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1、超聲檢測(cè)習(xí)題部分第1頁(yè)共75頁(yè)無(wú)損檢測(cè)超聲波題庫(kù)一.是非題:246題二.選擇題:256題三.問答題:70題四.計(jì)算題:56題超聲檢測(cè)習(xí)題部分第3頁(yè)共75頁(yè)1.31當(dāng)超聲波聲束以一定角度傾斜入射到不同介質(zhì)的界面上產(chǎn)生同類型的反射和折射波,這種現(xiàn)象就是波形轉(zhuǎn)換。()1.32超聲波傾斜入射到界面時(shí),界面上入射聲束的折射角等于反射角。()1.33超聲波傾斜入射到界面在第一臨界角時(shí),第二介質(zhì)中只有折射橫波。()1.34只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為液體時(shí),才會(huì)
2、有第三臨界角。()1.35當(dāng)橫波傾斜入射到固固截面時(shí)縱波反射角為900時(shí)所對(duì)應(yīng)的橫波入射角稱為第三臨界角。此時(shí)第一介質(zhì)中沒有反射橫波。()1.36橫波傾斜入射到鋼/水界面,水中既無(wú)折射橫波,又無(wú)折射縱波。()1.37為使工件中只有單一的橫波,斜探頭入射角應(yīng)選擇為第一臨界角或第二臨界角。()1.38超聲波入射到C1>C2的凸曲面時(shí)(從入射方向看),其折射波發(fā)散。()1.39以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭,有機(jī)玻璃水界面為凸曲面。()1.
3、40超聲波的擴(kuò)散衰減主要取決于波陣面的形狀,與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。()1.41引起超聲波衰減的主要原因波速擴(kuò)散、晶粒散射、介質(zhì)吸收。()1.42超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。()1.43對(duì)同一介質(zhì)而言,橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。()1.44在同一介質(zhì)中,傳播縱波、橫波時(shí)的聲阻抗不一樣。()1.45超聲波入射到C1>C2的凸界面時(shí),其透射波聚集。()1.46超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí),入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。()2.1超聲場(chǎng)近
4、場(chǎng)區(qū)內(nèi)聲壓分布不均勻、起伏變化是由于波的干涉造成的。()2.2超聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。()2.3聲源輻射的超聲能量總是聲束中心線上的聲壓最高。()2.4超聲波的半擴(kuò)散角大,超聲能量集中,聲束的指向性好,檢測(cè)靈敏度高,對(duì)缺陷定位準(zhǔn)確。()2.5超聲場(chǎng)可分為近場(chǎng)區(qū)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),波源軸線上最后一個(gè)聲壓極大值的位置至波源的距離稱為超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度。()2.6因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)處于聲壓極小值處的較大缺陷回波可能較低而處于聲壓極大值處的較小的缺陷
5、回波可能較高,應(yīng)盡可能避免在近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)。()2.7超聲頻率不變,晶片面積越大超聲的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。()2.8超聲場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓隨距離增加單調(diào)減小是由于介質(zhì)衰減的結(jié)果。()2.9在其他條件相同時(shí),橫波聲束的指向性比縱波好,橫波的能量更集中一些,因橫波波波長(zhǎng)比縱波短。()2.10同頻率的探頭其擴(kuò)散角與探頭晶片尺寸成反比,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與晶片面積成正比。()2.11橫波斜探頭聲場(chǎng)假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。()2.12檢測(cè)時(shí)采用低頻是為了改善聲束
6、指向性,提高檢測(cè)靈敏度。()2.13因?yàn)槌暡ù嬖跀U(kuò)散衰減,所以,檢測(cè)時(shí)應(yīng)盡可能在進(jìn)場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。()2.14在實(shí)際超聲波檢測(cè)中,測(cè)定探頭聲速軸線偏離與橫波探頭的K值應(yīng)規(guī)定在2N以外進(jìn)行測(cè)定。()2.15當(dāng)其他條件一定時(shí),若超聲波頻率增加,則近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度和半擴(kuò)散角都增加。()2.16橫波探頭晶片尺寸一定,K值增大時(shí),近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度減小。()2.17超聲波的能量主要集中在2θ0以內(nèi)的錐形區(qū)域,此區(qū)域稱為主聲束。()2.18一般聲束指向角越小,則主聲
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