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1、東南大學(xué)碩士學(xué)位論文基于壓縮測(cè)試矢量后復(fù)用系統(tǒng)總線傳輸?shù)臏y(cè)試方案姓名:桑偉偉申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專業(yè):微電子學(xué)與固體電子學(xué)指導(dǎo)教師:陸生禮20040307查墮查蘭堡!:蘭竺絲苧AbstractWiththedevelopmentofICmanufactureandtheincreasingofchipsize,testcompactionandapplicationtechnologycriesfortherelevantbreakthr
2、oughSomemethodsshouldbefoundtoresolvethesequestionsabouttesttimeandareaoverheadTodecreasethetesltimeofthetestpatterntransportationandthetestsiliconoverhead,thispaperproposedanovelmethodthatisatestaccessmechanismbasedonsy
3、stemreusablebustransportationaftertestcompactionThismethodisverygoodfordecreasingthetestsetsizesandtestmemoryoverheadFirstly,theactualityoftestcompactiontechnologyandtheAMBAtestsystembusprotocolareintroducedSimultaneousl
4、ythereisalsoanintroductionaboutATLANTAwhichisanacademiccombinatorialfaultsimulationandATPGsoftwareAtierwards,ascanchainoptimizationalgorithminMulticapturestructurewithmultiplescanchainsisproposedinthe3“chapterThisalgorit
5、hmconstructsmultiplescanchainswithminimumeorrelativityofregisters,whichisusedinMulticapturestructureinwhichtestresponsesa∞r(nóng)efedtoregistersandprimaryinputs,TheexperimentdataofthisarithmeticbycomparingwithMScompressionalea
6、nalyzedIntheforthchapterMISRisusedtocompressresponses,andthealiasingisgottenbyexperimentsversustheresultscomputedfromthetheoryformulaofaliasingprobabilityFinallytheMCtestprotocol,thedesignofSTIC,andsimulatingtheSOCtestof
7、theMCcircuitsaredescribedExperimentsshowthattheoptimizationofthisATPGalgorithmcanbeaboutupto30%onaverageAndtheAliasingofMCstructurefullyaccordswiththetheoryformulaafterthecompressionofsingleMISRThemassofbenchmarkcircuits
8、arezeroaliasingMoreoverwhentheratioofPLLisequalto4,thetesttimeonlyis10%ofthetraditionalmethods’duringtheexperimentofMCvectorssimulationAlloftheserelevantexperimentsshowthatthetestaccessmechanismbasedonsystemreusablebustr
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