光電檢測課程設計---基于ccd的外圓錐度的非接觸式測量

1、<p><b>　　光電檢測課程設計</b></p><p>　　題 目: 基于CCD的外圓錐度的非接觸式測量</p><p>　　專 業(yè): 測控技術與儀器 </p><p>　　組 員: </p>&l

2、t;p>　　指導老師: </p><p>　　2012年12月24日</p><p><b>　　目錄</b></p><p><b>　　摘要2</b></p><p><b>　　一、研究背景3</b>&

3、lt;/p><p><b>　　1、絕對測量3</b></p><p><b>　　2、相對測量3</b></p><p>　　3、非接觸式測量與接觸式測量的比較4</p><p>　　二、外圓錐度測量方法4</p><p><b>　　1、錐度的定義4<

4、;/b></p><p>　　2、錐度的測量方法4</p><p>　　三、系統(tǒng)組成及工作原理5</p><p><b>　　1、光學系統(tǒng)6</b></p><p><b>　　（1）測量原理6</b></p><p>　?。?）CCD的基本功能6</p

5、><p>　?。?）CCD的選用7</p><p>　　1)從CCD器件的分辨率方面分析7</p><p>　　3)從CCD器件的使用率方面分析8</p><p><b>　　2、機械結構8</b></p><p><b>　?。?）旋轉機構8</b></p>

6、;<p><b>　　（2）掃描機構9</b></p><p><b>　　3、電路設計9</b></p><p>　　（1）CCD驅動電路9</p><p>　?。?）二值化電路10</p><p>　　（3）脈沖填充和計數(shù)11</p><p>　　

7、4、數(shù)據(jù)采集與計算機接口11</p><p><b>　　四、精度分析11</b></p><p><b>　　五、總結12</b></p><p><b>　　六、參考文獻12</b></p><p><b>　　摘要</b></p>

8、<p>　　本文在分析了傳統(tǒng)接觸式測量外圓錐度的一系列弊端基礎上，考慮利用非接觸式測量方法：利用線陣CCD MN3611傳感器設計在線非接觸工件錐度測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光、機、電、算四部分，相輔相成，缺一不可。光學系統(tǒng)將被測工件成像在CCD的光敏面上；經過CCD驅動電路和二值化處理以及連接計算機進行數(shù)據(jù)采集，再將采集到的數(shù)據(jù)帶入公式計算，便可得到被測工件外圓錐度；而且，機械系統(tǒng)中的旋轉機構可以具有誤差平均作用，提高測量精度

9、。</p><p>　　關鍵詞：線陣CCD；非接觸式測量；物方遠心光路；對稱讀數(shù)</p><p><b>　　研究背景</b></p><p>　　目前對于外圓錐度的測量方法大多為接觸式測量，又可分為絕對測量和相對測量。</p><p><b>　　1、絕對測量</b></p><

10、;p>　　所謂絕對測量是指被測量和標準量直接比較后得到被測量絕對值的測量。如在平臺上用兩直徑相等的圓柱和量塊測量外圓錐，如圖1。將圓錐的小端朝下放置在平臺上，然后在平臺上的錐體兩側放上圓柱A、B，測量出尺寸。再將圓柱用兩等高量塊h墊高，并測出。由圖可知：</p><p>　　圖1：外圓錐錐度測量</p><p><b>　　2、相對測量</b></p>

11、;<p>　　所謂相對測量（比較測量）是指被測量和標準量進行比較后只確定被測量相對于標準量的偏差值的測量。如用正弦尺測外圓錐錐度或萬能工具顯微鏡坐標法測量錐度。下圖為萬能工具顯微鏡坐標法測量錐度：</p><p>　　圖2：用萬能工具顯微鏡測量錐度</p><p>　　上圖是在萬能工具顯微鏡上借助測量刀對準錐體零件進行測量的例子。測量時，由萬能工具顯微鏡的橫向讀數(shù)裝置分別測出

12、大端和小端直徑D和d：由縱向讀數(shù)裝置測出尺寸，則有圖中可知：</p><p>　　3、非接觸式測量與接觸式測量的比較</p><p>　　無論是相對測量還是絕對測量，它們的精度都非常高，適合于檢測錐度誤差，但是并不適合于生產過程中快速和方便的檢測。</p><p>　　以上列舉的絕對測量方法，在獲得所需的錐度值時需要高精度的平臺和量塊組，而且在組合這些量塊的時候也是

