電介質材料的介電行為研究.pdf

1、天線窗和天線罩材料的介電性能的好壞直接關聯(lián)著透波性能，可是由于現(xiàn)實條件的限制而導致天線罩材料在高頻高溫的測試顯得很困難。主要是因為航天飛行器或者導彈的價格不菲，這導致很難搜集測試數(shù)據(jù)。因此通過數(shù)學建模和介電物理知識相結合的方式來從微觀分析透波材料在高溫高頻時的介電性能。以經典電介質物理為基礎，深刻的分析了幾種極化機制，討論了幾種特定溫度頻率下介電常數(shù)和介電損耗的變化規(guī)律。然后用滲流相變理論與等效介質理論相結合的方式分析了多孔陶瓷的介電參

2、數(shù)；也采用了二相元等效電路圖來分析介電損耗。最后結合了電磁波理論來分析具體的實驗測試復介電參數(shù)的原理。本文的具體研究內容如下：
　?。?）運用電介質物理知識，深刻分析電子位移極化、離子位移極化、熱離子極化和偶極子取向極化的機理；同時也探討了電導損耗和弛豫損耗的損耗特性；對比了幾種研究復合介質理論的計算方法優(yōu)缺點；闡述了利用二相元電路法建立的模型。
　?。?）分析了有效場修正的問題；簡單介紹了氮化硅的性質；分析了致密/多孔氮化

3、硅陶瓷的介電性能與溫度、頻率的變化規(guī)律；同時闡述了孔隙率是如何影響多孔氮化硅的介電性能；對比了仿真數(shù)據(jù)和實驗數(shù)據(jù)，并分析了造成誤差的幾項原因。
　　（3）首先討論了固體二氧化硅的綜合性能；從微觀的數(shù)據(jù)和構建的復合介質的模型入手闡述了致密/多孔氧化硅的介電性能與溫度、頻率、雜質、孔隙率等的關系，對比試驗數(shù)據(jù)和仿真數(shù)據(jù)的差異。
　?。?）理論說明了常溫、高溫時的測試系統(tǒng)的機理；從數(shù)學的角度推導出品質因數(shù)為什么與復介電常數(shù)，介電損