電氣工程與自動(dòng)化畢業(yè)論文集成電路檢測(cè)儀主控電路的設(shè)計(jì)

1、<p>　　本 科 畢 業(yè) 設(shè) 計(jì)</p><p>　　集成電路檢測(cè)儀主控電路的設(shè)計(jì)</p><p>　　所在學(xué)院 </p><p>　　專業(yè)班級(jí) 電氣工程與自動(dòng)化 </p><p>　　學(xué)生姓名 學(xué)號(hào) <

2、;/p><p>　　指導(dǎo)教師 職稱 </p><p>　　完成日期 年 月 </p><p><b>　　摘要</b></p><p>　　隨著集成電路的發(fā)展的日益廣泛的應(yīng)用，其相關(guān)檢測(cè)技術(shù)也顯得的愈發(fā)重要。在對(duì)集成電路的設(shè)計(jì)驗(yàn)證以及各

3、種維護(hù)都需要對(duì)集成電路的性能進(jìn)行測(cè)試，因此對(duì)這方面的研究是具有一定的實(shí)際意義的。</p><p>　　本文設(shè)計(jì)的集成電路檢測(cè)儀主控電路的設(shè)計(jì)采用單片機(jī)AT89C51為核心，控制整個(gè)檢測(cè)儀進(jìn)行工作，使檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)檢測(cè)功能。整個(gè)工作流程是當(dāng)芯片放入導(dǎo)軌，芯片進(jìn)入分粒器，分粒器進(jìn)行分粒使一塊芯片進(jìn)入下階段的檢測(cè)，芯片到達(dá)檢測(cè)區(qū)后，驅(qū)動(dòng)檢測(cè)夾板夾緊芯片，然后對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試出芯片是好的或壞的對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)氣缸推動(dòng)接收的管放入

4、FAIL管或PASS管。</p><p>　　論文的第一章主要闡述本人設(shè)計(jì)的背景和意義，本文需要解決的主要問題。第二章對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的總方案做下介紹。第三章主要對(duì)硬件的系統(tǒng)構(gòu)成做下介紹。第四章要對(duì)軟件的系統(tǒng)構(gòu)成做下介紹。</p><p>　　以AT89C51單片機(jī)為核心設(shè)計(jì)的集成電路檢測(cè)儀的主控電路，電路簡(jiǎn)單可靠，測(cè)試精確快速，并且具有體積小，重量輕，成本低等優(yōu)點(diǎn)。</p>&l

5、t;p>　　關(guān)鍵字：集成電路；檢測(cè)；AT89C51；傳感器；LCD</p><p><b>　　Abstract</b></p><p>　　With the development of integrated circuits increasingly wide range of applications, the correlation detection

6、technology also appears in the increasingly important. In the design verification of integrated circuits and a variety of maintenance are required to test the performance of integrated circuits, the British research in t

7、his area is the female has a certain practical significance.   Detector integrated circuit designed in this paper the design of main control circuit sensor using AT89</p><p><b>　　朗讀</b>&l

8、t;/p><p>　　顯示對(duì)應(yīng)的拉丁字符的拼音</p><p><b>　　字典</b></p><p>　　In the first chapter describes the background and meaning of my design, the paper the main issues to be resolved. Chapte

9、r II of the system do the next describes the overall program. The third chapter of the hardware to do the next describes the system structure. Chapter IV of the software to do the next describes the system structure.朗讀&l

10、t;/p><p>　　顯示對(duì)應(yīng)的拉丁字符的拼音</p><p><b>　　字典</b></p><p>　　The AT89C51 microcontroller as the core design of the master integrated circuit detector circuit, the circuit is simple,

11、 reliable, precise and rapid testing, and small size, light weight and low cost. Keywords: integrated circuit；testing；AT89C51；sensors；LCD </p><p><b>　　朗讀</b></p><p>　　顯示對(duì)應(yīng)的拉丁字符的拼音&

12、lt;/p><p><b>　　字典</b></p><p><b>　　目錄</b></p><p><b>　　第1章 緒論1</b></p><p>　　1.1 課題的研究背景和意義1</p><p>　　1.2主要問題的提出與解決方案1<

13、/p><p>　　1.3 檢測(cè)儀的基本原理和構(gòu)成1</p><p>　　1.4 設(shè)計(jì)內(nèi)容及要求2</p><p>　　第2章 檢測(cè)儀的總體方案3</p><p>　　2.1 集成電路檢測(cè)儀主控電路的特點(diǎn)3</p><p>　　2.2總方案的構(gòu)成3</p><p>　　2.3 電路總體設(shè)計(jì)思

14、路分析3</p><p>　　2.4 電路主要功能的要求3</p><p>　　2.5集成電路檢測(cè)儀控制系統(tǒng)方案4</p><p><b>　　2.6工作流程4</b></p><p>　　第3章 硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)6</p><p>　　3.1單片機(jī)外圍電路的設(shè)計(jì)6</p>

15、<p>　　3.1.1 單片機(jī) AT89C51介紹6</p><p>　　3.1.2 單片機(jī)必要工作條件8</p><p>　　3.1.3 單片機(jī)外接電磁閥電壓轉(zhuǎn)換電路9</p><p>　　3.2 LCD電路的設(shè)計(jì)10</p><p>　　3.2.1 LCD電路模塊的要求和選擇10</p><

16、;p>　　3.2.2 LCD12864的基本特性11</p><p>　　3.3 按鍵的設(shè)計(jì)16</p><p>　　3.4 傳感器部分電路設(shè)計(jì)16</p><p>　　3.4.1光電傳感器16</p><p>　　3.4.2霍爾開關(guān)傳感器17</p><p>　　3.4.3 微動(dòng)開關(guān)傳感器17<

17、;/p><p>　　3.4.4 檢測(cè)夾具的運(yùn)用17</p><p>　　第4章 軟件部分的設(shè)計(jì)19</p><p>　　4.1主程序流程圖19</p><p>　　4.2 LCD12864液晶顯示電路和按鍵電路的軟件設(shè)計(jì)20</p><p><b>　　設(shè)計(jì)總結(jié)22</b></p>

18、;<p><b>　　致謝23</b></p><p><b>　　參考文獻(xiàn)24</b></p><p><b>　　附錄125</b></p><p><b>　　附錄227</b></p><p><b>　　第1章 緒

19、論</b></p><p>　　1.1 課題的研究背景和意義</p><p>　　自1947年12月，世界第一個(gè)晶體管的誕生，晶體管便拉開了人類社會(huì)步入電子時(shí)代的序幕。之后，1958年TI的公司科學(xué)家研制出世界上第一塊集成電路。在后來的幾十年里集成電迅速發(fā)展成電子信息的產(chǎn)業(yè)的核心。集成電路具有體積小，重量輕，引出線和焊接點(diǎn)少，壽命長(zhǎng)，可靠性高，性能好等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)成本低，便于大規(guī)