13、相當不方便的，測量速度和測量效率都是非常低下的，不適合于生產的快速化。另外，測量所需要的量塊的價格和保養(yǎng)維護等成本都是相當昂貴的。</p><p>　　而對于相對測量的正弦尺測量錐度的方法，除了有絕對測量的缺點外，在使用指示表找錐體上的返回點時也是非常困難的，而且易引入人的主觀誤差，使得其重復性差；而利用萬能工具顯微鏡測量外錐錐度的方法除了使用昂貴的萬能工具顯微鏡外，其用于對準錐體的測量刀上的刻線也是極易磨損掉的

14、，所以萬能工具顯微鏡不適合于進行大批量的準度測量。</p><p>　　綜上所述，我們可以得出現(xiàn)有的外錐錐度測量方法中共有的一些缺點：</p><p>　?、俨贿m合于快速測量，效率低下；</p><p>　　②不適合于大批量測量，只適合實驗室的錐度誤差的檢測；</p><p>　?、蹨y量成本較高，測量設備維護要求高；</p>&

15、lt;p><b>　?、軠y量環(huán)境要求高。</b></p><p>　　針對接觸式測量的以上缺點，我們小組一致認為利用CCD進行外圓錐度非接觸式測量可以克服這些問題。因為我們是在進行錐度測量，并不是在進行錐度誤差的檢測。所以，即便精度可能略有下降，但依然能在公差范圍內滿足使用要求。</p><p><b>　　外圓錐度測量方法</b><

16、/p><p><b>　　1、錐度的定義</b></p><p>　　錐度是指圓錐的底面直徑與錐體高度之比；如果是圓臺，則為上、下兩底圓的直徑差與錐臺高度之比值。因此，錐度測量其實就是測量角度a的正切值。故測量錐體的錐度可以轉變?yōu)闇y量角度a的大小。</p><p><b>　　2、錐度的測量方法</b></p>

17、<p>　　利用的原理主要是兩條具有水平刻度尺的平行線切割被測物體而對其傾斜角度進行測量。下圖為測量原理的數(shù)學模型圖。</p><p>　　圖3: 錐度測量原理圖</p><p>　　其中：p，q兩直線表示兩條相互平行的像敏單元陣列</p><p>　　m表示兩條相互平行的像敏單元陣列之間的間隔</p><p>　　n表示物體邊界在

18、傳感器上測得的偏移量</p><p>　　則依據(jù)相應的關系可求得該錐體的錐度，用a角的正切值表示：</p><p>　　三、系統(tǒng)組成及工作原理</p><p>　　光電檢測系統(tǒng)主要由光、機、電、算四部分組成。其主要測量原理圖如下：</p><p>　　圖4： 系統(tǒng)的測量原理圖</p><p><b>　　1、

19、光學系統(tǒng)</b></p><p><b>　?。?）測量原理</b></p><p>　　測量光路圖如下所示：</p><p>　　圖5： 光學系統(tǒng)測量原理圖 </p><p>　　點光源（普通的鈉光燈即可，因為CCD無論是正面照射還是背面照射在可見光區(qū)域的響應度都是非常高的）發(fā)出的光

20、，由集光鏡會聚后，經過聚光鏡前焦點處的光闌一，然后經過聚光鏡變成平行光均勻照射在被測錐體上。其投影通過物鏡和光闌二成像于CCD接收器件上。</p><p>　　在照明系統(tǒng)設計中，涉及到光源的選擇和照明方式。由于該照明系統(tǒng)的設計依據(jù)是通過測量被檢測物體的像來測量被檢測物體的特征參數(shù)，故本系統(tǒng)采用柯拉遠心照明系統(tǒng)和物方遠心光路成像系統(tǒng)，系統(tǒng)中有兩組共軛關系（見上圖），改變光闌3的大小,可控制成像系統(tǒng)中的孔徑角的大??；

21、改變集光鏡2的鏡框大小,可改變照明系統(tǒng)的孔徑角的大小,從而控制被照物面的范圍。</p><p>　　由于被測錐體所成的像與物大小是倍的關系，所以像與物的錐度相同，故測得在CCD上所成像的錐度即被測錐體的錐度。</p><p>　?。?）CCD的基本功能</p><p>　　CCD(英文全稱：Charge-coupled Device)，電荷耦合器件，其輸出信號包含C

