自動化快速測試方案的研究和應(yīng)用.pdf

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展和電子領(lǐng)域新技術(shù)的不斷出現(xiàn)，大規(guī)模集成電路的集成度不斷提高，功能日趨復(fù)雜，工作頻率不斷提高，在同一片芯片中所集成的晶體管數(shù)目不斷上升，因此在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)缺陷的可能性也不斷增大。為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，測試在半導(dǎo)體工業(yè)中扮演的角色越發(fā)的重要。同時也就需要更多的測試項來篩選器件和檢測功能。而這種趨勢的結(jié)果就是導(dǎo)致測試程序的大小迅速增加，最終延長了測試時間以及增加了測試成本。在產(chǎn)品的最終成本中，最普遍的邏輯電路為例，測試

2、成本已經(jīng)達到15％-25％。一些門類的產(chǎn)品，測試成本已經(jīng)成為產(chǎn)品最終成本的主體。因此，測試成本的降低已經(jīng)非常迫切地放在測試服務(wù)者面前。
　　 目前有許多測試方案致力于解決這一問題，其中一種方法是基于統(tǒng)計的手段，減少沒有影響的測試項目。而本文就是在這種方法的基礎(chǔ)提出了一種具體的解決方案，該方案運用計算機技術(shù)，使得整個系統(tǒng)全面自動化，能夠根據(jù)歷史數(shù)據(jù)分析出哪些測試項很少失敗繼而自動跳過這些測試項，同時又符合質(zhì)量規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，從而達到減少

3、測試時間并降低測試成本的目的。
　　 本文首先從探討應(yīng)用自動化快速測試方案的需求開始，分析了自動化快速測試方案的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和工作原理，以及如何對收集到的測試數(shù)據(jù)進行分析并保存，分析系統(tǒng)及時分析測試數(shù)據(jù)并反饋信息到測試平臺，同時測試程序也必須進行更改以便與分析系統(tǒng)進行合作，產(chǎn)品工程師還可以通過網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控手段來查看歷史數(shù)據(jù)和目前狀態(tài)。本文還論述了統(tǒng)計方法和質(zhì)量控制方法在系統(tǒng)中的作用以及該方案如何在探針測試中應(yīng)用。最后本文還討論了目前自動