電掃描反射陣天線分析與設(shè)計.pdf

1、反射陣天線以其低剖面、輕質(zhì)量、易共形以及高增益等特點(diǎn)，被廣泛用于各類遠(yuǎn)距離無線通信系統(tǒng)。經(jīng)過幾十年的研究，反射陣天線技術(shù)日趨成熟，提出了多種單元結(jié)構(gòu)及組陣形式，發(fā)展了多種單元分析方法和系統(tǒng)設(shè)計手段。目前，國內(nèi)外大部分研究都集中于反射陣天線的寬帶技術(shù)、多頻段技術(shù)和圓極化技術(shù)，而對于近十年發(fā)展起的電掃描（也多稱為可重構(gòu)）反射陣技術(shù)，現(xiàn)有的研究主要集中在如何實(shí)現(xiàn)電控移相單元，如:使用MEMS、二極管和特殊功能材料等，然而大量電控移相單元的使用

2、，令天線設(shè)計更為復(fù)雜、加工更為昂貴。
　　本文提出了兩種實(shí)現(xiàn)反射陣天線電掃描的新方法，并采用新方法分別設(shè)計了兩種線極化和圓極化電掃描反射陣天線。其中線極化電掃描反射陣天線采用了一種新穎的漸變式相位補(bǔ)償方案，利用這種新的相位補(bǔ)償方案，結(jié)合波束掃描陣列饋源，可以實(shí)現(xiàn)非電控移相單元反射陣天線的二維電掃描;而圓極化電掃描反射陣天線則是通過改變饋源陣列中各個單元的激勵幅度分布，達(dá)到改變陣列饋源的相位中心，從而實(shí)現(xiàn)反射波束的掃描的效果。所提出