22、CD個像元所接收光強度的分布和像元位置的信息，使它在物體尺寸和形狀檢測中顯示出十分重要的應用價值。</p><p>　　CCD輸出信號的二值化處理常用于物體外形尺寸、物體位置、物體震動等的測量。當被均勻照明的被測物體通過成像到CCD的像敏面上時，被測物體像黑白分明的光強分布使得相應像敏單元上存儲載荷了被測物尺寸、形狀信息的電荷包，通過CCD及其驅動器將載有尺寸信息的電荷包轉換時序電壓信號，輸出相應的波形。然后，根

23、據(jù)波形，可以測得物體在像方的相應尺寸，然后再根據(jù)成像物鏡的物像關系和所求被測量的相應關系，求得所求量。</p><p><b>　?。?）CCD的選用</b></p><p>　　在本測量系統(tǒng)使用過程中，主要需要選用的器件是CCD接收器件。CCD接收器件主要有線陣CCD，彩色線陣CCD和面陣CCD。</p><p>　　1)從CCD器件的分辨率

24、方面分析</p><p>　　由上面測量錐度的數(shù)學關系式 知，需要測量的量就是兩條相互平行的像敏單元陣列之間的間隔m和兩像敏單元陣列上像元感光躍變像元位置的偏移量n。因此，這種測量方式的角度分辨率就可表示為：</p><p>　　其中，t表示同列像元的中心距。</p><p>　　因此，CCD影響測量錐度的主要兩個參數(shù)是：同列像元的中心距t和兩條相互平行的像敏單元陣

25、列之間的間隔m。由以上分辨率公式可知，如果想獲得較高的分辨率，則需要越小越好，即同列像元的中心距t越小越好，兩條相互平行的像敏單元陣列之間的間隔m越大越好。因此，我們從這兩方面分析線陣CCD，彩色線陣CCD和面陣CCD在測量過程中的分辨率。</p><p>　　首先，考慮同列像元的中心距t。</p><p>　　由于，同列像元的中心距t的大小，主要是由CCD器件制作工藝決定的，現(xiàn)有的工藝水

26、平能達到的穩(wěn)定水平在7。因此對于三種CCD的比較選用過程中基本不用考慮這一點，因為三者基本上是相同的。</p><p>　　其次，我們要考慮的是兩條相互平行的像敏單元陣列之間的間隔m。</p><p>　　對于彩色線陣CCD器件是由三條相互平行的像敏單元陣列構成，R、G、B三條列陣傳感器與被測物的軸線基本垂直，用分離最遠的R、G陣列傳感器作為兩條相互平行的像敏單元陣列之間的間隔m。而相鄰感

27、光單元陣列的間距為64為已知量，則R、G陣列傳感器的間隔距離為兩倍的已知間距，即128。</p><p>　　對于單個線陣CCD不能測得二維信息量，必須配以掃描運動，并且為了能確定圖像每一像素點在被測件上的對應位置，還必須配以光柵等器件以記錄線陣CCD每一掃描行的坐標。利用此裝置可以獲得較大的m值。在此過程中，線陣CCD在電機驅動下水平前移，按照固定的時間間隔采集一行圖像。從理論上講，電機運動速度應該是勻速的，C

28、CD采集圖像的時間間隔所取決的光積分時間也應該是相等的，因此行距應該是相等的。但由于電機運動產生的振動、啟停過程中速度的變化，特別是機械傳動部分的誤差都會影響采集行距的一致性。同時，線陣CCD自身光積分時間也會影響采集行距。所以在一定程度上光柵器件測得m值雖然可以做的很大，但是對最后的分辨率有一定的影響。然而可以從算法上克服掃描運動的影響，使機械傳動的誤差不致對精度影響非常大。 較分辨率而言，線陣CCD測量的分辨率高于彩色線陣CCD。&