20、模生產(chǎn)。它不僅在工、民用電子設(shè)備如收錄機(jī)、電視機(jī)、計(jì)算機(jī)等方面得到廣泛的應(yīng)用，同時(shí)在軍事、通訊、遙控等方面也得到廣泛的應(yīng)用。用集成電路來裝配電子設(shè)備，其裝配密度比晶體管可提高幾十倍至幾千倍，設(shè)備的穩(wěn)定工作時(shí)間也可大大提高。集成電路芯片的出現(xiàn)與發(fā)展，給人類進(jìn)入信息時(shí)代提供了源動(dòng)力。</p><p>　　現(xiàn)在集成電路的制造技術(shù)在工廠生產(chǎn)條件下，已經(jīng)在深亞微米層次上加工細(xì)微化，硅片大直徑化，加工環(huán)境，生產(chǎn)自動(dòng)化，設(shè)備超

21、凈化，柔性化發(fā)展。在我國，集成電路的生產(chǎn)因?yàn)槠鸩酵?，在人才方面比較缺乏等一些原因，發(fā)展的的層次較低，當(dāng)國內(nèi)也已經(jīng)采取相關(guān)措施加快集成電路的發(fā)展，現(xiàn)在國內(nèi)已經(jīng)可以投產(chǎn)0.35微米甚至0.25微米的集成電路工藝線，更小線寬的工藝線也在建設(shè)中，相信國內(nèi)的集成電路行業(yè)將會(huì)速度發(fā)展起來。</p><p>　　集成電路的發(fā)展也必然離不開集成電路的檢測(cè)與分析的研究?？梢哉f沒有了電路的檢測(cè)與分析的研究，集成電路也不可能如此快速的

22、正常發(fā)展。因此跟蹤檢測(cè)技術(shù)的前沿，研究新的檢測(cè)理論技術(shù)，開發(fā)高性能的檢測(cè)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)非常重要。目前，我國的集成電路技術(shù)與國外相比，還有一端不小的差距。國內(nèi)有關(guān)集成電路檢測(cè)的理論分析的資料還很缺乏。目前的集成電路測(cè)試系統(tǒng)可以主要分兩種集成電路測(cè)試系統(tǒng)，一種是整板測(cè)試，稱板級(jí)測(cè)試系統(tǒng)。另一種是對(duì)單個(gè)芯片測(cè)試稱芯片測(cè)試系統(tǒng)。電路板的測(cè)試可分為帶微處理器的的電路板的測(cè)試和不帶微處理器的電路板的測(cè)試，及CPU板和普通電路板的測(cè)試。芯片的測(cè)試又分

23、在線測(cè)試和離線測(cè)試。所謂在線測(cè)試是指對(duì)焊接在電路板上的各種芯片做邏輯測(cè)試和故障測(cè)試；而離線測(cè)試是對(duì)脫離電路板的芯片進(jìn)行測(cè)試和故障判斷。</p><p>　　隨著電子芯片市場(chǎng)的快速發(fā)展，有很多不法商人用損壞的芯片或者假的芯片代替好的芯片來牟取暴利。同時(shí)在學(xué)校的電子實(shí)驗(yàn)當(dāng)中也經(jīng)常需要判斷集成芯片是否損壞，芯片的正常與否是教學(xué)順利進(jìn)行的必要條件。因此對(duì)集成電路檢測(cè)儀的研制是非常有必要的。</p><

24、p>　　1.2主要問題的提出與解決方案</p><p>　　本文設(shè)計(jì)的檢測(cè)儀屬于測(cè)試芯片功能是否完好的測(cè)試系統(tǒng)，通過測(cè)試的結(jié)果對(duì)好的和壞的芯片進(jìn)行分粒，本文中需要解決的主要問題有：</p><p>　　1、使用的電源電壓為+5V，供電方式為直流穩(wěn)壓電路。</p><p>　　2、各種傳感器的選擇。</p><p>　　3、液晶顯示器的連

25、接控制。</p><p>　　4、對(duì)原理圖的繪制。</p><p><b>　　5、論文的書寫</b></p><p>　　1.3 檢測(cè)儀的基本原理和構(gòu)成</p><p>　　整臺(tái)機(jī)器主要由底座和工作斜平面組成。工作斜平面固定在底座上，與水平面呈一定角度。工作斜平面上裝有導(dǎo)軌，未分撿的集成電路經(jīng)添料翻斗添入導(dǎo)軌，在重力作

26、用下滑入導(dǎo)軌底部。導(dǎo)軌內(nèi)通有氣流，以減少芯片與導(dǎo)軌的摩擦力。導(dǎo)軌底部有分粒器，每次釋放一粒芯片進(jìn)入測(cè)試區(qū)。芯片進(jìn)入測(cè)試區(qū)之后，專用夾具帶動(dòng)金手指夾住芯片管腳，金手指引出導(dǎo)線連接到測(cè)試機(jī)，測(cè)試機(jī)對(duì)該芯片進(jìn)行通電測(cè)試性能。測(cè)試機(jī)判斷芯片性能為正品或次品，反饋給分撿機(jī)的控制電路?？刂齐娐犯鶕?jù)芯片是否正品，驅(qū)動(dòng)分料梭移動(dòng)到相應(yīng)的位置，使正品管或次品管準(zhǔn)備接收已測(cè)試完畢的芯片。接著測(cè)試區(qū)后的擋板釋放測(cè)試完畢的芯片，在重力作用下，芯片落入相應(yīng)的管中

27、。</p><p>　　機(jī)器的運(yùn)動(dòng)部件均為氣動(dòng)元件，由氣泵提供壓縮空氣作為動(dòng)力，控制元件為電磁閥。運(yùn)動(dòng)部件有：分粒器、測(cè)試夾、測(cè)試擋板、分料梭及導(dǎo)軌氣流。</p><p>　　芯片位置傳感器為光電傳感器，有：器件在導(dǎo)軌中列滿、器件在分粒器、測(cè)試區(qū)有2粒器件、測(cè)試區(qū)有器件、器件卡在檢測(cè)站后、器件進(jìn)入PASS管、器件進(jìn)入FAIL管。</p><p>　　有兩個(gè)微動(dòng)開關(guān)傳

28、感器：PASS管存在、FAIL管存在。</p><p>　　有兩個(gè)霍爾開關(guān)傳感器：分料梭氣缸在PASS位、分料梭氣缸在FAIL位。</p><p>　　有5個(gè)按鈕開關(guān)：開始、停止、復(fù)位、急停、測(cè)試。</p><p>　　有5個(gè)輸出指示燈：PASS管料滿、FAIL管料滿、紅色指示燈、黃色指示燈、綠色指示燈。</p><p>　　有一個(gè)聲音報(bào)警輸

29、出。</p><p>　　與測(cè)試機(jī)的接口信號(hào)為TTL信號(hào)：開始測(cè)試、清除EOT、測(cè)試結(jié)束（EOT）、測(cè)試進(jìn)行中、BIN1（PASS）、BIN2（FAIL）。</p><p>　　圖1.1 集成電路檢測(cè)儀成品圖</p><p>　　1.4 設(shè)計(jì)內(nèi)容及要求</p><p><b>　　研究的基本內(nèi)容</b></p>

