測(cè)井方法原理期末復(fù)習(xí)

1、測(cè)井方法原理與應(yīng)用測(cè)井方法原理與應(yīng)用1緒論緒論1.測(cè)井技術(shù)發(fā)展根據(jù)采集系統(tǒng)特點(diǎn)大致可分為測(cè)井技術(shù)發(fā)展根據(jù)采集系統(tǒng)特點(diǎn)大致可分為：模擬測(cè)井，數(shù)字測(cè)井，數(shù)控測(cè)井，成像測(cè)井2.常規(guī)測(cè)井方法按照測(cè)井系列可分為：常規(guī)測(cè)井方法按照測(cè)井系列可分為：巖性測(cè)井系列、孔隙度測(cè)井系列、電阻率測(cè)井系列；3.巖性測(cè)井系列包括：巖性測(cè)井系列包括：自然電位、自然伽馬、井徑測(cè)井；4.孔隙度測(cè)井系列包括孔隙度測(cè)井系列包括：聲波時(shí)差測(cè)井、密度測(cè)井、中子測(cè)井；5.電阻率測(cè)井

2、系列包括電阻率測(cè)井系列包括：深、中、淺探測(cè)的普通時(shí)電阻率測(cè)井、側(cè)向測(cè)井、感應(yīng)測(cè)井2自然電位測(cè)井自然電位測(cè)井1.自然電場(chǎng)產(chǎn)生的原因：自然電場(chǎng)產(chǎn)生的原因：（1）地層水和泥漿含鹽濃度不同而引起的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)和吸附電動(dòng)勢(shì)（2）地層壓力與泥漿柱壓力不同而引起的過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)2.由砂巖，泥巖、泥漿所組成的導(dǎo)電回路中，電動(dòng)勢(shì)Ed和Eda是串聯(lián)的，因此，在該回路中擴(kuò)散作用的總電動(dòng)勢(shì)Es為該兩電動(dòng)勢(shì)的代數(shù)和。Es=EdEda=Kd?lg(CwCmf)Kda?l

3、g(CwCmf)=Ks?lg(CwCmf)Ks=KdKdaKs總的擴(kuò)散、擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Es井內(nèi)自然電動(dòng)勢(shì)通常把Es記作SSP，稱為自然電位，此時(shí)的Ed的幅度稱為砂巖線，Eda稱為泥巖線。實(shí)際測(cè)井是通常都是以泥巖線作為自然電位測(cè)井曲線的基線。3.自然電位測(cè)井曲線的影響因素：自然電位測(cè)井曲線的影響因素：（1）巖性影響、（2）溫度影響、（3）地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響、（4）地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響、（5）地層電阻率的

4、影響、（6）地層厚度的影響、（7）井徑擴(kuò)大和泥漿侵入的影響4.自然電位測(cè)井的應(yīng)用：自然電位測(cè)井的應(yīng)用：（1）判斷巖性、劃分滲透層(2)判斷儲(chǔ)層中流體性質(zhì)；(3)計(jì)算地層水電阻率；（4）估計(jì)泥質(zhì)含量：①泥質(zhì)系數(shù)法②經(jīng)驗(yàn)公式法③關(guān)系曲線法（4)判斷水淹層(5)地層對(duì)比和沉積相研究3普通電阻率法測(cè)井普通電阻率法測(cè)井1.地層因素：地層因素：也叫相對(duì)電阻率，用F表示，F(xiàn)=RoRw，式中:Ro—孔隙中100％含水時(shí)的地層電阻率；Rw—地層水電阻率。

5、2.電阻增大系數(shù)：電阻增大系數(shù)：即含油巖石的電阻率Rt與該巖石完全含水時(shí)的電阻率R0之比，I=RtRo3.阿爾奇公式：阿爾奇公式：上式合稱為Archie公式，它們是應(yīng)用電阻率測(cè)井資料解釋具有顆?？紫兜暮畮r石和含油氣巖石的兩個(gè)基本解釋公式。式中b—系數(shù)，僅與巖性有關(guān)；n—飽和度指數(shù)，n≈2。4.阿爾奇公式的重要意義：阿爾奇公式的重要意義：1）奠定了測(cè)井定量解釋的基礎(chǔ)；2）架起了孔隙度測(cè)井（一般為聲測(cè)井與核測(cè)井）與飽和度測(cè)井（一般為電阻率

6、測(cè)井）之間的橋梁。mwaRRF???0??nonwtSbSbRRI????10nmtwwRabRS1??????????（RmfRw時(shí)）油層多為減阻侵入，水層多為增阻侵入。深側(cè)向RLLD＞淺側(cè)向RLLS為油層；反之為水層。3）求地層真電阻率Rt：對(duì)于較厚的高阻層可以通過(guò)深淺三側(cè)向組合圖版求出巖層的真電阻率Rt和侵入帶直徑Di。5.雙側(cè)向測(cè)井與三側(cè)向的比較：雙側(cè)向測(cè)井與三側(cè)向的比較：1)電極系結(jié)構(gòu)：LL3由三個(gè)柱狀電極構(gòu)成，雙側(cè)向由“七環(huán)