29、lt;/p><p>　　而對于面陣CCD的 m值，相對于同列像元的中心距t也是非常大。下表為一般面陣CCD的靶面尺寸:</p><p>　　表一:面陣CCD的一般靶面尺寸</p><p>　　理論上面陣CCD的最小分辨角是非常高的，但實際上面陣CCD像元間距制造精度卻限制了它的分辨率。而線陣CCD的掃描行的坐標由光柵提供，高精度的光柵尺的示值精度可高于面陣CCD像元間距

30、的制造精度，從這個意義上講，線陣CCD獲取的圖像在掃描方向上的精度可高于面陣CCD圖像。因此，較二者，線陣CCD加上高精度的光柵在錐度測量系統(tǒng)中的測量分辨率高于面陣CCD。</p><p>　　通過比較分析，線陣CCD加上高精度光柵的測量分辨率高于彩色線陣CCD和面陣CCD。2)從CCD器件的成本方面分析</p><p>　　線陣CCD的突出優(yōu)點除了分辨率高外，便是價格低廉。線陣CCD加上

31、掃描機構（包含高精度的光柵尺）及位置反饋環(huán)節(jié)，其成本仍然大大低于同等面積、同等分辨率的面陣CCD。</p><p>　　彩色線陣CCD器件由3條相互平行的像敏單元陣列構成，且制造工藝保證三條平行的光敏單元陣列的首尾及像元尺寸的精度較高。所以，線陣CCD的價格明顯低于彩色線陣CCD。然而，線陣CCD在測量過程中需要以高精度的光柵尺為基礎的反饋調節(jié)系統(tǒng)，在成本上就高于彩色線陣CCD一點。</p><

32、;p>　　通過比較分析，彩色線陣CCD在成本上略顯優(yōu)勢，但也和利用線陣CCD進行測量差不多，但是二者成本明顯低于面陣CCD的成本。</p><p>　　3)從CCD器件的使用率方面分析</p><p>　　線陣CCD系統(tǒng)是利用掃描機構帶著線陣CCD掃描，其使用效率可用計算機里面的一詞句“分時復用”來形容。而彩色線陣CCD則是利用相距較遠的R、G兩陣列進行接收測量，其中的B列完全沒用。

33、如果我們只使用面陣的CCD其中兩列來進行測量，面陣CCD的使用率是最低的，不過如果在算法上改進精度（例如，利用間隔數(shù)據(jù)采集來平均求測量的錐度），使用效率也是非常高的。</p><p>　　通過比較分析，線陣CCD的使用率和面陣CCD的使用率高于彩色線陣CCD。</p><p>　　綜合以上幾點的分析，我們小組決定使用線陣CCD作為接收器件完成我們的錐度測量，并選用MN3611作為線陣CCD

34、 器件。 </p><p><b>　　2、機械結構</b></p><p>　　我們小組設計的系統(tǒng)中除了必要的機械結構設計，還有：</p><p><b>　?。?）旋轉機構</b></p><p>　　為了進一步減小測量誤差，我們小組設計了一個物體多次測量的方法。將被測物基本垂直固定在一個旋轉機

35、構上，旋轉一定的角度測量一次，然后計算其平均值作為最終輸出值。每次可測得對稱的兩角度，所以只需旋轉半周即可，即將180度分成幾等分即可（大致可以45度一分，共分4次）。</p><p>　　旋轉機構是很成熟的產品，只是自動化時，是選用普通的電機還是選用步進電機。經小組討論后，由于我們只是需要在不同的地方多次測得角度然后求取平均值，并不需要精確的角度信息。所以決定選取普通電機。</p><p&g

36、t;　　相應的控制執(zhí)行機構是由msc-51單片機控制執(zhí)行的。旋轉機構不需要非常高的精度，所以在控制旋轉過程中，我們只有編制程序輸出對應長時間的方波，然后將這方波放大控制前面選用的電機即可。例如下面是一個2秒為周期，占空比為50%的方波，由單片機的P1.0口輸出。</p><p><b>　　ORG 0000H</b></p><p><b>　　AJMP M

37、AIN</b></p><p><b>　　ORG 000BH</b></p><p><b>　　AJMP PI</b></p><p><b>　　MAIN:</b></p><p>　　MOV R7,#0AH</p><p>　　MOV

38、 TOMD,#01H</p><p>　　MOV TH0,#3CH</p><p>　　MOV TL0,#0B0H</p><p><b>　　CLR F0</b></p><p><b>　　SETB ET0</b></p><p><b>　　SETB EA&l