30、;<p>　　設(shè)計(jì)一個(gè)集成電路檢測(cè)儀的主控電路。</p><p>　　1、液晶顯示操作界面。</p><p>　　2、自動(dòng)分粒、自動(dòng)檢測(cè)、根據(jù)檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)分料。</p><p>　　3、自動(dòng)計(jì)數(shù)，接料管滿自動(dòng)停機(jī)并報(bào)警。</p><p>　　4、卡料自動(dòng)停機(jī)并報(bào)警。</p><p>　　第2章 檢測(cè)儀的總

31、體方案</p><p>　　2.1 集成電路檢測(cè)儀主控電路的特點(diǎn)</p><p>　　該檢測(cè)儀是以AT89C51單片機(jī)為核心，通過軟件編程，對(duì)液晶顯示器和檢測(cè)的整個(gè)過程進(jìn)行控制，同時(shí)對(duì)檢測(cè)中出現(xiàn)的問題及故障進(jìn)行自動(dòng)報(bào)警。各種芯片的廠家都擁有自己芯片的測(cè)試系統(tǒng)一般都在芯片出廠前檢測(cè)出芯片的基本參數(shù)和功能，但對(duì)于一些小企業(yè)和高校來說并不關(guān)心芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，只要芯片的邏輯功能正確就好了，本文的檢

32、測(cè)儀針對(duì)一些企業(yè)和高校的實(shí)驗(yàn)室來說具有成本低，穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確率高的特點(diǎn)。</p><p><b>　　2.2總方案的構(gòu)成</b></p><p>　　在自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，各個(gè)組成部分常以信息流的過程來劃分，一般分為：信息的獲取、轉(zhuǎn)換、處理和輸出幾部分。它首先要獲取被檢測(cè)的信息，把它變換成單位，然后把已轉(zhuǎn)換成電量的信息進(jìn)行放大、整形等轉(zhuǎn)換處理，在通過輸出單位（如液晶顯示儀

33、）把信息顯示出來，或者通過輸出單位把已經(jīng)處理的信息送到控制系統(tǒng)其他單元使用，成為控制系統(tǒng)的一部分等，其組成部分如下圖2.1所示</p><p>　　圖2.1 基本檢測(cè)流程圖</p><p>　　2.3 電路總體設(shè)計(jì)思路分析</p><p>　　電路的設(shè)計(jì)圍繞AT89C51單片機(jī)為核心，主要由檢測(cè)電路模塊，單片機(jī)控制電路模塊，TCM點(diǎn)陣液晶顯示模塊，按鍵控制模塊、電磁

34、閥控制模塊、各種傳感器和報(bào)警電路模塊等。</p><p><b>　　圖2.2 系統(tǒng)框圖</b></p><p>　　2.4 電路主要功能的要求</p><p>　　1、鍵盤控制檢測(cè)儀的開始、停止、復(fù)位、急停、測(cè)試。</p><p>　　2、運(yùn)行故障或出現(xiàn)問題能夠自動(dòng)報(bào)警。</p><p>　　3

35、、微動(dòng)開關(guān)傳感器的自動(dòng)計(jì)數(shù)和氣缸的推進(jìn)縮回的控制。</p><p>　　4、霍爾開關(guān)對(duì)PASS管和FAIL管的滿管報(bào)警。</p><p>　　2.5集成電路檢測(cè)儀控制系統(tǒng)方案</p><p>　　1、電源：?jiǎn)蜗嘟涣?20V輸入，成品開關(guān)電源直流24V輸出供給控制板及電磁閥驅(qū)動(dòng)電路。</p><p>　　2、控制板CPU：高速單片機(jī)。</

36、p><p>　　3、人機(jī)接口：液晶觸摸屏。</p><p>　　4、控制系統(tǒng)尺寸： ≤390×350×120mm（長(zhǎng)寬高）</p><p>　　5、I/O點(diǎn)數(shù)：共31點(diǎn)。</p><p>　　表2.1 集成電路檢測(cè)儀控制系統(tǒng)方案</p><p><b>　　2.6工作流程</b>&

37、lt;/p><p>　　整臺(tái)機(jī)器主要由底座和工作斜平面組成。工作斜平面上裝有導(dǎo)軌，未分撿的集成電路經(jīng)添料翻斗添入導(dǎo)軌，在重力作用下滑入導(dǎo)軌底部。導(dǎo)軌底部有分粒器，每次釋放一粒芯片進(jìn)入測(cè)試區(qū)。芯片進(jìn)入測(cè)試區(qū)之后，專用夾具帶動(dòng)金手指夾住芯片管腳，金手指引出導(dǎo)線連接到測(cè)試機(jī)，測(cè)試機(jī)對(duì)該芯片進(jìn)行通電測(cè)試性能。測(cè)試機(jī)判斷芯片性能為正品或次品，反饋給分撿機(jī)的控制電路?？刂齐娐犯鶕?jù)芯片是否正品，驅(qū)動(dòng)分料梭移動(dòng)到相應(yīng)的位置，使正品管

38、或次品管準(zhǔn)備接收已測(cè)試完畢的芯片。接著測(cè)試區(qū)后的擋板釋放測(cè)試完畢的芯片，在重力作用下，芯片落入相應(yīng)的管中。</p><p>　　1．分料梭處插入兩根空料管，若無料管則報(bào)警。</p><p>　　2．翻斗上翻，把料導(dǎo)入導(dǎo)軌中，料管中無料則報(bào)警。</p><p>　　3．當(dāng)分粒器感應(yīng)到有料時(shí)，分粒器放料，芯片落在測(cè)試區(qū)。若分粒器沒有感應(yīng)到有料，則報(bào)警。</p>

39、;<p>　　4．當(dāng)測(cè)試區(qū)傳感器感應(yīng)到有料時(shí)，測(cè)試夾夾緊，然后向測(cè)試電路發(fā)開始測(cè)試信號(hào)，測(cè)試電路開始工作。若分粒器感應(yīng)到無料或有2粒器件，則報(bào)警。</p><p>　　5．測(cè)試機(jī)測(cè)試結(jié)束后，反饋給分撿機(jī)一個(gè)測(cè)試結(jié)束信號(hào)。分撿機(jī)根據(jù)測(cè)試結(jié)果（BIN1、BIN2）信號(hào)推動(dòng)分料梭氣缸運(yùn)動(dòng)到相應(yīng)位置，然后測(cè)試擋板放料，器件落入相應(yīng)管中。</p><p>　　6．若芯片卡在測(cè)試區(qū)和分料

40、梭之間，則報(bào)警。</p><p>　　7．當(dāng)芯片進(jìn)入料管時(shí)，計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)。當(dāng)料管中的芯片達(dá)到設(shè)定值時(shí)，料滿指示燈亮。</p><p>　　第3章 硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)</p><p>　　3.1單片機(jī)外圍電路的設(shè)計(jì)</p><p>　　單片機(jī)的外圍電路包括鍵盤控制模塊、芯片檢測(cè)模塊，液晶顯示模塊、并能實(shí)現(xiàn)故障報(bào)警功能。由單片機(jī)對(duì)芯片檢測(cè)模塊采集來的數(shù)據(jù)

