微處理器全速電流測(cè)試實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、隨著集成電路制造技術(shù)的發(fā)展，基于固定型故障模型的電壓測(cè)試技術(shù)越來(lái)越不能滿(mǎn)足高性能集成電路的需求。為了降低測(cè)試成本并且提高集成電路的可靠性，電流測(cè)試應(yīng)運(yùn)而生。電流測(cè)試技術(shù)包括穩(wěn)態(tài)電流測(cè)試(IDDQTesting)、瞬態(tài)電流測(cè)試(IDDTTesting)兩種方法。穩(wěn)態(tài)電流測(cè)試目前已經(jīng)實(shí)用化，而瞬態(tài)電流測(cè)試由于其對(duì)測(cè)試設(shè)備要求苛刻和其他一些技術(shù)問(wèn)題仍處于研究階段。針對(duì)瞬態(tài)電流測(cè)試過(guò)于依賴(lài)測(cè)試設(shè)備的現(xiàn)狀，中科院閔應(yīng)驊教授提出了基于瞬態(tài)電流的全速

2、電流測(cè)試方法(IDDATesting)。全速電流測(cè)試的可行性已在仿真實(shí)驗(yàn)中得到了驗(yàn)證，現(xiàn)在需要實(shí)測(cè)實(shí)驗(yàn)的支持。 微處理器是一種較為特殊的電路，它可不需要外加激勵(lì)而依靠程序存儲(chǔ)器自行運(yùn)轉(zhuǎn)。若以程序作為測(cè)試激勵(lì)，用全速電流測(cè)試方法檢測(cè)微處理器，實(shí)驗(yàn)過(guò)程將非常容易實(shí)現(xiàn)。本文針對(duì)微處理器的特點(diǎn)，提出了指令級(jí)全速電流測(cè)試方法。希望以AT89C51微處理器為例，通過(guò)實(shí)驗(yàn)說(shuō)明用全速電流測(cè)試進(jìn)行微處理器測(cè)試是可行的。AT89C51的指令級(jí)測(cè)試以