39、t;/b></p><p><b>　　SETBTR0</b></p><p><b>　　LJMP $</b></p><p><b>　　PI:</b></p><p><b>　　JB F0,L1</b></p><p>

40、;　　DJNZ R7,L2</p><p><b>　　SETB F0</b></p><p><b>　　SJMP L2</b></p><p><b>　　L1:</b></p><p><b>　　CPL P1.0</b></p>&l

41、t;p>　　MOV R7,#0AH</p><p><b>　　CLR F0</b></p><p><b>　　L2:</b></p><p>　　MOV TH0,#3CH</p><p>　　MOV TL0,#0B0H</p><p><b>　　RETI

42、</b></p><p><b>　?。?）掃描機構</b></p><p>　　其實，該系統(tǒng)的掃描機構并不是純粹的掃描機構，只是實現(xiàn)線陣CCD在垂直方向實現(xiàn)一定的位移，即m值。測量一次就在該方向上移動一個距離，一般這距離不能太大，在幾個毫米的范圍內就足夠了。因為太大，這段距離的測量誤差就大了，最后將直接反應到最終的測量結果中去。在這個過程中，利用機械微動

43、裝置實現(xiàn)這短距離，然后利用高精度光柵尺測量作為反饋。實現(xiàn)過程如下圖：</p><p>　　圖6： 線陣CCD利用掃描機構獲得m值的過程圖</p><p>　　對于光柵尺的選擇:例如，柵線為50線對/mm的光柵尺，其光柵柵距為0.02mm，若采用四細分后便可得到分辨率為5μm的計數(shù)脈沖，這在工業(yè)普通測控中已達到了很高精度。由于位移是一個矢量，即要檢測其大小，又要檢測其方向，因此至少需要兩路相

44、位不同的光電信號。為了消除共模干擾、直流分量和偶次諧波，通常采用由低漂移運放構成的差分放大器。由4個光敏器件獲得的4路光電信號分別送到2只差分放大器輸入端，從差分放大器輸出的兩路信號其相位差為π/2，為得到判向和計數(shù)脈沖，需對這兩路信號進行整形，首先把它們整形為占空比為1：1的方波。然后，通過對方波的相位進行判別比較，就可以得到光柵尺的移動方向。通過對方波脈沖進行計數(shù)，可以得到光柵尺的位移和速度。</p><p>

45、;　　我們小組從現(xiàn)有的一些傳感器公司也了解了一些。例如，日本有名的基恩士（KEYENCE）公司中的一些產品。我們選用了他們公司的MWS12 小型數(shù)字量規(guī)（光柵尺）。</p><p>　　MWS12 是精密的小型光柵測量系統(tǒng),適用于小量程的精密測量. 尤其適用于測量, 機器人技術, 醫(yī)療設備,精密現(xiàn)代化加工設備. 通常用于連續(xù)的厚度測量. MWS12 光柵尺將直線的位移變化轉換為脈沖信號. 脈沖信號的數(shù)量對應移動的

46、距離，脈沖頻率則反應了運動速度。MWS12 本體部分由一套精密直線滾珠軸承，復位彈簧，玻璃光柵，LED光照系統(tǒng)組成。</p><p>　　MWS12輸出信號為矩形方波。A，B相 相差90°的兩路波形，能夠指示出移動距離以及方向。</p><p>　　EF 輸出信號 (向光柵尺內部移動時) </p><p>　　圖7： EF輸出信號</p&g

47、t;<p>　　下表是該光柵尺的一些技術特性:</p><p>　　表二：MWS12 小型數(shù)字量規(guī)（光柵尺）技術特性</p><p><b>　　3、電路設計</b></p><p>　　（1）CCD驅動電路</p><p>　　我們已經選用了MN3611作為線陣CCD 器件。所以我們需要設計的驅動電路即該

48、器件的驅動電路。</p><p>　　采用兩相脈沖驅動，且驅動脈沖頻率可調( 由CPLD 實現(xiàn))。器件工作時，RS為復位脈沖，標準值為1 MHz; CR1和CR2為雙相驅動時鐘，時鐘頻率標準值為0．5 MHz; SH為轉移脈沖，脈沖寬度標準值為1 000 ns。當線陣CCD 器件MN3611 工作時，需要提供四路脈沖，分別是轉移脈沖SH、驅動脈沖CR1和CR2、復位脈沖RS，其時序由CPLD 來實現(xiàn)。CPLD 輸

