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1、實(shí)驗(yàn)室檢測能力范圍（中文）1項(xiàng)目參數(shù)序號產(chǎn)品產(chǎn)品類別序號名稱領(lǐng)域代碼檢測標(biāo)準(zhǔn)（方法）名稱及編號（含年號）限制范圍及說明1潔凈度等級1516112溫濕度1517043測量地電壓1010254接地電阻測量1010255靜電泄漏電阻0434016表面電阻0434027電源轉(zhuǎn)換器0502021潔凈室8固定電源插座050202潔凈廠房設(shè)計(jì)規(guī)范GB500732001潔凈室施工及驗(yàn)收規(guī)范JGJ711990濕度測量方法GB116051989潔凈室綜合性

2、能檢測方法QW10662004接地電阻測試方法QW9422002防靜電系統(tǒng)測試方法QW9682002電源轉(zhuǎn)換器檢定規(guī)程QW892－2000固定電源插座安全檢定方法QWR.J13020031開路電壓0415012短路電流0415013最佳工作電壓0415014最佳工作電流0415015最大輸出功率0415016光電轉(zhuǎn)換效率0415017填充因數(shù)0415018伏安特性0415019短路電流溫度系數(shù)0415012太陽電池（單片及組件）10開路

3、電壓溫度系數(shù)041501航天用太陽電池電性能測試方法GBT64941986地面用硅太陽電池電性能測試方法SJT219619823噪聲系數(shù)測試裝置1噪聲系數(shù)041904微波元器件性能測試方法GJB265019961增益4放大器2噪聲系數(shù)041909微波元器件性能測試方法GJB265019961電壓駐波比5定向耦合器2衰減量041910微波元器件性能測試方法GJB265019961電壓駐波比6功分器、失配器、負(fù)載、濾波器、隔離器2衰減量04

4、1910微波元器件性能測試方法GJB265019967作業(yè)環(huán)境1電磁輻射強(qiáng)度與場強(qiáng)0427環(huán)境電磁波衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)GB91751988作業(yè)場所微波輻射衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)GB104361989作業(yè)場所超高頻輻射衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)GB1043719891掃描時(shí)間0413032上升時(shí)間0413013電壓幅度0413024頻響0413018模擬示波器5校準(zhǔn)信號電平040901陰級射線示波器通用規(guī)范GBT65851996實(shí)驗(yàn)室檢測能力范圍（中文）3序號產(chǎn)品產(chǎn)品類別項(xiàng)目參數(shù)

5、領(lǐng)域代碼檢測標(biāo)準(zhǔn)（方法）名稱及編號（含年號）限制范圍及說明序號名稱18卡尺1部分項(xiàng)目130323游標(biāo)類卡尺GBT12141996電子數(shù)顯卡尺GBT14899–94帶表卡尺GBT6317–93不做硬度19刀口形直尺1部分項(xiàng)目130303刀口形直尺GBT6091–2004不做硬度20塞尺1部分項(xiàng)目130325塞尺JBT8788–1998不做硬度21自準(zhǔn)直儀1部分項(xiàng)目130901自準(zhǔn)直儀JBT82321999只做儀器準(zhǔn)確度、示值穩(wěn)定度22水平

6、儀1部分項(xiàng)目130905電子水平儀JBT100381999合像水平儀JBT32381999條式和框式水平儀GBT164551996不做主體材料特性23平晶1部分項(xiàng)目130311平面平晶JBT74011994平行平晶JBT74021994不做材料特性24平板1部分項(xiàng)目130809鑄鐵平板JBT79741999巖石平板JBT79751999只做平面度、表面粗糙度25平尺1部分項(xiàng)目130307鑄鐵平尺JBT79771999鋼平尺和巖石平尺JB

7、T79781999不做硬度和自然撓度26正多面棱體1部分項(xiàng)目130801正多面棱體JBT100181999不做硬度27多齒分度臺1部分項(xiàng)目130806JBT4316.21999直齒端齒盤精度檢驗(yàn)只做分度精度、重復(fù)精度28分度頭1部分項(xiàng)目130806等分分度頭精度檢驗(yàn)JBT3853.21999機(jī)械分度頭精度檢驗(yàn)GBT2554.198光學(xué)分度頭GBT33711995不做光學(xué)分度頭的電氣防護(hù)安全、抗干擾、貯運(yùn)性能檢驗(yàn)29三針1部分項(xiàng)目1301