基于PCI總線的激光粒度測(cè)量系統(tǒng)的研究.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，近年來(lái)粒度測(cè)量已經(jīng)涉及到國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各行各業(yè)，在國(guó)民經(jīng)濟(jì)的許多部門，如石化、石油、冶金、建材、消防、陶瓷、制藥、水泥、涂料、軍工等行業(yè)中都越來(lái)越多的出現(xiàn)了與細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問(wèn)題，其中顆粒粒徑大小及分布的測(cè)量是非常重要的一個(gè)方面。利用激光散射原理結(jié)合光學(xué)、電子學(xué)、計(jì)算機(jī)技術(shù)等，就形成了可操作的測(cè)量粒度分布的方法。 目前天津大學(xué)研制的激光粒度儀采用ISA總線接口卡采集粒度數(shù)據(jù)。但是，由于ISA總線的傳輸速度和

2、數(shù)據(jù)寬度的限制，ISA總線標(biāo)準(zhǔn)正在逐漸退出市場(chǎng)，因此要尋求一種替代的總線接口方案。經(jīng)過(guò)對(duì)比和論證，決定采用PCI總線接口解決激光粒度測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集與傳輸問(wèn)題。 本系統(tǒng)采用專用接口芯片S5933與CPLD相結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)PCI總線接口卡的設(shè)計(jì)，充分利用了PCI總線的高性能、高可靠性等特點(diǎn)，為激光粒度測(cè)量數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)采集、顯示、處理提供了可靠的保證。 本論文的主要工作：一、在充分了解CPLD、S5933等器件的知識(shí)基礎(chǔ)上，