49、出的四路脈沖經反相驅動器反相后疊加到MN3611 的相位管腳上。在這四路驅動脈沖的作用下，該器件將輸出OS 信號( 即經過光積分的有效電信號) 和DOS 信號( 即補償信號) 。硬件線路的連接如圖：</p><p>　　圖8：MN3611驅動電路線路連接圖</p><p><b>　　（2）二值化電路</b></p><p>　　在CCD輸出的

50、視頻電壓信號中，低電平部分表示實際工件尺寸的大小，高電平部分表征背景光信號的大小，也就是說，工件與背景光信號的差異在CCD輸出信號中體現(xiàn)為電平的明顯變化。因此，需要通過二值化處理，把CCD視頻信號中工件尺寸部分與背景光部分分離成二值電平。實現(xiàn)CCD視頻信號二值化的方法主要有固定閾值法、浮動閾值法和微分法，一般用硬件電路實現(xiàn)。無論采用哪種信號處理方式，都是為了從CCD的輸出信號中提取真正表示被測工件邊界的特征點。我們采用固定閾值法實現(xiàn)二值

51、化，線陣CCD二值化電路圖如下所示。圖中，CCD輸出的放大視頻信號送入電壓比較器的同相輸入端，比較器的反相輸入端加可調電位器就構成了固定閾值二值化電路。CCD視頻信號經電壓比較器后輸出的是二值化方波信號。調節(jié)閾值電壓，方波脈沖的前、后沿將發(fā)生移動，使脈沖寬度發(fā)生變化。我們可以通過兩次測量中電平明顯變化的像元位置的偏移來得到角度的精確值。 </p><p>　　圖9：線陣CCD二值化電路圖</p>&

52、lt;p>　?。?）脈沖填充和計數(shù)</p><p>　　一般在尺寸測量系統(tǒng)中是對代表尺寸的二值化信號所覆蓋的CCD像元數(shù)目進行采集,這種方法由于受到光敏元距離的影響,測量精度比較低。例如,光敏元間距為d=7μm的CCD,計算出像元數(shù)目為N,則:D=Nd±2d,即誤差為2個光敏元間距14μm。為了提高測量精度,在經過一系列電路處理將視頻信號進行邊界提取并形成二值化方波后,用更高頻率的時鐘脈沖對二值化

53、信號的寬度進行填充計數(shù),由于每個脈沖與CCD像元有確定的關系,用所記錄的脈沖數(shù)乘以脈沖當量就可求得被測尺寸。</p><p>　　4、數(shù)據(jù)采集與計算機接口</p><p>　　CCD輸出的電荷信號不能直接進行計數(shù)處理及用于尺寸計算。首先由于信號微弱,且存在高頻干擾,所以需要進行濾波放大。另外,光源發(fā)光強度不穩(wěn)定,光路系統(tǒng)的調節(jié)也不可能盡善盡美，光帶邊緣存在一定色散,輸出信號在光照和陰影邊界

54、處存在著由明到暗的過渡。為了得到與工件尺寸相關的陰影部分尺寸，需要對CCD輸出視頻信號進行二值化處理，將其轉化成矩形波，然后用脈沖填充,計數(shù)器計數(shù)，再通過微機接口與微機相連，結合控制程序進行數(shù)據(jù)采集和信息處理。信號處理原理框圖如下所示：</p><p>　　圖10：CCD視頻信號處理的原理框圖 </p><p>　　線陣成像器件有基于PC總線的線陣CCD數(shù)據(jù)采集卡，基于PCI總線的線陣CC

55、D數(shù)據(jù)采集卡和基于USB總線的數(shù)據(jù)采集接口等。目前，高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)主要采用PCI總線和USB總線。盡管PCI總線數(shù)據(jù)傳輸具有許多優(yōu)點，但它在使用過程中安裝麻煩、易受機箱內環(huán)境的干擾，受到計算機系統(tǒng)資源、插槽數(shù)量限制，不易擴展。因此，利用USB總線設計高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，可提高系統(tǒng)的普遍適應性。</p><p>　　將數(shù)據(jù)輸入到電腦后的控制處理即為上位機和下位機的操作。機發(fā)出的命令首先給下位機，下位機再根據(jù)此命令解

