超聲波探傷實(shí)驗(yàn)

1、實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)超聲波探傷實(shí)驗(yàn)超聲波探傷實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、掌握超聲波探傷的原理與方法；2、學(xué)會(huì)使用SB—300型數(shù)字式超聲波探傷儀并能對缺陷進(jìn)行定性定量分析。二、實(shí)驗(yàn)設(shè)備SB—300型數(shù)字式超聲波探傷儀，CSK—Ⅰ型、CSK—Ⅲ標(biāo)準(zhǔn)試快，超聲波斜探頭、直探頭。三、數(shù)字式超聲波探傷儀原理四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容與步驟1、接通儀器電源，儀器自動(dòng)進(jìn)入[檢測]功能畫面。2、按“↓”鍵，推出[參數(shù)曲線]功能，進(jìn)入“選擇”，輸入待用探頭編號。3、參數(shù)預(yù)置：按“←”鍵

2、，光標(biāo)進(jìn)入左側(cè)參數(shù)窗，或按“”鍵盤進(jìn)入?yún)?shù)表格。參數(shù)預(yù)置包括：材料聲速、工件厚度、探頭K值、探頭頻率、校準(zhǔn)參數(shù)等。材料聲速：直探頭設(shè)為5940.00ms，斜探頭設(shè)為3240ms。4、探頭入射點(diǎn)校準(zhǔn)（以斜探頭為例）（1）準(zhǔn)備好CSK—Ⅰ型試快和斜探頭；（2）設(shè)置“標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)”為100mm，“座標(biāo)”選擇S座標(biāo)；（3）預(yù)測試：推出[校準(zhǔn)]菜單，在“掃查”前有一閃爍光標(biāo)，按認(rèn)可鍵進(jìn)入，移動(dòng)探頭，找到R100的反射波，調(diào)節(jié)閘門功能鍵套住R100的反

3、射波，用自動(dòng)增益功能鍵使回波幅度保持在滿刻度的60%左右，探頭不動(dòng)，按認(rèn)可鍵；（4）入射點(diǎn)校準(zhǔn)：光標(biāo)移至“校距離”前，按認(rèn)可鍵進(jìn)入，輕微移動(dòng)探頭，找到最大反射波，按認(rèn)可鍵退出；（5）入射點(diǎn)校準(zhǔn)完成后，保持探頭位置不變，用米尺量出探頭前沿到R100弧端點(diǎn)間的距離Rp，即Rp＝mm，用R100－Rp的值置入“前沿”參數(shù)中。5、斜探頭K值校準(zhǔn)（1）準(zhǔn)備好CSK—Ⅰ型試快和斜探頭；（2）“標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)”設(shè)為15mm，“座標(biāo)”選擇H；（3）預(yù)測試：與

4、入射點(diǎn)校準(zhǔn)相似，只是反射波為15mm深的人工孔的反射波；（4）光標(biāo)移至“校K值”前，按認(rèn)可鍵進(jìn)入，輕微移動(dòng)探頭，找到15mm人工孔的最大反射波，按自動(dòng)增益功能鍵使閘門內(nèi)回波調(diào)到滿刻度的60%左右，按認(rèn)可鍵退出K值校準(zhǔn)。K值校準(zhǔn)完成，此時(shí)K＝。６、制作斜探頭的距離——波幅曲線（1）準(zhǔn)備好CSK—Ⅲ型試快和斜探頭；（2）“材料聲速”設(shè)為3240ms，“座標(biāo)”選擇H；（3）推出[參數(shù)曲線]功能，進(jìn)入“選擇”，輸入探頭編號（1~10有效）；（4

5、）進(jìn)入“測試”功能，輸入測試點(diǎn)（3~9個(gè)）按認(rèn)可鍵。將探頭在測試點(diǎn)附近移動(dòng)，找到該點(diǎn)心最大回波，并記錄下來，按認(rèn)可鍵完成一個(gè)點(diǎn)測試。當(dāng)測試點(diǎn)全部完成，即可得到距離——波幅曲線；（5）個(gè)別測試不理想，可用“調(diào)整”功能進(jìn)行微調(diào)；（6）記錄下調(diào)整后的距離——波幅曲線。7、探傷檢測在距離——波幅曲線基礎(chǔ)上，根據(jù)不同工件，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定“判廢”、“定量”和“評定”值，則可獲得定量線和判廢線。記錄下相關(guān)曲線。探頭在工件上移動(dòng)，如遇到缺陷回波超過定量