磁盤I-O Trace收集器設(shè)計及實現(xiàn).pdf

1、磁盤性能如今已經(jīng)成為計算機(jī)系統(tǒng)的主要瓶頸之一，CPU發(fā)出讀寫請求的速度和磁盤響應(yīng)的速度越來越不匹配，因而對磁盤性能的評估就顯得越來越重要。而國內(nèi)外流行的測試軟件往往只注重于對磁盤的幾種基本性能的測試，如：磁盤的數(shù)據(jù)傳輸率、尋道時間、磁盤性能、CPU占用率和磁盤工作噪音、工作溫度等。這樣的測試得到的數(shù)據(jù)與實際應(yīng)用有較大的差別，我們需要的是在充分模擬實際應(yīng)用環(huán)境下進(jìn)行的測試，這樣得到的數(shù)據(jù)才能正確地評估出磁盤的性能。
　　 通過設(shè)計

2、磁盤I/O Trace收集器，測試在Windows操作系統(tǒng)下磁盤在實際應(yīng)用中的負(fù)載，并記錄負(fù)載讀寫數(shù)據(jù)。使用WDM(Windows驅(qū)動程序模型)設(shè)計該收集器，過濾驅(qū)動截獲對磁盤的操作，得到讀寫磁盤的起始扇區(qū)以及扇區(qū)數(shù)并將這些信息保存到鏈表中。通過建立系統(tǒng)線程，不斷的從鏈表中獲取信息。最后將這些信息記錄到該收集器自身所創(chuàng)建的日志文件中去。同時設(shè)計用戶控制程序部分，實現(xiàn)對不同分區(qū)的記錄。
　　 使用磁盤I/O Trace收集器，對不