電流信息在集成電路故障診斷中的應(yīng)用研究.pdf

1、集成電路的故障診斷是集成電路設(shè)計與生產(chǎn)過程中的一個重要部分。診斷分故障檢測和故障定位兩部分。傳統(tǒng)的基于電壓的功能測試方法在理論方面的研究已經(jīng)比較成熟，并且得到了廣泛的應(yīng)用。但這種方法無法有效的檢測某些故障，對于現(xiàn)代高性能集成電路是不充分的?；陔娏鞯墓收显\斷方法包括靜態(tài)電流診斷方法（IDDQ）和動態(tài)電流診斷方法（IDDT），是近期發(fā)展起來的新方法。它通過從電源電流信號中提取有效的信息來進(jìn)行故障診斷，能夠提高故障覆蓋率，降低測試成本并提高

2、集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。它可以彌補(bǔ)傳統(tǒng)方法的許多不足之處，是傳統(tǒng)方法的重要補(bǔ)充。電流測試方法有著非常廣闊的應(yīng)用前景，但理論上還未成熟，許多問題有待研究。
　　本文著重在靜態(tài)電流檢測方法、動態(tài)電流檢測方法以及故障定位算法三個方面進(jìn)行了研究。在靜態(tài)電流檢測方面，首先闡述了IDDQ檢測的基本原理以及優(yōu)缺點；分析了深亞微米技術(shù)對IDDQ測試的影響以及IDDQ的改進(jìn)方法。并對CMOS電路與BiCMOS電路的橋接故障作了IDDQ檢測仿真實

3、驗，分析了IDDQ檢測的故障覆蓋率。在動態(tài)電流檢測方面，首先分析了動態(tài)電流檢測的可行性，然后解釋了動態(tài)電流檢測的基本原理并對現(xiàn)有動態(tài)電流處理方法作了比較與分析。并通過仿真實驗，分析了動態(tài)電流檢測方法對CMOS與BiCMOS電路中短路故障、開路故障、晶體管參數(shù)錯誤的測試情況。此外，針對較難檢測的延遲故障，專門討論了適合于延遲故障檢測的電流測試方法。在故障定位算法方面：本文設(shè)計了一種基于電流信息的電路故障定位算法，該算法將靜態(tài)電流診斷方法與