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文檔簡介
1、本論文主要理論研究了在低溫等離子體環(huán)境下,利用各種納米結(jié)構(gòu)模板,通過沉積以及刻蝕的方法,制備金屬以及介質(zhì)納米結(jié)構(gòu)過程中各實驗參數(shù)對最終結(jié)果的影響。研究的主要內(nèi)容以及對應(yīng)成果集中于以下三大方面: (1) 這部分工作主要是理論研究了在低溫等離子體環(huán)境下(擁有基本典型的電子溫度以及等離子體密度),利用納米孔洞模板,在高摻雜硅襯底上沉積金納米點(diǎn)陣的過程。 通過理論計算在等離子體鞘層、納米孔洞附近以及納米孔洞中的離子軌跡,我們能夠得
2、到相應(yīng)的三維離子流分布。結(jié)果顯示,通過調(diào)節(jié)電子溫度,外加偏壓以及納米孔洞模板的結(jié)構(gòu),人們可以有效地控制離子流,并最終增強(qiáng)離子沉積到孔洞底面的概率,減小離子到達(dá)孔洞側(cè)壁的概率以防止孔洞的最終堵塞。 (2) 這部分工作闡述了利用納米孔洞模板等離子體沉積介質(zhì)材料過程的理論模擬工作。當(dāng)離子離開等離子體進(jìn)入鞘層時,我們加入了麥克斯韋分布來計算離子的初識速度。 結(jié)果表明電子溫度以及納米孔洞結(jié)構(gòu)能夠有效改變離子的沉積率。同時,我們發(fā)現(xiàn)同
3、樣利用模板在等離子體環(huán)境下沉積金屬材料以及非金屬的結(jié)果是相當(dāng)不同的。人們需要采用其它一些新穎的等離子體制備納米結(jié)構(gòu)技術(shù)來使得外加偏壓以及鞘層內(nèi)部微電場的控制作用變得明顯。 (3) 這部分工作研究了利用自組裝單層納米球珠模板,在等離子體環(huán)境下刻蝕制備介質(zhì)納米結(jié)構(gòu)的過程中的微觀離子流分布。結(jié)果顯示到達(dá)底部以及球珠模板上的離子可以被納米球珠的尺寸、等離子體參數(shù)以及外加襯底偏壓所有效控制。通過適當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)各類參數(shù),離子流可以被聚焦于那些未被
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