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1、中子照相是射線無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的一種,與已被廣泛應(yīng)用的X射線照相相似,都是利用射線穿過(guò)被檢測(cè)物時(shí),其強(qiáng)度發(fā)生衰減變化而獲得物體內(nèi)部特征及其缺陷信息的圖像。中子照相技術(shù)已較為廣泛的應(yīng)用于飛機(jī)(機(jī)翼、油箱、發(fā)動(dòng)機(jī)等)、航天飛行器元件、火工品、電子線路、冶金部件、有機(jī)粘合件、核燃料組件的無(wú)損檢測(cè)和氫化物的檢測(cè)。并已制訂了較為完善的中子照相技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。 中子照相與X射線照相相比有X射線照相不可替代的優(yōu)點(diǎn)。中子不帶電,它主要與原子核發(fā)生作用,其
2、吸收系數(shù)隨原子序數(shù)的變化很不規(guī)則,如氫(H)、鋰(Li)、硼(B)等輕元素和少數(shù)重元素對(duì)中子有很大的吸收系數(shù),大部分重元素對(duì)中子有較小的吸收系數(shù),因此,利用中子照相可檢測(cè)輕元素物質(zhì)或被重元素物質(zhì)包裹著的輕元素物質(zhì)中的缺陷(如密度分布、縫隙、斷痕、氣泡等)。 MonteCarlo方法能夠逼真地描述隨機(jī)事件并模擬實(shí)驗(yàn)過(guò)程,特別適用于其本身就具有隨機(jī)性的粒子輸運(yùn)問(wèn)題的計(jì)算,該方法已被廣泛地應(yīng)用到了包括中子探測(cè)的各種核實(shí)驗(yàn)的模擬。MCN
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