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1、紫外探測(cè)技術(shù)是一門集光學(xué)、微機(jī)械加工、紫外探測(cè)器和集成電路于一體的高新綜合技術(shù)。紫外探測(cè)技術(shù)隱蔽性高、虛警率低、抗電磁干擾強(qiáng),在雷達(dá)、通訊、航空航天等領(lǐng)域有很大吸引力,在軍用和民用兩方面都具有極其廣泛的市場(chǎng)前景,現(xiàn)在已經(jīng)得到普遍關(guān)注和廣泛研究。
讀出電路處于紫外探測(cè)器陣列和后續(xù)信號(hào)處理電路之間,是紫外探測(cè)器焦平面陣列的組成部分之一,具有承前啟后的重要作用。當(dāng)今,CMOS讀出電路是讀出電路發(fā)展的主流方向,它的性能好壞直接影響
2、了紫外焦平面陣列,甚至是整個(gè)紫外探測(cè)系統(tǒng)的性能。本文基于CSMC0.5μm DPDM CMOS工藝,設(shè)計(jì)了CTIA型紫外探測(cè)器讀出電路,電路包括CTIA積分電路、相關(guān)雙采樣電路、減法器電路、緩沖輸出級(jí)電路、帶隙電壓基準(zhǔn)電路、順序脈沖發(fā)生器和欠壓鎖定電路這幾個(gè)電路模塊,并對(duì)各電路模塊和讀出電路系統(tǒng)進(jìn)行了理論分析和計(jì)算機(jī)仿真。
仿真結(jié)果表明,該讀出電路可對(duì)紫外探測(cè)器產(chǎn)生的0-5nA范圍內(nèi)的光電流進(jìn)行放大讀出,并具有良好的噪聲特
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