對(duì)稱性與缺陷對(duì)硅光子晶體能帶的帶寬和缺陷模位置產(chǎn)生影響的研究.pdf

1、貴州大學(xué)2015屆碩士研究生學(xué)位論文對(duì)稱性與缺陷對(duì)硅光子晶體能帶的帶寬和缺陷模位置產(chǎn)生影響的研究學(xué)科專業(yè)：光學(xué)研究方向：光子晶體導(dǎo)師：黃偉其教授研究生：周年杰中國貴州貴陽2015年05月分類號(hào)：O482.3O431.1論文編號(hào)：201501030067密級(jí)：公開2012021008貴州大學(xué)碩士學(xué)位論文I目錄摘要摘要..............................................................

2、........................................................................IVIVAbstractAbstract................................................................................................................................

3、V第一章第一章導(dǎo)論導(dǎo)論......................................................................................................................11.1選題的背景和研究意義................................................21.1.1問題產(chǎn)生的背景................

4、..................................21.1.2選題的目的......................................................31.1.3研究價(jià)值和意義..................................................41.2國內(nèi)外的研究進(jìn)展和評(píng)述...........................................

5、...51.2.1國內(nèi)外研究進(jìn)展..................................................51.2.2國內(nèi)外研究評(píng)述..................................................81.3研究的內(nèi)容結(jié)構(gòu)及其方法思路..........................................81.3.1研究的主要內(nèi)容...................

6、...............................81.3.2整體結(jié)構(gòu)及其框架................................................91.3.3主要的方法和思路................................................9第二章第二章研究的理論基礎(chǔ)和方法研究的理論基礎(chǔ)和方法......................................

7、................................................11112.1平面展開法.........................................................112.2密度泛涵理論簡介...................................................132.2.1HohenbergKohn定理.................

8、............................132.2.2KohnSham方程..................................................142.2.3交換關(guān)聯(lián)泛函...................................................162.3量子受限效應(yīng)..................................................

9、.....172.4計(jì)算工具及其方法...................................................182.4.1計(jì)算的方案概況.................................................182.4.2計(jì)算的可靠性和可信度...........................................19第三章第三章小尺寸硅量子點(diǎn)的量子受限效應(yīng)和局域態(tài)的形

10、成小尺寸硅量子點(diǎn)的量子受限效應(yīng)和局域態(tài)的形成............................................21213.1含一個(gè)SiOSi橋鍵的量子點(diǎn)的態(tài)密度和結(jié)合能.........................213.2含一個(gè)Si=O橋鍵的量子點(diǎn)的態(tài)密度....................................233.3結(jié)構(gòu)的存在性分析.............................