41、進(jìn)行判斷芯片的好壞。鍵盤控制電路用于控制整個(gè)檢測(cè)儀的運(yùn)行。芯片檢測(cè)模塊用于收發(fā)檢測(cè)獲得的信號(hào)。顯示模塊用于顯示儀器的整體運(yùn)行情況。電磁閥控制用于單片機(jī)控制電磁閥的動(dòng)作，電磁閥是推動(dòng)氣缸的動(dòng)力來源。</p><p>　　3.1.1 單片機(jī) AT89C51介紹</p><p>　　AT89C51單片機(jī)是一個(gè)低電壓，高性能的8位單片機(jī)，器件采用了ATMEL公司的非易失性，高密度的存儲(chǔ)技

42、術(shù)生產(chǎn)，可以兼容MCS-51的指令系統(tǒng)，單片機(jī)內(nèi)置了通用型Flash存儲(chǔ)單元和八位中央處理器，為功能強(qiáng)大的AT89C51單片機(jī)提供了具有很高性價(jià)比的解決方案。</p><p>　　AT89C51是一個(gè)高性能低能耗的單片機(jī)，它有32個(gè)外部雙向輸出輸入接口，40個(gè)引腳，兩個(gè)十六位的可編程定時(shí)計(jì)數(shù)器，兩個(gè)外部中斷口還有兩個(gè)串行通信數(shù)據(jù)接口，AT89C51可以在線編程，同時(shí)也可以按照常規(guī)的編程方法進(jìn)行編程。它將通用的Fl

43、ash存儲(chǔ)器和微型處理器相結(jié)合，其內(nèi)置的可反復(fù)擦拭讀寫的Flash存儲(chǔ)器可以非常有效的降低系統(tǒng)開發(fā)成本。</p><p>　　AT89C51單片機(jī)的主要特性如下：</p><p>　　（1）可與MCS-51 兼容 </p><p>　?。?）數(shù)據(jù)保留時(shí)間：10年 </p><p>　　（3）壽命：1000寫/擦循環(huán)</p>&l

44、t;p>　　（4）4K字節(jié)可編程閃爍存儲(chǔ)器</p><p>　?。?）全靜態(tài)工作：0Hz-24Hz</p><p>　　（6）128*8位內(nèi)部RAM</p><p>　?。?）對(duì)三級(jí)程序存儲(chǔ)器的鎖定</p><p>　?。?）32位可編程輸入輸出線</p><p><b>　　（9）5個(gè)中斷源 <

45、/b></p><p>　?。?0）兩個(gè)16位定時(shí)器/計(jì)數(shù)器</p><p>　?。?1）可編的程串行通道</p><p>　?。?2）低能耗的閑置和掉電模式</p><p>　?。?3）片內(nèi)自帶振蕩器和時(shí)鐘電路</p><p>　　輸入輸出端口的編程是根據(jù)應(yīng)用電路的功能和具體的要求對(duì)寄存器進(jìn)行編程。其編程步驟如

46、下：</p><p>　　1、根據(jù)設(shè)計(jì)的要求來選擇需要使用的輸入輸出端口，再用偽指令來定義其相應(yīng)的寄存器；</p><p>　　2、初始化端口的輸出寄存器，應(yīng)該要注意的是在輸出時(shí)的剛開始階段避免不確定狀態(tài)的出現(xiàn)。</p><p>　　3、根據(jù)外接電路確定 I/O 端口的方向，并且初始化端口數(shù)據(jù)方向寄存器。但是對(duì)于輸入端口的初始化可以不作考慮，因?yàn)?I/O 的復(fù)位初始

47、值就是為輸入的。</p><p>　　4、假如用作輸入的 I/O 端口管腳需要上拉，在通過管腳的上拉寄存器為其內(nèi)部配置上上拉電阻。</p><p>　　5、最后才可以編寫對(duì) I/O 端口進(jìn)行輸入輸出的程序，以達(dá)到整個(gè)系統(tǒng)的功能要求。    </p><p>　　圖3.1 AT89C51單片機(jī)芯片</p><

48、p>　　我根據(jù)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求，把各接口的功能做如下安排：</p><p>　　P0.0: 用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.1: 用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.2: 用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.3: 用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.4:

49、用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.5: 用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.6: 用于光電傳感器信號(hào)傳輸</p><p>　　P0.7：報(bào)警器報(bào)警信號(hào)輸出</p><p>　　P1.0: 微動(dòng)開關(guān)進(jìn)行PASS管的計(jì)數(shù)和滿管報(bào)警</p><p>　　P1.1: 微動(dòng)開關(guān)進(jìn)行FAIL管的計(jì)數(shù)和

50、滿管報(bào)警</p><p>　　P1.2: 檢測(cè)夾具的夾緊</p><p>　　P1.3：電磁閥的連接</p><p>　　P1.4: 分粒器的分料</p><p>　　P1.5：檢測(cè)夾具的放料</p><p>　　P2.0：霍爾開關(guān)傳感器檢測(cè)PASS管的存在</p><p>　　P2.1: 霍爾

51、開關(guān)傳感器檢測(cè)FAIL管的存在</p><p>　　P2.2: 芯片檢測(cè)的輸出信號(hào)</p><p>　　P2.3: 芯片檢測(cè)的輸出信號(hào)</p><p>　　P2.4: 芯片檢測(cè)的輸入信號(hào)</p><p>　　P2.5: 芯片檢測(cè)的輸入信號(hào)</p><p>　　P2.6：芯片檢測(cè)的輸入信號(hào)</p><

52、p>　　P2.7: 芯片檢測(cè)的輸入信號(hào)</p><p>　　P3.0: 輸出報(bào)警燈報(bào)警信號(hào)</p><p>　　P3.1: 輸出報(bào)警燈報(bào)警信號(hào)</p><p>　　P3.2: 輸出報(bào)警燈報(bào)警信號(hào)</p><p>　　P3.3: 輸出報(bào)警燈報(bào)警信號(hào)</p><p>　　P3.4: 輸出報(bào)警燈報(bào)警信號(hào)</p&g

53、t;<p>　　XTAL1：接外部晶振。在單片機(jī)的內(nèi)部，這個(gè)端口是一反相放大器的輸入端，這個(gè)反相放大器就是構(gòu)成片內(nèi)的振蕩器。當(dāng)系統(tǒng)采用的是外部振蕩器時(shí)，這個(gè)引腳就應(yīng)該接地。</p><p>　　XTAL2：也是接外部晶振。在單片機(jī)內(nèi)是接到振蕩器的反相放大器的輸出端，還有內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器的輸入端口。當(dāng)系統(tǒng)采用的是外部振蕩器時(shí)，那么該引腳就應(yīng)該接外部振蕩信號(hào)的輸入端口。</p><p&

