導(dǎo)電襯墊的屏蔽性能測試與應(yīng)用效果驗證.pdf

1、EMI（Electromagnetic Interference）襯墊，也稱之為導(dǎo)電襯墊，是用在當(dāng)損耗由接縫與結(jié)合面產(chǎn)生時用以恢復(fù)屏蔽完整性的一種屏蔽材料，在抑制電子設(shè)備縫隙電磁泄漏中發(fā)揮了重要作用，也是目前電子設(shè)備中應(yīng)用最為廣泛的-類屏蔽材料。襯墊的使用既要滿足屏蔽性能要求又要具有較高的性價比，但面對種類繁多的EMI襯墊，如何選用襯墊一直是令設(shè)計者所困惑的問題。因此對各種EMI襯墊的屏蔽性能做出客觀評價在襯墊的實際應(yīng)用中具有重要的意義

2、。
　　 目前，對襯墊屏蔽性能的評價主要通過兩個參數(shù)，即襯墊的轉(zhuǎn)移阻抗和屏蔽效能。根據(jù)電磁屏蔽性能標(biāo)準(zhǔn)化測試方法的規(guī)定，襯墊的轉(zhuǎn)移阻抗通過標(biāo)準(zhǔn)SAE ARP1705-2006來進(jìn)行測試。襯墊屏蔽效能的測試方法在多個標(biāo)準(zhǔn)中均有描述，本文采用標(biāo)準(zhǔn)MIL-DTL-83528C中的窗口法進(jìn)行測試。文中主要對導(dǎo)電襯墊的屏蔽性能測試方法和測試結(jié)果進(jìn)行研究和分析，并通過軟件仿真將襯墊加在機箱縫隙中對其應(yīng)用效果進(jìn)行驗證，具體工作包括以下幾個方面

3、：
　　 （1）對20種以上襯墊試樣的轉(zhuǎn)移阻抗進(jìn)行測試，通過測試結(jié)果得出襯墊材料、壓縮量等對襯墊屏蔽效能的影響；并將測試數(shù)據(jù)與后面窗口法所得的屏蔽效能測試結(jié)果對比，得出襯墊的轉(zhuǎn)移阻抗與屏蔽效能之間的聯(lián)系和區(qū)別。
　　 （2）通過對20種以上襯墊試樣的測試，總結(jié)窗口法測試中影響導(dǎo)電襯墊及金屬屏蔽體屏蔽效能的因素，如材料的安裝方式（包括螺釘大小、螺釘間距、扭矩等）、襯墊的壓縮量等，并對結(jié)論進(jìn)行分析。
　　 （3）對窗

4、口法測試方法進(jìn)行研究?？偨Y(jié)窗口法測試中影響測試結(jié)果的多種因素，并通過實驗數(shù)據(jù)進(jìn)行分析說明。主要包括天線性能、天線距離和測試窗口大小的改變與測試結(jié)果的影響。同時，利用窗口法對襯墊的低頻磁場屏蔽效能進(jìn)行測試研究。
　　 （4）運用電磁仿真軟件對襯墊的電磁屏蔽效能進(jìn)行應(yīng)用驗證，通過建立與實際測試中相關(guān)的機箱模型來進(jìn)行仿真，并對仿真結(jié)果進(jìn)行總結(jié)和分析。
　　 （5）編寫機箱屏蔽效能測試數(shù)據(jù)處理軟件，簡化測試過程，給測試人員帶來方