智能卡抗干擾測(cè)試系統(tǒng)的研究.pdf

1、本文首先介紹了國(guó)內(nèi)外智能卡測(cè)試的特點(diǎn)、發(fā)展現(xiàn)狀和前景，提出智能卡抗干擾測(cè)試系統(tǒng)研究的必要性。 在分析智能卡故障原因的基礎(chǔ)上，結(jié)合智能卡可靠性預(yù)計(jì)理論，提出采用故障注入方式進(jìn)行干擾的測(cè)試方法。在該測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，將接觸式智能卡的抗干擾測(cè)試系統(tǒng)劃分為接觸式干擾注入和輻射式干擾注入兩類(lèi)。 詳細(xì)介紹接觸式抗干擾測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案，從硬件和軟件設(shè)計(jì)角度對(duì)自主研發(fā)的接觸式故障注入器進(jìn)行剖析。說(shuō)明接觸式故障注入器和測(cè)試主機(jī)之間的通信

2、協(xié)議，對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的上層軟件設(shè)計(jì)和整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試流程都進(jìn)行了詳細(xì)的闡述。 接觸式抗干擾測(cè)試由信號(hào)中斷測(cè)試、供電穩(wěn)定性測(cè)試和磨損測(cè)試三部分組成。對(duì)輻射干擾測(cè)試和接觸式抗干擾測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理分析。針對(duì)每種測(cè)試，都給出相關(guān)的測(cè)試結(jié)論，并指出該種測(cè)試對(duì)于提高智能卡可靠性的必要性。 研究結(jié)果表明該測(cè)試系統(tǒng)可以有效地評(píng)估智能卡防御旁路攻擊的能力和抗干擾可靠性，能夠及時(shí)有效地為設(shè)計(jì)人員提供反饋信息，為智能卡抗干擾測(cè)試提供了一種方便、經(jīng)