光學(xué)非接觸三維測(cè)量?jī)x中瞄準(zhǔn)技術(shù)的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、幾何參數(shù)的測(cè)量一直是計(jì)量領(lǐng)域的重要研究部分。作為基礎(chǔ)的長(zhǎng)度測(cè)量,隨著新的測(cè)量理論的提出和新測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用,從一維、二維(2-D)、三維(3-D)以至高維空間,都成為人們關(guān)注和研究的內(nèi)容。光學(xué)式測(cè)量技術(shù)以其非接觸、自掃描、高精度、快速獲取等手段,正好滿足了工業(yè)測(cè)量和檢測(cè)方面的需要。 非接觸三維測(cè)量?jī)x是由CCD圖像傳感器、PSD位置傳感器、光柵傳感器、光學(xué)成像系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、激光發(fā)射器和計(jì)算機(jī)及相關(guān)的機(jī)械結(jié)構(gòu)構(gòu)成的光學(xué)非接觸式三

2、維測(cè)量裝置。眾所周知,邊緣瞄準(zhǔn)的精度的高低決定了一個(gè)測(cè)量?jī)x器的性能,本文利用光學(xué)測(cè)量具有的非接觸性、全場(chǎng)測(cè)量性和高精度性的特點(diǎn)以及光電傳感器設(shè)計(jì)了一種非接觸式光學(xué)測(cè)頭。該檢測(cè)儀將三維測(cè)量分為平面二維測(cè)量和Z方向的一維測(cè)量。平面二維測(cè)量主要利用CCD成像技術(shù),圖像處理技術(shù),亞像素細(xì)分技術(shù)等實(shí)現(xiàn)了對(duì)被測(cè)物邊緣的自動(dòng)“描準(zhǔn)”,自動(dòng)計(jì)算。文中詳細(xì)介紹了該檢測(cè)系統(tǒng)具體的檢測(cè)方法,設(shè)計(jì)了相應(yīng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)和軟件計(jì)算系統(tǒng)。在理論部分探討了和圖像處理技術(shù)有

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