54、gt;　　RST：AT89C51 的復(fù)位信號(hào)輸入引腳，此引腳的工作點(diǎn)位為高電位，當(dāng)要對(duì)芯片復(fù)位時(shí)，那么只要簡(jiǎn)單的將這個(gè)管腳的點(diǎn)位提高到高點(diǎn)位就可以實(shí)現(xiàn)，AT89C51 就馬上能完成系統(tǒng)的復(fù)位動(dòng)作。</p><p>　　3.1.2 單片機(jī)必要工作條件</p><p>　　電源電路：?jiǎn)纹瑱C(jī)工作需要5V的穩(wěn)定電壓。12V的電壓經(jīng)過整流橋整流，經(jīng)過穩(wěn)壓管的穩(wěn)壓，得到5V的電壓，電容起到濾波的作用，

55、二極管和電阻起到保護(hù)電路的作用。</p><p>　　圖3.2 單片機(jī)的電源電路</p><p>　　復(fù)位電路：89系列的單片機(jī)的復(fù)位信號(hào)通過RST引腳輸入到芯片里面的施密特觸發(fā)器里面。當(dāng)系統(tǒng)處于正常的工作狀態(tài)時(shí)，并且振蕩器穩(wěn)定后，如果RST引腳上有一個(gè)高電平并維持2個(gè)機(jī)器周期（24個(gè)振蕩周期）以上，則CPU就可以響應(yīng)并且將系統(tǒng)復(fù)位。單片機(jī)復(fù)位系統(tǒng)的基本方式有：上電復(fù)位、按鍵復(fù)位、按鍵脈沖

56、復(fù)位3種。其中上電自動(dòng)復(fù)位是通過電容充電來實(shí)現(xiàn)。只要電源Vcc的上升時(shí)間不超過1ms，就可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上電復(fù)位，即接通電源即可完成系統(tǒng)的復(fù)位初始化。手動(dòng)復(fù)位是通過按鍵實(shí)現(xiàn)的，有電平方式和脈沖方式兩種。其中按鍵電平復(fù)位是通過使復(fù)位端經(jīng)電阻與Vcc電源接通而實(shí)現(xiàn)的。而按鍵脈沖復(fù)位則是利用RC微分電路產(chǎn)生的正脈沖來實(shí)現(xiàn)的。本文實(shí)用的復(fù)位電路采用的是按鍵電平復(fù)位。如圖所示，當(dāng)不按鍵的時(shí)候，電容C5處于充電狀態(tài)，當(dāng)我們按下按鍵的時(shí)候，電容開始放電，

57、與電阻R36組成一個(gè)RC回路，整個(gè)過程生成了一個(gè)高電平脈沖，這個(gè)脈沖遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于兩個(gè)機(jī)器的周期，所以人的速度再快也會(huì)是按鍵保持接通幾十毫秒，滿足復(fù)位的時(shí)間要求，R37是為了保證按鍵按下之后RST端為高電平。</p><p>　　圖3.3 按鍵電平復(fù)位</p><p>　　時(shí)鐘電路：AT89C51單片機(jī)的時(shí)鐘形成產(chǎn)生有兩種形式：內(nèi)部電路振蕩方式和外部時(shí)鐘輸入方式，本文采用的內(nèi)部電路振蕩，在引腳

58、XTAL1和XTAL2外接晶體振蕩器或陶瓷諧振器，就構(gòu)成內(nèi)部振蕩方式。AT89C51單片機(jī)中的高增益反相放大器，通過這兩個(gè)引腳在芯片外并接石英晶體振蕩器和兩個(gè)電容器。石英晶體為一感性元件，與電容構(gòu)成振蕩回路，為片內(nèi)放大器提供正反饋和振蕩所需的相移條件，從而構(gòu)成一個(gè)穩(wěn)定的自激振蕩器。圖中，電容C1，C2起穩(wěn)定振蕩頻率、快速起振的作用，其電容值一般在5-30pF。晶振頻率的典型數(shù)值為11.05MHz，采用6MHz也可以，如圖3-2所示：&l

59、t;/p><p>　　圖3.4 內(nèi)部振蕩電路</p><p>　　以上三個(gè)條件的是單片機(jī)正常工作的必備條件。</p><p>　　3.1.3 單片機(jī)外接電磁閥電壓轉(zhuǎn)換電路</p><p>　　單片機(jī)只能輸入輸出5V電壓，但是電磁閥的工作需要24V的電壓，電路中需要將5V的電壓轉(zhuǎn)化成24V的電壓。</p><p>　　圖3.

60、5 單片機(jī)電壓轉(zhuǎn)化圖</p><p>　　3.2 LCD電路的設(shè)計(jì)</p><p>　　3.2.1 LCD電路模塊的要求和選擇</p><p>　　液晶顯示模塊是目前很多電子產(chǎn)品不可缺少的組成部分，他是實(shí)現(xiàn)人機(jī)對(duì)話的重要平臺(tái)。液晶顯示常用的種類還是比較多的，比如LCD1602和LCD12864。LCD1602功率消耗少，體積小，用起來方便，但只能顯示數(shù)字和一些大小寫

61、字母，無法滿足本設(shè)計(jì)的要求；LCD12864的顯示功能比較強(qiáng)大，既能顯示漢字，又可以顯示圖形，也可以一次性顯示較多漢字和圖形，因此LCD12864很適合本次設(shè)計(jì)要求，考慮到為了節(jié)約單片機(jī)的資源，本次顯示采用的是串行顯示方式。只使用單片機(jī)的兩個(gè)串行口，就可以完成單片機(jī)的顯示功能，顯示電路原理圖如圖3.6所示。</p><p>　　圖3.6 液晶顯示原理電路</p><p>　　省電電路設(shè)定

62、：當(dāng)程序檢測(cè)在5分鐘內(nèi)沒進(jìn)行工作和操作時(shí)久關(guān)閉顯示。這個(gè)功能使用程序使其實(shí)現(xiàn)，一旦沒有按鍵和工作響應(yīng)就啟動(dòng)一個(gè)定時(shí)器，檢測(cè)5分鐘如果還是沒有動(dòng)作，就啟動(dòng)關(guān)閉程序關(guān)閉顯示。這樣就可以達(dá)到省電的目的。</p><p>　　3.2.2 LCD12864的基本特性</p><p>　　低電源電壓（VDD:+3.0--+5.5V）</p><p>　　顯示分辨率:128

63、15;64點(diǎn)</p><p>　　內(nèi)置漢字字庫，提供8192個(gè)16×16點(diǎn)陣漢字(簡(jiǎn)繁體可選)</p><p>　　內(nèi)置 128個(gè)16×8點(diǎn)陣字符</p><p><b>　　2MHZ時(shí)鐘頻率</b></p><p>　　顯示方式：STN、半透、正顯</p><p>　　驅(qū)動(dòng)方

64、式：1/32DUTY，1/5BIAS</p><p><b>　　視角方向：6點(diǎn)</b></p><p>　　背光方式：側(cè)部高亮白色LED，功耗僅為普通LED的1/5—1/10</p><p>　　通訊方式：串行、并口可選</p><p>　　內(nèi)置DC-DC轉(zhuǎn)換電路，無需外加負(fù)壓</p><p>

