SRAM型FPGA SEU故障注入系統(tǒng)設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著電子工業(yè)的飛速發(fā)展,FPGA由于兼顧高性能及靈活性在數(shù)字系統(tǒng)設計及ASIC原型前端設計中得到廣泛的應用。在空間領域,傳統(tǒng)的反熔絲FPGA由于不可重復編程以及成本高昂等原因逐漸被SRAM型FPGA所代替。但SRAM型FPGA天生對單粒子的敏感性限制了其本身的應用,如何對SRAM型FPGA的單粒子效應進行評估以及抗輻射加固成為一個熱點研究。
　　在研究SRAM型FPGA的配置存儲器結構及配置結構的基礎上,發(fā)現(xiàn)對FPGA配置文件中的

2、幀數(shù)據(jù)進行0/1翻轉可以實現(xiàn)配置存儲器的人為翻轉,從而來仿真FPGA的SEU效應,這就為SRAM型FPGA的故障注入提供了理論基礎。本文基于此設計了一個對SRAM型FPGA的故障注入系統(tǒng)。
　　本文設計的故障注入系統(tǒng)是基于部分重構技術實現(xiàn)的,充分利用Xilinx公司開發(fā)工具EDK的支持。硬件部分包含Power PC處理器、外部存儲器、ICAP、測試電路IP核,其中ICAP是FPGA的內部端口,可以直接對配置存儲器進行讀寫操作。軟件

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