玉米紋枯病抗性QTL的初步分析.pdf

1、玉米紋枯病是一種世界性病害，也是玉米產(chǎn)區(qū)的主要病害之一，它引起玉米產(chǎn)量和品質(zhì)的下降。培育抗病品種是防治該病危害的最經(jīng)濟(jì)有效的途徑，而抗病育種成效取決于對(duì)抗源和抗性遺傳機(jī)制的認(rèn)識(shí)。采用現(xiàn)代生物技術(shù)發(fā)掘玉米種質(zhì)中的抗紋枯病基因及其連鎖分子標(biāo)記，可為建立高效的抗病育種及種質(zhì)改良技術(shù)提供理論依據(jù)。本研究以CML429（抗?。DM9（感?。┑腇2和F2：3群體為作圖和抗病性評(píng)價(jià)群體，采用SSR分子標(biāo)記構(gòu)建遺傳連鎖圖譜，通過人工接種及田間抗病性鑒

2、定，利用復(fù)合區(qū)間作圖法進(jìn)行抗病QTL分析。主要研究結(jié)果如下：
　　 1．對(duì)偏分離情況進(jìn)行卡方檢驗(yàn)，有8個(gè)標(biāo)記表現(xiàn)為顯著偏分離，占9.09％，7個(gè)標(biāo)記表現(xiàn)為極顯著偏分離，占7.95％。
　　 2．構(gòu)建了含有82個(gè)SSR位點(diǎn)遺傳連鎖圖譜，覆蓋玉米基因組的1530.9cM，標(biāo)記間平均圖距為18.67cM，標(biāo)記間圖距小于20cM的比例為50％。
　　 3．對(duì)182個(gè)F2：3家系進(jìn)行紋枯病鑒定，采用復(fù)合區(qū)間作圖法進(jìn)行QTL

3、分析，共檢測(cè)到4個(gè)抗病QTLs，它們分別位于第6、7和10染色體上，在第6染色體上檢測(cè)到2個(gè)QTLs，所在的區(qū)間依次為phi423796～umc2316、umc2316～umc1805，臨近的連鎖標(biāo)記分別為bnlg107、umc1796，各自可解釋表型方差的12.63％、0.27％；在第7、10染色體上各檢測(cè)出1個(gè)QTL，所在的區(qū)間依次為bnlg1161～phi051、umc1152～bnlg1037，臨近的連鎖標(biāo)記分別為bnlg116