電子信息克隆分析技術(shù)及電子裝備網(wǎng)絡(luò)醫(yī)院——EENH的研究.pdf

1、目前，高科技電子裝備日益增多、工作原理越來越復(fù)雜導(dǎo)致維修保障任務(wù)繁重。傳統(tǒng)的人工故障診斷方法和電子裝備內(nèi)部自檢測(cè)系統(tǒng)都會(huì)造成對(duì)故障誤診和漏診。在電子裝備維修保障過程中，故障的診斷和排除主要靠維修保障經(jīng)驗(yàn)專家知識(shí)庫來推斷。這種靠經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行故障診斷的方法，如果可參考的經(jīng)驗(yàn)不足將直接導(dǎo)致誤判斷的增加。因此，探索電子裝備故障診斷新技術(shù)，并在新技術(shù)應(yīng)用的過程中，完善電子裝備維修保障經(jīng)驗(yàn)專家知識(shí)庫是電子裝備維修保障過程中迫切要解決的問題。
　　

2、本文將“克隆”引入了裝備維修保障中，將電子裝備的軟硬件技術(shù)資料復(fù)制出來，并對(duì)其進(jìn)行分析、轉(zhuǎn)換，編譯成可測(cè)試診斷程序，提出了電子信息克隆分析技術(shù)。并研究和實(shí)現(xiàn)了可見光電子信息克隆分析技術(shù)、CT克隆分析兩項(xiàng)電子信息克隆分析技術(shù)。將電子信息克隆分析技術(shù)應(yīng)用到電路板故障診斷中，實(shí)現(xiàn)快速、精準(zhǔn)的定位故障最小單元。并基于電子信息克隆分析技術(shù)構(gòu)建了電子裝備網(wǎng)絡(luò)醫(yī)院—EENH系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)電子裝備故障遠(yuǎn)程檢測(cè)和診斷，建立了故障診斷專家知識(shí)庫。