65、　　無需片選信號(hào)，簡(jiǎn)化軟件設(shè)計(jì)</p><p>　　工作溫度: 0℃ - +55℃ ,存儲(chǔ)溫度: -20℃ - +60℃ </p><p>　　圖3.7 LCD128*64外形尺寸圖</p><p><b>　　模塊接口說明</b></p><p>　　LCD128*64引腳說明</p><p>

66、<b>　　1. 串行接口</b></p><p>　　表3.1 串行接口管腳說明</p><p><b>　　2.并行接口</b></p><p>　　表3.2 并行接口管腳說明</p><p>　　并列接口傳輸訊號(hào)：當(dāng)PSB腳接上高電位時(shí)，模塊就會(huì)進(jìn)入并列模式，在并列模式下可由指令DL FLA

67、G來選擇8-位、4-位接口，主控制系統(tǒng)將配合（RS,RW,E,DB0,DB7）來達(dá)成傳輸動(dòng)作。從一個(gè)完整的流程上來看，當(dāng)下設(shè)定點(diǎn)知指令后（CGRAM,DDRAM）若想要讀取數(shù)據(jù)時(shí)需要先DUMMY READ一次，才會(huì)讀到正確的數(shù)據(jù)第二次讀取時(shí)則不需要DUMMY READ 除非又設(shè)定地址指令才需要再次DUMMY READ。在4-位傳輸模式中，每一個(gè)八位指令或者數(shù)據(jù)都會(huì)被分為兩個(gè)字節(jié)動(dòng)作；較高4位（DB7～DB4）的資料將會(huì)被放在第一個(gè)字節(jié)（

68、DB7～DB4）部分，而較低4位（DB3～DB0）資料則會(huì)被放在的第二個(gè)字節(jié)的（DB7～DB4）部分，至于相關(guān)另外四位則在4-位傳輸模式中（DB3～DB0）接口未使用。相關(guān)的接口傳輸訊號(hào)參考下圖說明：</p><p><b>　　RS</b></p><p><b>　　R/W</b></p><p><b>　

69、　E</b></p><p><b>　　DB0-DB7</b></p><p>　　instructionDunnyRAM</p><p>　　Timing Diagram of 8-bit Parallel Bus Mode Data Transfer</p><p><b>　　R

70、S</b></p><p><b>　　R/W</b></p><p><b>　　E</b></p><p><b>　　DB0-DB7</b></p><p>　　Instruction Dunny RAM</p&

71、gt;<p>　　圖3.8 并列接口傳輸訊號(hào)</p><p>　　串行接口與串行傳輸資料：本文采用的就是這個(gè)傳輸方式，當(dāng)PSB腳接低電位時(shí)，模塊</p><p>　　將會(huì)進(jìn)入串行模式。從一個(gè)完整的串行傳輸流程來看，一開始先傳輸起始字節(jié)，它需要先接受到五個(gè)連續(xù)耳朵“1”（同步位字符串），在啟始字節(jié)，此時(shí)的傳輸計(jì)數(shù)將被重置并且串行傳輸將被同步，在跟隨的兩個(gè)位字符串分別來指定傳輸方

72、向（RW）及寄存器選擇（RS），最后的第八的位為“0”。在接受同步位及其RW和RS資料的啟始字節(jié)后，每一個(gè)八位的指令將被分成兩個(gè)字節(jié)接受到；較高4位（DB7～DB4）的指令資料將會(huì)放在第一個(gè)字節(jié)的LSB部分，而較低4位（DB3～DB0）的指令資料則會(huì)被放在第二個(gè)字節(jié)的LSB部分，至于相關(guān)另4位都為0。</p><p>　　串行傳輸訊號(hào)請(qǐng)參考下圖說明：</p><p>　　圖3.9 串行接口

73、傳輸訊號(hào)</p><p>　　基本指令及擴(kuò)充指令1：</p><p>　　表3.3 LCD串行接口基本指令</p><p>　　基本指令及擴(kuò)充指令1:</p><p>　　表3.4 LCD并行接口基本指令</p><p><b>　　3.3 按鍵的設(shè)計(jì)</b></p><p&g

74、t;　　本文的檢測(cè)儀器共有5個(gè)操作按鍵，如圖P3.0對(duì)應(yīng)開始，P3.1對(duì)應(yīng)停止，P3.2對(duì)應(yīng)復(fù)位，P3.3對(duì)應(yīng)急停，P3.4對(duì)應(yīng)測(cè)試。</p><p>　　圖3.10按鍵的設(shè)計(jì)原理圖</p><p>　　3.4 傳感器部分電路設(shè)計(jì)</p><p>　　3.4.1光電傳感器</p><p>　　圖3.11 光電傳感器電路原理圖</p>

75、;<p>　　發(fā)射管采用IR333，接受管采用PT334作為基本的檢測(cè)元件，該器件對(duì)黑白反應(yīng)靈敏，幾乎不受自然光線的影響，反饋的電信號(hào)穩(wěn)定，硬件電路簡(jiǎn)單而且方便實(shí)現(xiàn)，圖3。11就是其原理電路圖，如圖所示發(fā)射管1串聯(lián)一100～200Ω的電阻，向反射平臺(tái)的發(fā)出紅外光，如果紅外光被黑色路徑吸收，則LM393比較器的2號(hào)管腳將呈低電平，通過與3號(hào)腳設(shè)定的參考電平比較，產(chǎn)生高電平輸出，相反則產(chǎn)生低電平輸出。</p>&

76、lt;p>　　3.4.2霍爾開關(guān)傳感器</p><p>　　霍爾開關(guān)傳感器的輸出電壓和外加磁場(chǎng)強(qiáng)度呈線性比例關(guān)系。這類傳感器一般都由霍爾元件和發(fā)大器組成。當(dāng)外加磁場(chǎng)時(shí)，霍爾元件產(chǎn)生與磁場(chǎng)強(qiáng)度成線性比例變化的霍爾電壓，該電壓經(jīng)放大器放大后輸出。在實(shí)際電路設(shè)計(jì)中，為了提高傳感器的性能，往往在電路中還設(shè)置有穩(wěn)壓電路、電流放大輸出級(jí)、失調(diào)調(diào)整電路和線性度調(diào)整電路等?；魻栭_關(guān)集成傳感器的輸出有低電平或高電平兩種狀態(tài)，

77、而霍爾線性集成傳感器的輸出卻是對(duì)外加磁場(chǎng)的線性感應(yīng)。因此霍爾線性傳感器廣泛用于位置、力、重量、厚度、速度、磁場(chǎng)以及電流等的測(cè)量或控制。</p><p>　　圖3.12 霍爾開關(guān)傳感器電路原理圖</p><p>　　3.4.3 微動(dòng)開關(guān)傳感器</p><p>　　對(duì)PASS管,FAIL管內(nèi)的芯片進(jìn)行計(jì)數(shù)和滿管報(bào)警信號(hào)傳輸。</p><p>　　

