數(shù)碼相框芯片測試方案的開發(fā)及優(yōu)化.pdf

1、現(xiàn)代社會,集成電路是信息產(chǎn)業(yè)和高新技術的核心,是推動國民經(jīng)濟和社會信息化的關鍵技術之一。集成電路的設計和工藝制造產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展也為集成電路的測試提出了更高的要求。對于新產(chǎn)品來說,如何縮短產(chǎn)品從生產(chǎn)到投入市場的時間是至關重要的。因為時間直接決定產(chǎn)品的銷售時機,影響其銷售量。
　　 在產(chǎn)品生產(chǎn)初期就制定一套高效的測試解決方案,可以避免在測試程序開發(fā)階段多走彎路,提高測試程序開發(fā)效率,有效的進行測試生產(chǎn),使之快速投放市場。
　　

2、 本文主要以DPF(Digital Photo Frame)芯片為例,介紹了新產(chǎn)品測試方案的制定,測試程序的丌發(fā)及其優(yōu)化的全過程。對于新的功能模塊,結(jié)合既定的自動測試設備,對測試方法和測試實現(xiàn)進行了詳細的研究和設計,使開發(fā)出來的測試程序能夠更有效測試產(chǎn)品并具有一定的獨創(chuàng)性。在測試程序開發(fā)完成投入量產(chǎn)測試后,依據(jù)生產(chǎn)取得的大量數(shù)據(jù)對測試程序進行優(yōu)化,從而更有效的進行測試生產(chǎn),節(jié)省測試成本。在實際應用方面希望通過本文可以對混合信號產(chǎn)品的測