論和可編程邏輯器件(CPLD)設(shè)計出場致發(fā)射自動測試系統(tǒng)的框架和相應(yīng)的硬件電路。電路采用串口、GPIB接口進(jìn)行通訊,具有SRAM暫存數(shù)據(jù)、D/A、A/D轉(zhuǎn)換等功
2、能,部分電路功能(控制D/A轉(zhuǎn)換、A/D轉(zhuǎn)換、LED顯示)用硬件描述語言(VHDL)編寫CPLD實現(xiàn)?;赩isualC++實現(xiàn)系統(tǒng)的軟件界面,通過串口與系統(tǒng)硬件電路進(jìn)行通信。軟件功能包括參數(shù)的設(shè)置、數(shù)據(jù)處理、場發(fā)射特征值計算、I-V曲線、F-N曲線、穩(wěn)定性測量曲線生成以及對發(fā)射像進(jìn)行處理,計算不同發(fā)射像的均勻程度及發(fā)光亮度。另外采用軟件的對象嵌入與鏈接(OLE)技術(shù),實現(xiàn)軟件界面跟SigmaPlot的數(shù)據(jù)鏈接并作圖,以便場發(fā)射的研究者
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