78、圖3.13 微動(dòng)開關(guān)傳感器電路原理圖</p><p>　　3.4.4 檢測(cè)夾具的運(yùn)用</p><p>　　檢測(cè)夾具：當(dāng)芯片進(jìn)入檢測(cè)范圍時(shí)自動(dòng)夾緊芯片方便測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試的工具。</p><p>　　圖3.14檢測(cè)夾具的電路原理圖</p><p>　　第4章 軟件部分的設(shè)計(jì)</p><p><b>　　4.1主

79、程序流程圖</b></p><p>　　在本文設(shè)計(jì)中，以AT89C51單片機(jī)為核心，控制整個(gè)檢測(cè)過程。當(dāng)按鍵按開始或復(fù)位后，液晶顯示器開始初始化，然后芯片放入導(dǎo)軌進(jìn)入檢測(cè)的環(huán)節(jié)，芯片進(jìn)入檢測(cè)區(qū)后，按檢測(cè)鍵選擇是否進(jìn)入檢測(cè)，然后單片機(jī)顯示芯片好壞，好的分入PASS管，壞的分入FAIL管。</p><p><b>　　壞</b></p><

80、p>　　好 </p><p>　　圖4.1系統(tǒng)的總流程圖</p><p><b>　　具體程序如下：</b></p><p>　　ORG 0000H</p><p>　　AJMP main</p><p>　　ORG 0030H</p>

81、<p>　　main: MOV SP,#60H</p><p>　　CLR LCD_CS</p><p>　　CLR LCD_SID</p><p>　　CLR LCD_CLK</p><p>　　ACALL KEY</p><p>　　LCALL LCDreset&l

82、t;/p><p>　　MOV DPTR,#boot_char11</p><p>　　ACALL dischar1</p><p>　　MOV DPTR，#boot_char12</p><p>　　ACALL dischar2</p><p>　　S1_loop：JNB S1，START1

83、</p><p>　　AJMP S1_loop</p><p>　　4.2 LCD12864液晶顯示電路和按鍵電路的軟件設(shè)計(jì)</p><p>　　本文的每個(gè)模塊都是圍繞單片機(jī)設(shè)計(jì)的，單片機(jī)的一些功能就是通過按鍵來體現(xiàn)出來的，按鍵設(shè)計(jì)的流程具體如下圖：</p><p><b>　　無</b></p>&

84、lt;p><b>　　有</b></p><p>　　圖4.2按鍵的程序流程圖</p><p>　　在檢測(cè)過程中，為了更好的實(shí)現(xiàn)人機(jī)對(duì)話，在LCD12864上顯示出檢測(cè)儀的每一步執(zhí)行過程，通過“開始、復(fù)位、測(cè)試、急停、停止“來操作具體流程圖如下：</p><p><b>　　是否</b></p>&l

85、t;p><b>　　否</b></p><p><b>　　是</b></p><p>　　圖4.3 LCD12864與按鍵的流程圖</p><p><b>　　設(shè)計(jì)總結(jié)</b></p><p>　　本文的研究是以AT89C51單片機(jī)為核心的集成電路檢測(cè)儀。整個(gè)電路由單片

86、機(jī)，傳感器電路、檢測(cè)電路、按鍵電路、報(bào)警燈電路、LCD12864液晶顯示電路等組成。該檢測(cè)儀的檢測(cè)通過簡(jiǎn)單的5個(gè)按鍵，簡(jiǎn)單直觀的液晶顯示界面實(shí)現(xiàn)芯片的自動(dòng)檢測(cè)功能。通過AT89C51單片機(jī)處理各種信息的輸入輸出協(xié)調(diào)整個(gè)檢測(cè)儀的動(dòng)作，檢測(cè)儀整體運(yùn)行協(xié)調(diào)迅速。通過電磁閥的控制來使整個(gè)機(jī)器運(yùn)轉(zhuǎn)起來，簡(jiǎn)單快捷。與傳統(tǒng)的直接對(duì)芯片引腳直接檢測(cè)電壓來測(cè)定芯片的功能是否正常來對(duì)比，本文設(shè)計(jì)研究的檢測(cè)儀對(duì)市場(chǎng)上多種芯片都可以進(jìn)行測(cè)試，具有檢測(cè)簡(jiǎn)便、操作

87、簡(jiǎn)單、成本低廉、測(cè)試準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)。同時(shí)本檢測(cè)儀也有無法對(duì)一些較復(fù)雜的芯片和大批量的芯片進(jìn)行檢測(cè)的缺點(diǎn)。</p><p><b>　　[參考文獻(xiàn)]</b></p><p>　　[1]王競(jìng)，集成電路的發(fā)展趨勢(shì)及面臨的問題，北京科技資訊 2009</p><p>　　[2]潘運(yùn)濤，雜散電流的計(jì)算機(jī)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，青島大學(xué) 2008</p>

88、<p>　　[3]陳凱，中文字庫液晶串行80C51匯編解決方案，麗水學(xué)院學(xué)報(bào) 2007</p><p>　　[4]張生偉，便攜式西瓜成熟度測(cè)試裝置的研制，揚(yáng)州大學(xué)2010 </p><p>　　[5]方為美，數(shù)字式多功能噸位指示器的研究與開發(fā)，華中科技大學(xué)2008 </p><p>　　[6]邢會(huì)敏，基于單片機(jī)船舶電力推進(jìn)電機(jī)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，上海海事大學(xué)2

89、006</p><p>　　[7]游磊，基于AT91RM9200的點(diǎn)陣圖形液晶模塊接口設(shè)計(jì)，成都大學(xué)學(xué)報(bào)（自然科學(xué)版）2007</p><p>　　[8]王延華，基于單片機(jī)的隨鉆測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)，山東大學(xué)2009</p><p>　　[9]周文龍，基于單片機(jī)控制的電子密碼鎖設(shè)計(jì)，大眾商務(wù) 2009</p><p>　　[10]劉紅橋，中國本土IC

90、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略研究 ，上海財(cái)經(jīng)大學(xué)2008</p><p>　　[11]王悅，基于PIC單片機(jī)的車身控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，合肥工業(yè)大學(xué)2010</p><p>　　[12]魯冠華，基于單片機(jī)控制的電機(jī)保護(hù)器設(shè)計(jì)，中國海洋大學(xué)2009</p><p>　　[13]藍(lán)天宇，基于DSP的金屬監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì) ，西南交通大學(xué)2009</p><p>　　[14

91、]姚大國、范大民，基于AVR單片機(jī)的電阻分選儀，遼寧工程技術(shù)大學(xué)2007</p><p>　　[15]鄭迎春、毛玉良，RTX51在半導(dǎo)體分選機(jī)編程中的應(yīng)用，江蘇南京東南大學(xué)2006</p><p>　　[16]陳德宏，薄膜電容器自動(dòng)分選機(jī)，上海希瑞電子設(shè)備有限公司2003</p><p>　　[17]劉引春、葉湘濱，傳感器原理設(shè)計(jì)與應(yīng)用，長(zhǎng)沙：國防科技大學(xué)出版199

