電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的檢驗研究

1、<p>　　電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的檢驗研究</p><p>　　【摘要】科技的發(fā)展推動著電子產(chǎn)品朝著集成化、系統(tǒng)化、智能化的方向不斷的發(fā)展，而由于電子產(chǎn)品集成化的程度不斷的提高，電子產(chǎn)品設(shè)計的缺陷所造成的風險也在急劇上升，雖然我國是世界上電子產(chǎn)品的最大新興市場，但是我國對于設(shè)計缺陷的研究還停留在初步的階段，本文從設(shè)計缺陷形成機理、設(shè)計缺陷概述出發(fā)，使用貝葉斯網(wǎng)絡(luò)對這些問題進行研究，希望對我國電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷

2、的檢驗的發(fā)展有所促進。 </p><p>　　【關(guān)鍵詞】電子產(chǎn)品；設(shè)計缺陷；影響因素；評估模型 </p><p>　　科技的發(fā)展讓電子設(shè)備越來越小型化、低成本化，而受益于電子設(shè)備的方便和便攜，電子設(shè)備已經(jīng)深入人們生活的方方面面，可以說電子設(shè)備已經(jīng)徹底改變了人類的生活方式，帶來了極大的方便。但是隨著電子設(shè)備的發(fā)展，人們對于電子設(shè)備的性能和外觀越來越追求極致，這也就帶了電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的風險的

3、提高。而市場的競爭越來越激烈，廠家不得不縮短電子設(shè)備的更新間隔，也就從另一個方面提高了電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷出現(xiàn)的幾率。 </p><p><b>　　1設(shè)計缺陷概述 </b></p><p>　　綜合權(quán)威機構(gòu)對于設(shè)計缺陷的概述，設(shè)計缺陷的定義如下： </p><p>　?。?）設(shè)計缺陷是產(chǎn)品在設(shè)計的時候出現(xiàn)的缺陷，而在制造過程中沒有發(fā)現(xiàn)，或者是發(fā)現(xiàn)

4、的卻加以隱瞞。 </p><p>　?。?）設(shè)計缺陷的最直觀的表現(xiàn)就是影響用戶的使用，導致產(chǎn)品達不到用戶的預(yù)期要求，甚至在某些情況下對用戶的生命及財產(chǎn)安全造成損失。 </p><p>　?。?）設(shè)計缺陷并不單獨出現(xiàn)，往往是一個批次的產(chǎn)品都存在問題，可能會給消費者其生產(chǎn)廠家?guī)砭薮蟮慕?jīng)濟損失。 </p><p>　?。?）造成設(shè)計缺陷的原因很多，對于電子產(chǎn)品的要求過高

5、，可能會導致只能滿足一部分的要求，從而形成了設(shè)計缺陷。 </p><p>　　在對電子產(chǎn)品要求越來越高的今天，可以下結(jié)論說，電子產(chǎn)品設(shè)計的缺陷是無法避免的，廠家能做的只是把電子產(chǎn)品設(shè)計的缺陷控制在一定的水平，不對消費者造成很大的影響。 </p><p>　　對于電子產(chǎn)品的設(shè)計缺陷，從產(chǎn)品的功能來分，可以分為以下幾類： </p><p>　　（1）軟件設(shè)計上的缺陷。軟

6、件和硬件是電子產(chǎn)品的兩大要組成要素之一，軟件缺陷是影響用戶體驗的重要原因，其具體表現(xiàn)是，影響用戶對于電子產(chǎn)品的操作，甚至可能造成硬件的損壞。 </p><p>　　（2）硬件設(shè)計缺陷。受設(shè)計水平的影響，或者受預(yù)期功能的影響，不同的電子產(chǎn)品使用的不同的硬件，但是不同的硬件之間并不能隨意組合，不科學的硬件搭配，也會影響用戶的使用體驗，甚至對用戶的財產(chǎn)安全造成威脅。 </p><p>　?。?）

7、結(jié)構(gòu)設(shè)計缺陷。這里的結(jié)構(gòu)設(shè)計缺陷，主要是指電子產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)不能夠抵抗外部干擾。無論在什么地方，我們都身處電磁干擾之中，而如果不能屏蔽電磁干擾，電子產(chǎn)品的運行就難以保證。 </p><p>　　2電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的形成機理 </p><p>　　電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的形成機理可以如下圖所示： </p><p>　　一般來說，電子產(chǎn)品的設(shè)計缺陷都出現(xiàn)在設(shè)計階段，設(shè)計的最初目的

8、是滿足預(yù)期功能，而對于電子產(chǎn)品來說，預(yù)期功能一般都不存在問題，而在設(shè)計方面對于預(yù)期功能的實現(xiàn)卻很容易產(chǎn)生問題。 </p><p>　　3. 缺陷跟蹤系統(tǒng)概述 </p><p>　　世界上沒有哪一個企業(yè)能夠保證自己的電子產(chǎn)品是絕對完美的，而為了控制電子產(chǎn)品的缺陷程度，進而提高后續(xù)產(chǎn)品的質(zhì)量，許多公司都建立了缺陷跟蹤系統(tǒng)，用于記錄和跟蹤設(shè)計缺陷的發(fā)現(xiàn)、解決、審核等過程，為下一階段的生產(chǎn)提供建設(shè)

