邊界掃描測(cè)試全自動(dòng)化的應(yīng)用研究.pdf

1、隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的測(cè)試方法已經(jīng)很難對(duì)復(fù)雜電路進(jìn)行高速有效的測(cè)試，而邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法，它提供了對(duì)電路板上元件的功能、互連及相互間影響進(jìn)行測(cè)試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測(cè)試。
　　 邊界掃描技術(shù)通過(guò)在芯片的每個(gè)I/O引腳附加一個(gè)邊界掃描單元實(shí)現(xiàn)對(duì)電路板上器件焊接故障和板內(nèi)連接故障的測(cè)試。本文通過(guò)對(duì)邊界掃描測(cè)試原理和理論的學(xué)習(xí)研究，以PC機(jī)為基礎(chǔ)，通過(guò)USB2.0接口

2、，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)PC機(jī)與邊界掃描控制器互連，具備高速數(shù)據(jù)通信、全自動(dòng)化測(cè)試等特性的電路板故障診斷平臺(tái)。
　　 本文從硬件、軟件兩方面考慮，提出了一個(gè)良好的測(cè)試控制器設(shè)計(jì)方案，以更有效的提高邊界掃描測(cè)試自動(dòng)化速度。在硬件方面，將控制器設(shè)計(jì)為四個(gè)功能模塊，分別為USB接口單元、控制和轉(zhuǎn)換器單元、雙端口存儲(chǔ)器單元、TAP接口單元。在軟件方面，最重要的是USB驅(qū)動(dòng)相關(guān)設(shè)計(jì)，因?yàn)閁SB關(guān)系著PC機(jī)與控制器之間直接的數(shù)據(jù)傳送聯(lián)系，但是由于我們?cè)谟?/p>

3、件選型時(shí)選擇了Cypress半導(dǎo)體公司的EZ-USB系列芯片，其提供的相關(guān)框架大大簡(jiǎn)化了我們的程序設(shè)計(jì)。另外，針對(duì)目前人們最為關(guān)注的互連測(cè)試矢量生成算法，提出了一種改進(jìn)的互連測(cè)試抗誤判算法，并給出了其相應(yīng)的證明、分析與編程實(shí)現(xiàn)，該算法能同時(shí)消除線(xiàn)與(W-A)短路故障和線(xiàn)或(W-O)短路故障的誤判現(xiàn)象，且緊湊性指標(biāo)比同類(lèi)其它算法要優(yōu)。
　　 通過(guò)軟硬件結(jié)合設(shè)計(jì)，配合改進(jìn)的測(cè)試矢量生成算法，大大提高了邊界掃描控制器的測(cè)試自動(dòng)化程度。