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文檔簡介
1、近幾十年來,半導(dǎo)體低維量子結(jié)構(gòu)因其新穎的物理性質(zhì)和廣泛的應(yīng)用前景,已成為凝聚態(tài)物理和材料科學(xué)中的重要前沿領(lǐng)域。同時(shí),分子束外延等超薄生長技術(shù)和精細(xì)束加工技術(shù)的日益完善和迅猛發(fā)展也為量子器件的不斷推陳出新給予了重要的技術(shù)支持。本文對(duì)一種特殊的半導(dǎo)體低維量子結(jié)構(gòu)——含結(jié)構(gòu)缺陷超晶格中的電子態(tài)、聲子態(tài)及電聲子相互作用作了較深入的探索,取得了一些有意義的結(jié)果,以期能為相關(guān)量子器件的設(shè)計(jì)和制造提供理論依據(jù)。 在有效質(zhì)量近似理論下,利用轉(zhuǎn)移
2、矩陣和有效壘高方法研究了有限磁場下含結(jié)構(gòu)缺陷的多組分超晶格中局域電子態(tài)的性質(zhì)。在考慮各組分層有效質(zhì)量的失配時(shí),外加磁場會(huì)導(dǎo)致磁耦合效應(yīng)的出現(xiàn)。數(shù)值結(jié)果揭示,磁耦合效應(yīng)不僅引起局域電子能級(jí)的量子化,并且隨著朗道指數(shù)或磁場強(qiáng)弱的變化,局域能級(jí)及其局域程度都會(huì)發(fā)生顯著移動(dòng),特別是對(duì)高能區(qū)域的局域電子態(tài)影響更大。此外,還利用散射矩陣計(jì)算了電子輸運(yùn)系數(shù),詳細(xì)討論了含結(jié)構(gòu)缺陷的三組分有限超晶格中局域電子能級(jí)與輸運(yùn)譜透射禁區(qū)中的共振透射峰的關(guān)系,發(fā)現(xiàn)
3、兩者之間有著很好的對(duì)應(yīng)關(guān)系,為相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究提供了依據(jù)。由于多組分超晶格在多量子阱激光器、紅外光電探測器等器件方面的獨(dú)到用處,這些研究結(jié)果具有重要的參考意義。 在宏觀介電連續(xù)近似下,采用轉(zhuǎn)移矩陣方法,研究了含結(jié)構(gòu)缺陷有限超晶格中局域界面光學(xué)聲子模隨結(jié)構(gòu)參數(shù)的演變規(guī)律。在這種有限超晶格結(jié)構(gòu)中,可以清楚地看到所有界面模的演化軌跡。結(jié)果表明:存在兩類局域模,它們的宏觀靜電勢波函數(shù)分別局域在缺陷層和表面層附近,且這些模隨著超晶格組分層和
4、缺陷層的相對(duì)厚度和介電常數(shù)的改變,其局域位置和特性發(fā)生顯著變化。當(dāng)缺陷層引入三元合金時(shí),其兩模行為導(dǎo)致局域模數(shù)目增加,且隨著合金成分?jǐn)?shù)的改變,局域模發(fā)生簡并、分離、穿越等有趣現(xiàn)象。然而,在這些演變過程中,雖然能隙中局域模的數(shù)目不守恒,但所有界面模的總數(shù)是守恒的。 采用費(fèi)密黃金規(guī)則和轉(zhuǎn)移矩陣方法,計(jì)算了含包覆層半無限超晶格中的表面電聲子躍遷率。在這種結(jié)構(gòu)中,最低的兩個(gè)表面電子能級(jí)分別存在于第一和第二微隙中。它們之間的電聲子躍遷率依
5、賴于電子的橫向波矢的大小、半無限超晶格組分層的相對(duì)厚度以及基底層和包覆層的材料本質(zhì)等。然而,從本質(zhì)上來講,這種表面電聲子躍遷率的大小是由表面電子態(tài)及表面光學(xué)聲子模的衰減長度決定的。這些結(jié)果表明,可以通過調(diào)整結(jié)構(gòu)參數(shù)來人工控制表面電聲子躍遷率的大小,這對(duì)于半導(dǎo)體超晶格激光器等光電器件的設(shè)計(jì)是有裨益的。 最后,將結(jié)構(gòu)缺陷引入到準(zhǔn)一維超晶格量子波導(dǎo)。在連續(xù)介質(zhì)彈性模型下,采用散射矩陣方法,研究了含結(jié)構(gòu)缺陷超晶格量子波導(dǎo)的聲學(xué)聲子輸運(yùn)。
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