正電子湮沒壽命譜儀的組裝、調(diào)試與優(yōu)化.pdf

1、正電子壽命分析技術(shù)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的有效手段，本文對國內(nèi)外正電子湮沒技術(shù)的發(fā)展作了簡要的回顧，著重對正電子湮沒壽命測量技術(shù)進行了研究。在此基礎(chǔ)上，把兩臺不能正常工作、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)不同的正電子湮沒壽命譜儀組裝成一臺并進行了調(diào)試。 本文工作中升級了壽命譜儀的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，重新設(shè)定和檢驗了壽命譜儀的各組件，對組裝后的譜儀進行了能量標定，結(jié)果為：起始道：E<'U><,mV>=0.701KeV/mV，E<'L><,mV>=1.079Ke

2、V/mV，終止道：E<'U><,mV>=0.723KeV/mV，E<'L><,mV>=1.095KeV/mV，采用動態(tài)法、百分比法和平均法分別進行能窗選擇，比較了時間刻度的兩種線路連接方式，在較好的連接方式下用延時箱法和光子飛行時間法分別進行時間刻度，在多道暫存器918MCB設(shè)置成2×4K道的情況下，得到最好的時間刻度結(jié)果為26.3ps/ch；測量不同能窗下譜儀的時間分辨率，其中動態(tài)法得到的<'22>Na能窗(起始：491mV～1515

3、mV，終止：210mV～470mV)下，<'60>Co瞬發(fā)峰有252ps的分辨率，而且有200個計數(shù)/秒的<'22>Na計數(shù)率，而同一能窗下這一譜儀在十年之前的分辨率為287～300ps；實驗證明，調(diào)整后的譜儀長時間測量，穩(wěn)定性較好，平均每改變1℃引起的峰位移動量為4.47ps/℃，滿足資料中給出的不大于10ps/℃的要求，實驗室環(huán)境溫度從16℃上升到24℃，分辨率降低1.71ps，譜儀穩(wěn)定系數(shù)較好；提出了一種正電子壽命譜儀分辨率理論預(yù)

4、測的方法，分辨率理論估算值和實驗測量值符合較好，證明了預(yù)測方法的可行性；介紹了系統(tǒng)時間分辨函數(shù)的確定方法，并在動態(tài)法能窗下，用<'22>Na源測Fe樣品的壽命譜，用Visual C++語言編寫的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換程序獲取數(shù)據(jù)，用國際上比較通用的POSITRONFIT程序進行三組分自由擬合，得到樣品中Fe的正電子壽命為106ps，與相關(guān)參考文獻所給值(107ps)相差lps；分析了測試過程中的背散射、脈沖迭加影響以及減小影響的方法，進而總結(jié)出能窗調(diào)