通用電子元件進料檢驗規(guī)范

1、通用電子元件進料檢驗規(guī)范通用電子元件進料檢驗規(guī)范（一）（一）貼片元件檢驗規(guī)范貼片元件檢驗規(guī)范(電容電容電阻電阻電感電感)1.1.目的目的便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。2.2.適用范圍適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容電阻電感…）之檢驗。3.3.抽樣計劃抽樣計劃依MILSTD105E，LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.4.允收水準允收水準（AQLAQL）嚴重缺點(CR):0主要缺點(MA):0.4

2、次要缺點(MI):1.55.5.參考文件參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬用表操作指引》檢驗項目檢驗項目缺陷屬性缺陷屬性缺陷描述缺陷描述檢驗方式檢驗方式備注備注包裝檢驗MAa.根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的PN及實物是否都正確任何有誤均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa.實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同若不同不可接受；實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合若不吻合不可接受。目檢

3、點數(shù)外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b.來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2且未露出基質(zhì)可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗時，必須佩帶靜電帶。二極管

4、類型檢測方法LED選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標記的一端為負極。其它二極管選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數(shù)需小于1，而反向測量讀數(shù)需無窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標記的一端為負極。（三）（三）晶體類檢驗規(guī)范晶體類檢驗規(guī)范1.1.目的目的作為IQC人員檢驗晶體類物料之依據(jù)。2.2.適用范圍適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗。3.3.抽樣計

5、劃抽樣計劃依MILSTD105E，LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.4.允收水準允收水準（AQLAQL）嚴重缺點(CR):0主要缺點(MA):0.4次要缺點(MI):1.55.5.參考文件參考文件《數(shù)字頻率計操作指引》檢驗項目檢驗項目缺陷屬性缺陷屬性缺陷描述缺陷描述檢驗方式檢驗方式備注備注包裝檢驗MAa.根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的PN及實物是否都正確任何有誤均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa.

6、實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同若不同不可接受；b.實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合若不吻合不可接受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa.字體模糊不清，難以辨認不可接受；b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c.元件變形，或受損露出本體等不可接受；d.Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性電性檢驗MAa.晶體不能起振不可接受；b.測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測試工位

7、和數(shù)字頻率計電性檢測方法電性檢測方法晶體晶體檢測方法32.768KHz16.934MHz25.000MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體再接通電源開機在正常開機后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機，看能否正常開機顯示；在正常開機顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看測量的頻