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文檔簡介
1、差分/交流耦合技術(shù)在高速數(shù)字信號通道中的廣泛應(yīng)用,給傳統(tǒng)上基于邊界掃描技術(shù)的互連測試帶來了困難。在此背景下,2003年 IEEE委員會推出了 IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn),為上述難題提供了解決方案。本文正是以此標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ),著重探討了差分/交流耦合信號通道的特點及其互連測試解決方案的可行性問題。
文中介紹了IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)制訂的交流外測試規(guī)范,對交流耦合信號通道的衰減特性及可能發(fā)生的各種故障進行了仿真。同時,為了測試驗證的需
2、要,設(shè)計了兼容IEEE1149.1、IEEE1149.4和IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)的測試控制器、調(diào)試軟件、微機接口電路以及DEMO板,并以控制器為核心組建了一套邊界掃描測試系統(tǒng)。測試實踐表明,新標(biāo)準(zhǔn)制定的高速數(shù)字交流耦合、差分互連專用測試指令與測試結(jié)構(gòu)是有效的;同時,測試控制器對IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)和IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)是兼容的。整個驗證過程中,控制器工作穩(wěn)定,運行效率高,用其組建的測試系統(tǒng)基本達到了實用化程度。從國內(nèi)外的報道和
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