7、、兩柱”狀電極構(gòu)成。(2)探測(cè)深度：雙側(cè)向探測(cè)深度大于三側(cè)向。在泥漿侵入深時(shí)，LL3所測(cè)視電阻率受侵入帶影響大，深淺三側(cè)向探測(cè)深度差別小，給判斷油(氣)、水層帶來(lái)困難。其原因是：三側(cè)向的探測(cè)深度取決于電極系長(zhǎng)度，LL3電極系長(zhǎng)度有限，主電流從一開始就緩慢發(fā)散，到一定程度后擴(kuò)散劇烈，致使主電流不能進(jìn)入較深的地層。而雙側(cè)向的探測(cè)深度由屏蔽電極A1，A2的長(zhǎng)度決定。雙側(cè)向采用將屏蔽電極分為兩段，通過(guò)控制各段的電壓，達(dá)到增加探測(cè)深度目的。(3)

8、縱向分層能力：三側(cè)向的分層能力由主電極長(zhǎng)度決定。由于主電極較短，主電流呈水平狀進(jìn)入地層，降低了上下圍巖的影響，縱向分層能力較強(qiáng)，可劃分出h=0.4～0.5m以上地層電阻率的變化。雙側(cè)向的縱向分層能力與O1O2的距離有關(guān)，可劃分出hO1O2的地層電阻率變化。(4)影響因素：三側(cè)向受井眼、圍巖影響，探測(cè)深度不深，使用受限制。層厚、圍巖對(duì)深、淺雙側(cè)向的影響是相同的，淺雙側(cè)向比淺三側(cè)向受井眼影響小得多。(5)應(yīng)用：兩種側(cè)向測(cè)井都可用于劃分地質(zhì)剖

9、面，判斷油水層，確定地層電阻率Rt和侵入帶直徑Di。6.雙向測(cè)井資料應(yīng)用：雙向測(cè)井資料應(yīng)用：（1）確定地層的真電阻率需要做必要的井眼、圍巖、侵入三種因素的校正后即可用來(lái)確定地層的真電阻率。（2）劃分巖性剖面（3）快速直觀地判斷油水層。7.將深、淺側(cè)向視電阻率曲線重疊繪制如圖，觀察兩條曲線幅度的相對(duì)關(guān)系，在滲透層井段會(huì)出現(xiàn)幅度差。深側(cè)向曲線幅度大于淺側(cè)向曲線幅度，叫正幅度差（意味著泥漿低侵)，這種井段一般可以認(rèn)為是含油氣井段，反之，當(dāng)深側(cè)

10、向曲線幅度小于淺側(cè)向曲線幅度時(shí)，稱之為負(fù)幅度差（意味著高侵），這種井段可以認(rèn)為是含水井段。當(dāng)然最后確定油氣，水層還得參考其他測(cè)井資料綜合判斷做出可靠結(jié)論。5感應(yīng)測(cè)井感應(yīng)測(cè)井1.感應(yīng)測(cè)井原理：感應(yīng)測(cè)井原理：把裝有發(fā)射線圈T和接收線圈R的感應(yīng)測(cè)井探管放入井中，給發(fā)射線圈通交流電(常為20kHz)，在發(fā)射線圈周圍地層中產(chǎn)生交變磁場(chǎng)Φ1，這個(gè)交變磁場(chǎng)通過(guò)地層，在地層（假想線圈）中感應(yīng)出電流I1，此電流環(huán)繞井軸流動(dòng)，稱為渦流。渦流在地層中流動(dòng)又產(chǎn)

11、生交變磁場(chǎng)，這個(gè)磁場(chǎng)是地層中的感應(yīng)電流產(chǎn)生的，稱為二次磁場(chǎng)φ2二次磁場(chǎng)φ2穿過(guò)接收線圈R，并在R中感應(yīng)出電流，從而被記錄儀記錄。2.縱向微分幾何因子：縱向微分幾何因子：實(shí)際反映的是單位厚度水平地層幾何因子在縱向(軸向)上變化規(guī)律。物理意義是：厚度為1個(gè)單位，z值一定的無(wú)限延伸薄板狀介質(zhì)對(duì)視電導(dǎo)率的相對(duì)貢獻(xiàn)?？v向積分幾何因子：縱向積分幾何因子：雙線圈系處于厚度為h的地層中心時(shí)，地層對(duì)測(cè)量結(jié)果所作的貢獻(xiàn)。物理意義是：當(dāng)雙線圈系中點(diǎn)與地層中點(diǎn)