磨牙區(qū)實(shí)驗(yàn)性早接觸的咀嚼運(yùn)動軌跡研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、中山大學(xué)碩士學(xué)位論文磨牙區(qū)實(shí)驗(yàn)性早接觸的咀嚼運(yùn)動軌跡研究姓名:張海兵申請學(xué)位級別:碩士專業(yè):口腔臨床醫(yī)學(xué)指導(dǎo)教師:林雪峰20090521中山人學(xué)碩士學(xué)位論文磨牙區(qū)實(shí)驗(yàn)性甲接觸的咀嚼運(yùn)動軌跡研究直向下位移,閉口側(cè)向位移,開口側(cè)向位移。采用SPSSl60統(tǒng)計分析軟件,對實(shí)驗(yàn)中獲得的各組數(shù)據(jù)進(jìn)行分組t檢驗(yàn)和配對t檢驗(yàn),檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)otO05。結(jié)果26例正常牙合受試者中,15例為側(cè)向型咀嚼,1l例垂直型咀嚼。正常牙合者冠狀面咀嚼運(yùn)動軌跡呈規(guī)則環(huán)形,

2、表現(xiàn)為下頜從ICP開始,先向咀嚼對側(cè)滑動一段距離,爾后張口由咀嚼對側(cè)逐漸轉(zhuǎn)向咀嚼側(cè),再閉口至ICP進(jìn)行下一次循環(huán)。受試者實(shí)驗(yàn)性早接觸時的咀嚼運(yùn)動軌跡,垂直型與正常殆時的形狀相似,但是咀嚼過程中的時間參數(shù),位移參數(shù)發(fā)生改變,位移幅度減??;15例側(cè)向型者中9例形成了閉口時的牙合干擾,咀嚼運(yùn)動軌跡發(fā)生異常,表現(xiàn)為在ICP附近的凹形閉口運(yùn)動軌跡。26例受試者J下常黔和實(shí)驗(yàn)性早接觸的比較,結(jié)果顯示閉口時間和閉口角角度的差異具有統(tǒng)計學(xué)意義。實(shí)驗(yàn)性早

3、接觸時閉口時間延長,為030005s,正常牙合為028003s。實(shí)驗(yàn)性早接觸的閉口角62115oo大于正常時的582153。。以上差異均有統(tǒng)計學(xué)意義(正001)。側(cè)向型和垂直型受試者正常牙合時的比較,兩組進(jìn)行獨(dú)立樣本的t檢驗(yàn),結(jié)果表明兩者的閉口角、開口角的差異均有統(tǒng)計學(xué)意義(∥001)。側(cè)向型開口角為12061780,垂直型開口角為77975。;側(cè)向型閉口角為461510,垂直型閉口角為747570。側(cè)向型咀嚼和垂直型咀嚼正常牙合和實(shí)驗(yàn)

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