X波段鎖相介質(zhì)振蕩器的設(shè)計(jì).pdf

1、隨著現(xiàn)代無線通信事業(yè)的發(fā)展，移動(dòng)通信、雷達(dá)、制導(dǎo)武器和電子對(duì)抗等系統(tǒng)對(duì)頻率合成器提出了越來越高的要求。低相位噪聲、高純頻譜和高速捷變的頻率合成器成為頻率合成技術(shù)發(fā)展的主要趨勢(shì)。鎖相介質(zhì)振蕩器(PLDRO)由于其優(yōu)異的噪聲性能、頻譜純度和穩(wěn)定度廣泛應(yīng)用于頻率合成和微波振蕩源中，特別是在一些特定的領(lǐng)域，如空間探測(cè)、測(cè)量?jī)x器有著其他的頻率合成方式無法比擬的優(yōu)勢(shì)。在這樣的背景下，本課題對(duì)X波段的低相位噪聲PLDRO的理論和工程實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了研究。本

2、課題是預(yù)研項(xiàng)目，要求采用取樣鎖相的方式來實(shí)現(xiàn)。目前，大多數(shù)生產(chǎn)的PLDRO多是依靠工程人員的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)來實(shí)現(xiàn)的，由于缺乏理論上的深度分析和指導(dǎo)，設(shè)計(jì)起來困難不小。由于窄脈沖形成技術(shù)還不成熟，從而限制了取樣鑒相器的上限工作頻率。隨著窄脈沖形成技術(shù)的發(fā)展，取樣器上限工作頻率也越來越高，能夠滿足對(duì)高頻段信號(hào)的取樣要求。因此作者采用直接對(duì)DRO取樣的方式來實(shí)現(xiàn)鎖相。 本課題存在以下難點(diǎn)： 1．低相噪DRO的設(shè)計(jì)與調(diào)試； 2

3、．取樣鑒相電路以及其外圍電路的設(shè)計(jì)； 3．取樣鎖相環(huán)路的設(shè)計(jì)與調(diào)試。 本文結(jié)合上述設(shè)計(jì)難點(diǎn)首先介紹了振蕩器的工作原理、分類和噪聲。接下來詳細(xì)深入分析介質(zhì)諧振壓控振蕩器的原理，比較了介質(zhì)諧振壓控振蕩器各種結(jié)構(gòu)形式的特點(diǎn)。緊接著對(duì)取樣鑒相的原理，取樣鑒相器的組成以及性能進(jìn)行了比較詳細(xì)的論述。最后詳細(xì)敘述了本課題中DRO和取樣鑒相電路的設(shè)計(jì)、仿真和調(diào)試，對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了細(xì)致的分析并給出了結(jié)論。最后對(duì)結(jié)果和設(shè)計(jì)中不足之處提出改進(jìn)