版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領
文檔簡介
1、Er3+在石英基體材料中受激光致發(fā)光的波長大約是1540nm,這個波長是石英光纖的最小損耗窗口,因而是以石英光纖為基礎的光通訊的標準波長之一。摻鉺光纖放大器(EDFA)作為獲得光增益的媒質(zhì)是光纖通訊系統(tǒng)中極其重要的組成部分。當前正在快速發(fā)展的城域網(wǎng)(MAN)、局域網(wǎng)(LAN)以及光纖到戶(FTTH)等系統(tǒng)中對波分復用(WDM)/密集波分復用(DWDM)光信號能量衰減的補償需要可集成的緊湊型、低成本摻鉺光波導放大器(EDWA)。然而,Er
2、3+在體硅中具有固溶度低和發(fā)光強度溫度淬滅強的缺點,難以達到設計光波導放大器的要求。一種新穎的敏化發(fā)光技術使獲得室溫高效硅基摻鉺發(fā)光成為可能。在摻鉺的SiO2中形成Si-nc,利用Si-nc對Er3+的敏化作用可以提高Er3+對泵浦光的有效吸收截面;利用Si-nc帶隙和Er3+躍遷能量之間較大的不匹配可以抑制溫度淬滅效應。 本文利用離子注入方法制備了富硅氧化硅(SRSO)和摻鉺富硅氧化硅(ErSRSO)材料,研究了材料微觀結(jié)構(gòu)和
3、Er的化學狀態(tài)隨退火溫度的演變。實驗結(jié)果表明注入SiO2的富余Si原子經(jīng)歷了偏析集聚形成a-Si納米顆粒繼而在更高溫度轉(zhuǎn)變成nc-Si的演化過程;在900℃以上溫度退火,形成非晶SiOx層包覆nc-Si的殼層結(jié)構(gòu);約900℃退火,形成具有光學活性的Er-O發(fā)光中心。 研究了富硅氧化硅和摻鉺富硅氧化硅的光致發(fā)光特性以及退火對他們的影響。結(jié)果表明Er3+的出現(xiàn)和濃度升高都對Si-nc的光致發(fā)光有淬熄作用,證實了Si-nc與Er3+強
4、耦合模型的正確性;發(fā)現(xiàn)殼層結(jié)構(gòu)中殘余非晶硅層是激發(fā)態(tài)Er離子非輻射去激發(fā)的通道之一,由此引起的能量背遷移是Er離子光致發(fā)光在T>150K溫度淬滅的主要因素。 考慮到Er3+通過Si-nc間接被激發(fā)的過程,我們對描述激發(fā)態(tài)Er3+的速率方程進行了改寫。與SiO2中Er3+直接被激發(fā)不同,從ErSRSO系統(tǒng)速率方程的解中得到1/TriseФ是非線性關系,并被實驗結(jié)果所證實。根據(jù)實驗結(jié)果擬合得到我們所制備ErSRSO材料中Er3+的有
5、效吸收截面為σeff=(9.73土0.06)×10-17cm2,比在SiO2中Er離子直接吸收泵浦光的吸收截而大4個量級。 根據(jù)Si-nc與Er3+之間的相互作用特點,類似于稀土元素共摻雜(如Yb和Er)系統(tǒng)的能量傳遞過程,我們利用Forster模型關于偶極-偶極共振相互作用的理論對Si-nc與Er3+的耦合機制和能量傳遞過程進行了研究。根據(jù)摻鉺和不摻鉺Si-nc光致發(fā)光強度衰減之間的關系和實驗結(jié)果,推導出Si-nc與Er3+離
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 離子注入法制備富硅氧化硅薄膜的發(fā)光特性研究.pdf
- 富硅氧化硅和ZnO摻Er薄膜的制備及光學特性.pdf
- 摻硼富硅氧化硅可調(diào)光致發(fā)光研究.pdf
- 摻硼富硅氧化硅薄膜光電性能的研究.pdf
- 摻鉺富硅氧化硅薄膜光學性能研究.pdf
- 離子注入制備硅基發(fā)光材料及其性能研究.pdf
- 碳化硅離子注入及歐姆接觸研究.pdf
- 摻鉺富硅氮氧化硅的敏化發(fā)光研究.pdf
- 氮離子注入單晶硅的性能研究.pdf
- 碳化硅離子注入及歐姆接觸的研究.pdf
- 離子注入對金屬材料改性
- 離子注入硅退火及退火過程熱力學研究.pdf
- 摻鉺富硅二氧化硅電致發(fā)光器件的光電性研究.pdf
- 氮和氫離子注入單晶硅引起的損傷研究.pdf
- 金離子注入氧化鋅薄膜引起的改性研究.pdf
- 鎢的表面納米化及鎢、碳化硅氦離子注入研究.pdf
- 半導體工藝--離子注入
- 金屬離子注入氧化物材料引起的結(jié)構(gòu)和光學性質(zhì)變化研究.pdf
- 西電碩士論文-碳化硅離子注入及歐姆接觸研究
- He離子注入單晶硅空腔生長及He熱釋放研究.pdf
評論
0/150
提交評論