56、釋成相應時序信號直接控制相應設備。下位機不時讀取設備狀態(tài)數(shù)據(jù)（一般為模擬量），轉換成數(shù)字信號反饋給上位機。</p><p><b>　　四、精度分析</b></p><p>　　要測圓臺ABCD的錐度，前面已經說明只需測量角度a的值，如下圖。但是由于放置的時候圓臺的軸線并不是理論的垂直于CCD的列陣，因為</p><p>　　圓臺會在固定架上有

57、一定程度的轉動。假如繞圖中黑點</p><p>　　對應的垂直于紙面的軸線轉動了個角度c（轉動后圓臺</p><p>　　軸線與理論軸線的夾角），此時如果再按照前面建立的數(shù)</p><p>　　學模型來計算將帶來非常大的誤差，嚴重影響測量精度。</p><p>　　因此，我們小組在解決這個問題時候，借鑒了精</p><p&

58、gt;　　密測角儀上消除偏心誤差的對鏡讀數(shù)方法。我們同時</p><p>　　測量圓臺兩邊在CCD上成像的角度，</p><p>　　即可消除這種誤差，這也正是我們設計旋轉機械結構</p><p>　　的作用。如右圖，我們仍舊利用前面建立的數(shù)學模型，</p><p>　　只是同時測量角度x，y。</p><p>　　依

59、數(shù)學關系，從圖中可知：</p><p><b>　　圖11：測量誤差圖</b></p><p>　　因此，，即為所測的角度。 </p><p>　　該系統(tǒng)的總的分辨率由前面的分析可知：MN3611作為線陣CCD 器件，其同列像元的中心距t為14μm。m值在這為光柵尺來回掃描設定的距離，我們選用的是MWS

60、12 小型數(shù)字量規(guī)（光柵尺），其測量范圍在12mm ，然而考慮到精度，我們的m值設定為10mm。其分辨率為0.1μm，準確度為± 0.4μm / 12 mm。故最小分辨角即可求： </p><p>　　=arctan(14μm/10mm)=0.080度</p><p>　　t表

61、示同列像元的中心距。</p><p>　　m表示兩條相互平行的像敏單元陣列之間的間隔</p><p>　　按照前面也就是測量錐度的精度14μm/10mm=0.0014</p><p>　　該系統(tǒng)測量錐度的誤差主要來自光柵尺的精度和線陣CCD的制作精度，我們小組除了再選用器材上考慮到了選用高精度的器件外，我們還考慮到了兩者的誤差綜合匹配，和成本等問題。另外，我們還在結

62、構上設計了旋轉機構來提高精度。前面已經分析了，每旋轉45度測量一次，共用4次，每次兩個數(shù)。</p><p>　　表3：測量結果的處理方式</p><p><b>　　五、總結</b></p><p>　　本文利用線陣CCD MN3611傳感器幾何位置精度高、可靠性高、壽命長、適合較惡劣環(huán)境的特點，設計了在線非接觸工件錐度測量系統(tǒng)。系統(tǒng)包括光、機

63、、電、算四部分，光學系統(tǒng)將被測工件成像在CCD的光敏面上；經過CCD驅動電路和二值化處理以及連接計算機進行數(shù)據(jù)采集，再將采集到的數(shù)據(jù)帶入公式計算，便可得到被測工件外圓錐度；而且，機械系統(tǒng)中的旋轉機構可以具有誤差平均作用。如果進一步提高光學系統(tǒng)的加工和裝調精度，就能保證CCD感光面與像面的完全重合；若對CCD輸出視頻信號采用浮動閾值法進行二值化處理，可進一步提高系統(tǒng)的測試精度。</p><p><b>　

64、　六、參考文獻</b></p><p>　　[1]王彩霞. 線陣CCD非接觸直徑測量系統(tǒng)設計</p><p>　　[2]劉國旗.一種通用量具測量外圓錐度的方法</p><p>　　[3]雷玉堂.葉聲華.光電檢測技術.中國計量出版社.2009.5</p><p>　　[4]鄭理.CCD投影法直徑測量系統(tǒng)的信號處理電路.2009.TM