92、7</p><p>　　[18] Standard Card IC S50 Functional Specification．Philips Seniconductors[J]，2001.</p><p>　　[19] Rosenthall EM．Proceedings of the fifth Canadian Mathematical Congress[J]，2006：110~112

93、.</p><p><b>　　附錄1</b></p><p><b>　　程序主電路圖</b></p><p><b>　　附錄2</b></p><p><b>　　源程序：</b></p><p>　　#include <

94、;Reg51.h></p><p>　　#define BUT_STOPEM in_sw[5]</p><p>　　#define BUT_STOP in_sw[3]</p><p>　　#define BUT_RESET in_sw[4]</p><p>　　#define BUT_START in_sw[2]</p>

95、<p>　　#define BUT_TEST in_sw[6]</p><p>　　#define PIP_PASS in_sw[0]</p><p>　　#define PIP_FAIL in_sw[1]</p><p>　　#define EMP_PIPFULL in_op[7]</p><p>　　#define EMP_S

96、EPARAT in_op[6]</p><p>　　#define EMP_TESTAR1 in_op[0]</p><p>　　#define EMP_TESTAR2 in_op[1]</p><p>　　#define EMP_TESTAR3 in_op[2]</p><p>　　#define EMP_AFTTEST in_op[3]&

97、lt;/p><p>　　#define EMP_PASSPIP in_op[4]</p><p>　　#define EMP_FAILPIP in_op[5]</p><p>　　#define B2B_EOT in_tc[0]</p><p>　　#define B2B_TING in_tc[1]</p><p>　　#

98、define B2B_PASS in_tc[2]</p><p>　　#define B2B_FAIL in_tc[3]</p><p>　　#define B2B_CLREOT out_tc[0]</p><p>　　#define B2B_SOT out_tc[1]</p><p>　　#define ALA_RED out_dr[7]&

99、lt;/p><p>　　#define ALA_YELLOW out_dr[8]</p><p>　　#define ALA_GREEN out_dr[9]</p><p>　　#define ALA_BUZZ out_dr[10]</p><p>　　#define OVF_PASSPIP out_dr[0]</p><p&

100、gt;　　#define OVF_FAILPIP out_dr[1]</p><p>　　#define AIR_SEPARAT out_dr[2]</p><p>　　#define AIR_TESTNIP out_dr[3]</p><p>　　#define AIR_TESTBAF out_dr[4]</p><p>　　#define

101、 AIR_CYLPUSH out_dr[5]</p><p>　　#define AIR_CYLPULL out_dr[6]</p><p>　　#define BLACK 0</p><p>　　#define BLUE 0x03</p><p>　　#define GREEN 0x1C</p><p>　　

102、#define AZURY 0x1F</p><p>　　#define RED 0xE0</p><p>　　#define PINK 0xE3</p><p>　　#define YELLOW 0xFC</p><p>　　#define WHITE 0xFF</p><p>　　#define TR

103、ANSP 0x20</p><p>　　#define MAIN_PIC_NUM 1</p><p>　　#define RXB8 1</p><p>　　#define TXB8 0</p><p>　　#define UPE 2</p><p>　　#define OVR 3</p><p>

104、;　　#define FE 4</p><p>　　#define UDRE 5</p><p>　　#define RXC 7</p><p>　　#define FRAMING_ERROR (1<<FE)</p><p>　　#define PARITY_ERROR (1<<UPE)</p><

105、p>　　#define DATA_OVERRUN (1<<OVR)</p><p>　　#define DATA_REGISTER_EMPTY (1<<UDRE)</p><p>　　#define RX_COMPLETE (1<<RXC)</p><p>　　// USART0 Receiver buffer</p&

106、gt;<p>　　#define RX_BUFFER_SIZE0 8</p><p>　　char rx_buffer0[RX_BUFFER_SIZE0];</p><p>　　#if RX_BUFFER_SIZE0<256</p><p>　　unsigned char rx_counter0;</p><p><

107、b>　　#else</b></p><p>　　unsigned int rx_wr_index0,rx_rd_index0,rx_counter0;</p><p><b>　　#endif</b></p><p>　　// This flag is set on USART0 Receiver buffer overflo

108、w</p><p>　　bit rx_buffer_overflow0 = 0;</p><p>　　#include <stdarg.h></p><p>　　#include <delay.h></p><p>　　// Standard Input/Output functions</p><

109、p>　　#include <stdio.h></p><p>　　// Declare your global variables here</p><p>　　struct button_area</p><p><b>　　{</b></p><p>　　unsigned int flash lef

110、t;</p><p>　　unsigned int flash right;</p><p>　　unsigned int flash top;</p><p>　　unsigned int flash bottom;</p><p><b>　　};</b></p><p>　　unsigned

111、 char LCD_picst,workst;</p><p>　　unsigned char ms_count;</p><p>　　unsigned char in_op[10];</p><p>　　unsigned char in_sw[10];</p><p>　　unsigned char in_tc[6];</p>

112、<p>　　unsigned char out_tc[4];</p><p>　　unsigned char out_dr[15];</p><p>　　unsigned int pass_count, fail_count;</p><p>　　bit main_pic_draw;</p><p>　　void input(vo

113、id);</p><p>　　void output(void);</p><p>　　void key_fun(char);</p><p>　　void special_delay(unsigned int);</p><p>　　void spe_delay_s(unsigned char);</p><p>　

114、　char working(void);</p><p>　　void vter8060_instr_send(char flash *,...);</p><p>　　void display_character(char,char,char,unsigned int,unsigned int,char flash *,...);</p><p>　　void d

115、isplay_bitmap(unsigned int,unsigned int,unsigned int);</p><p>　　void clear_rectangle(char,unsigned int,unsigned int,unsigned int,unsigned int);</p><p>　　char touch_screen(unsigned int*,unsigned

116、int*);</p><p>　　char touch_button(unsigned int,unsigned int,struct button_area);</p><p>　　char main_picture(void);</p><p>　　#define F2_NUM 5</p><p>　　// USART0 Receiver

117、 interrupt service routine</p><p>　　interrupt [USART0_RXC] void usart0_rx_isr(void)</p><p><b>　　{</b></p><p>　　char status,data;</p><p>　　status=UCSR0A;<

118、/p><p>　　data=UDR0;</p><p>　　if ((status & (FRAMING_ERROR | PARITY_ERROR | DATA_OVERRUN))==0)</p><p><b>　　{</b></p><p>　　rx_buffer0[rx_counter0]=data;</

119、p><p>　　switch (rx_buffer0[0])</p><p><b>　　{</b></p><p>　　case 0xF2 : if (++rx_counter0 < F2_NUM) break;</p><p>　　case 0xF3 : rx_counter0 = 0;</p>&l

120、t;p>　　rx_buffer_overflow0 = 1;</p><p><b>　　}</b></p><p><b>　　};</b></p><p><b>　　}</b></p><p>　　// Timer 0 output compare interrup