9、性的意見。 </p><p>　　缺陷跟蹤系統(tǒng)是企業(yè)用于產(chǎn)品研發(fā)質(zhì)量控制的軟件系統(tǒng)，是企業(yè)信息管理、項目管理軟件系統(tǒng)的一部分。在電子產(chǎn)品開發(fā)企業(yè)中，應(yīng)用缺陷跟蹤系統(tǒng)的意義有： </p><p>　?。?） 在一定程度上修正由于產(chǎn)品缺陷而帶來的影響。產(chǎn)品的開發(fā)過程必然伴隨著缺陷，即便是蘋果公司也不能保證自己的產(chǎn)品完全沒有缺陷。對于產(chǎn)品缺陷進行跟蹤，能夠幫助廠家了解缺陷發(fā)生的原因，并及時進行彌

10、補，能夠在一定程度上修正由于產(chǎn)品缺陷對消費者帶來的不好的影響，為公司將來的發(fā)展奠定聲譽。 </p><p>　?。?）缺陷信息得到有效記錄和共享。缺陷跟蹤系統(tǒng)對于缺陷的采集和記錄，能夠讓電子產(chǎn)品這生產(chǎn)廠家及時意識到缺陷，并采取相應(yīng)的彌補措施。而一個缺陷的發(fā)現(xiàn)，則能夠為下一代電子產(chǎn)品的設(shè)計提供建設(shè)性的意見，避免在下一代的電子產(chǎn)品中繼續(xù)出現(xiàn)同樣類型的缺陷，這對于電子產(chǎn)品的生產(chǎn)廠家是很有意義的。 </p>

11、<p>　?。?）產(chǎn)品質(zhì)量能夠進行定量分析。項目經(jīng)理可以根據(jù)缺陷跟蹤系統(tǒng)中的缺陷記錄提交、解決的情況，分析當前項目的設(shè)計開發(fā)情況，評估設(shè)計質(zhì)量，為下一階段設(shè)計開發(fā)工作的安排提供事實依據(jù)。 </p><p>　　（4）促進人員交流，降低研發(fā)成本。缺陷跟蹤系統(tǒng)本身包含了企業(yè)對缺陷問題的處理流程，并將這一流程電子化、自動化，極大的提高了開發(fā)人員之間的交流效率，降低了研發(fā)成本?；谏鲜隼碛?，一家企業(yè)如要想提高

12、自身的研發(fā)能力和產(chǎn)品開發(fā)質(zhì)量，必須有完善的缺陷管理制度和缺陷跟蹤信息系統(tǒng)，隨著項目規(guī)模和產(chǎn)品開發(fā)團隊的擴大，缺陷跟蹤系統(tǒng)必然會發(fā)揮越來越重要的作用。 </p><p>　　4基于缺陷跟蹤系統(tǒng)的貝葉斯網(wǎng)絡(luò) </p><p>　　為了解決不定性和不完整性的問題，以計算電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷出現(xiàn)的概率，這里引用貝葉斯網(wǎng)絡(luò)。貝葉斯網(wǎng)絡(luò)對于解決復雜是不是不確定性和關(guān)聯(lián)性引起的故障有很大的優(yōu)勢，其可以從不完

13、全、不精確的產(chǎn)品信息中作出推理，以得到正確的結(jié)果。受篇幅的影響，本文不對于貝葉斯網(wǎng)絡(luò)的定義和用法作出詳細的解釋，只是簡介基于缺陷跟蹤系統(tǒng)的貝葉斯網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用。 </p><p>　　缺陷跟蹤系統(tǒng)的應(yīng)用，讓電子產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)對于設(shè)計缺陷的定位由定性變成了定量，而利用貝葉斯網(wǎng)絡(luò)推理模型，在項目的初始階段，可以利用缺陷跟蹤系統(tǒng)采集的數(shù)據(jù)，對項目進行合理的分析，就可以知道在以往的設(shè)計產(chǎn)品中有哪些缺陷，哪些部位容易存在缺陷，甚

14、至可以具體算出設(shè)計缺陷在某個部位發(fā)生的概率的大小，從而在新產(chǎn)品的設(shè)計之初就能夠想辦法避免這些缺陷，以得到優(yōu)良的產(chǎn)品。 </p><p><b>　　5小結(jié) </b></p><p>　　科技的發(fā)展讓電子產(chǎn)品成為人類生活的一部分，可以說人類的生活已經(jīng)離不開電子產(chǎn)品。我國作為世界上最大的電子產(chǎn)品新興市場，巨大的市場潛力對于電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家來說既是機遇也是挑戰(zhàn)。而想要在日益

15、激烈的市場競爭中占有自己的一席之地，取得長遠的發(fā)展，相關(guān)電子企業(yè)就必須嚴格控制電子產(chǎn)品的設(shè)計缺陷。 </p><p><b>　　【參考文獻】 </b></p><p>　　[1]朱敏，劉衛(wèi)東.基于粗糙集貝葉斯網(wǎng)絡(luò)的電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷評估模型[J].計算機應(yīng)用研究，2013，30（3）：706-711. </p><p>　　[2]徐德正，范濤.

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