ct性能檢測方法、要求

1、附 錄 A CT 性能檢測方法A.1 性能檢測所需設(shè)備與用具所需設(shè)備與用具包括：a) 接地電阻測試儀；b) 積分劑量儀（長桿電離室或半導(dǎo)體探測器）；c) 測量管電壓的儀表；d) 測量管電流的鉗形表；e) 性能模體；f) 頭部劑量模體；g) 體部劑量模體；h) 其他檢定用設(shè)備。A.2 性能檢測方法A.2.1 劑量指數(shù)A.2.1.1 將頭部和體部劑量模體放于射線照射野中心，將積分劑量儀依次放于模體的圓孔中，其余圓孔放入圓棒。A.2.1.2

2、用頭部模式和腹部模式分別進行掃描，掃描區(qū)域內(nèi)不應(yīng)有影響線束的物質(zhì)。A.2.1.3 用大于或等于 100 mm 電離室進行測量并記錄下劑量儀示數(shù) Mx。A.2.1.4 利用公式（A.1）計算劑量指數(shù) D。????????????????????????????????????????????????????????????(A.1) 𝐷 =𝑀x × 𝑁 × ⻒

3、5;1 × 𝐹2 × 𝐾s × 𝐾tpd式中：Mx ——劑量儀示數(shù)；F1——由測量的照射量轉(zhuǎn)換成空氣中吸收劑量的轉(zhuǎn)換系數(shù)，33.97×103 mGy·kg/C；F2——由空氣中吸收劑量轉(zhuǎn)換成模體中的吸收劑量的轉(zhuǎn)換因子，其值為 0.88；Ks——層厚修正因子；Ktp——空氣密度修正因子；d——掃描層厚，單位為厘米（cm） 。A.2.1.5 利

4、用公式（A.2）計算出 CTDI100??????????????????????????????????????????????????????????????(A.2) 𝐶𝑇𝐷𝐼100 = ∫50- 50𝐷𝑁 × 𝑇𝑑𝑧式中：N——單次掃描的斷層數(shù)；T——標(biāo)稱層厚。A.2.1.6

5、利用公式（A.3）計算出 CTDIW。A.2.5 CT值A(chǔ).2.5.1 將已知 CT 值的 5 種插件插入充滿水的主模體。A.2.5.2 CT 運行條件按頭部模式或腹部模式分別進行掃描水和 5 種物質(zhì),在所掃描的物質(zhì)中選取一個約 100 mm2 的區(qū)域記下 CT 值。A.2.5.3 選取與標(biāo)稱值接近的測量值為該物質(zhì)的 CT 值。A.2.6 層厚A.2.6.1 將層厚插件置于掃描野中心，CT 運行條件用頭部模式用不同層厚進行掃描。A.2.

6、6.2 用 ROI 測量斜線像鄰域的 CT 值 L1，將窗寬調(diào)到最小，調(diào)高窗位，直至四條斜線像消失時記錄窗位 L2。A.2.6.3 計算 L1 和 L2 的平均值，記為 L，窗寬調(diào)到最小，調(diào)節(jié)窗位到 L，量得四條斜線的長度 X。A.2.6.4 利用公式（A.7）計算層厚值 Z。????????????????????????????????????????????????????????????????????(A.7) ⻔

7、5; = X × tan 23°式中：Z——層厚，單位為毫米（mm）；X——四條斜線的長度，單位為毫米（mm）。A.2.7 高對比度分辨力將高對比度分辨力插件置于掃描野中心，CT運行條件按頭部模式或腹部模式分別進行掃描，將窗寬調(diào)至最小附近，調(diào)節(jié)窗位，來分辨最小的一組線對卡，得到高對比度分辨力。A.2.8 低對比度分辨力A.2.8.1 將低對比度分辨力插件置于掃描野中心，CT 運行條件按頭部模式在 10 mm 或最大層

8、厚模式進行掃描。A.2.8.2 分別取模體的插件和水的一個測量區(qū)域，讀取水的 CT 值 CTw、插件的 CT 值 CTM 和最大標(biāo)準(zhǔn)差 SDmax。A.2.8.3 由公式（A.8）和公式（A.9）分別計算出窗中心 WL 和窗寬 WW，按計算結(jié)果調(diào)節(jié)窗寬和窗中心，確定各對比度系列中所能分辨的最小一級孔徑，得到低對比分辨力。???????????????????????????????????????????????????????????

9、??????????(A.8) 𝑊𝐿 =𝐶𝑇𝑊 ? 𝐶𝑇𝑀2?????????????????????????????????????????????????????(A.9) 𝑊𝑊 = (𝐶𝑇𝑀 ? 𝐶Ү